[發明專利]空間目標白天高分辨率光電成像探測系統有效
| 申請號: | 201210134975.4 | 申請日: | 2012-05-03 |
| 公開(公告)號: | CN102662178A | 公開(公告)日: | 2012-09-12 |
| 發明(設計)人: | 王建立;王斌;劉瑩奇;汪宗洋;趙金宇 | 申請(專利權)人: | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號: | G01S17/89 | 分類號: | G01S17/89;G01S7/495;G01J9/00;G02B23/00 |
| 代理公司: | 長春菁華專利商標代理事務所 22210 | 代理人: | 南小平 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 空間 目標 白天 高分辨率 光電 成像 探測 系統 | ||
1.空間目標白天高分辨率光電成像探測系統,其特征在于,該系統包括光學系統和位相差異高分辨率圖像處理單元兩部分,所述的光學系統包括主鏡(6)、次鏡(5)、三鏡(8)、視場光闌(10)、折轉反射鏡(11)、準直鏡組(12)、快反鏡(15)、里奧光闌(16)、分色片(17)、精跟蹤成像鏡組(18)、精跟蹤探測器(19)、變焦距鏡組(20)、分光棱鏡(22)、在焦探測器(23)以及離焦探測器(24);
目標光束依次經過主鏡(6)、次鏡(5)以及三鏡(8),到達視場光闌(10)后,再經折轉反射鏡(11)進入準直鏡組(12),經過快反鏡(15),到達里奧光闌(16),到達里奧光闌(16)的光經分色片(17)分成兩束光束,一束透射進入精跟蹤成像鏡組(18),最后進入精跟蹤探測器(19);另一束光經分色片(17)反射到達變焦距鏡組(20),進入分光棱鏡(22),從分光棱鏡(22)反射的光進入離焦探測器(24),從分光棱鏡(22)透射的光進入在焦探測器(23),在焦探測器(23)與離焦探測器(24)同時采集目標光束在焦面和離焦面的圖像數據,位相差異高分辨率圖像處理單元在基于位相差異散斑法的基礎上,對所采集目標光束圖像數據進行處理,最終恢復受白天強湍流大氣污染的空間目標圖像和解算波前相位分布。
2.根據權利要求1所述的空間目標白天高分辨率光電成像探測系統,其特征在于,所述的光學系統還包括次鏡遮光罩(4)、三鏡遮光罩(7)、外遮光罩(2)、鏡筒遮光罩(9)以及擋光環(3),所述的鏡筒遮光罩(9)位于鏡筒外部,所述的外遮光罩(2)位于鏡筒遮光罩(9)的前端,所述的次鏡遮光罩(4)、三鏡遮光罩(7)依次位于次鏡(5)、三鏡(8)的外部,所述的擋光環(3)位于外遮光罩(2)和鏡筒遮光罩內部,所述的擋光環(3)在外遮光罩(2)內部楔角朝里,在鏡筒遮光罩(9)內部楔角朝外。
3.根據權利要求1所述的空間目標白天高分辨率光電成像探測系統,其特征在于,所述的光學系統還包括偏振片(13)、大氣色散校正鏡(14)和輪式濾光片(21),偏振片(13)、大氣色散校正鏡(14)和輪式濾光片(21)組合提高系統白天探測空間目標的信噪比。
4.根據權利要求1所述的空間目標白天高分辨率光電成像探測系統,其特征在于,主鏡(6)與里奧光闌(16)為共軛成像關系。
5.根據權利要求1或2所述的空間目標白天高分辨率光電成像探測系統,其特征在于,視場光闌(10)和里奧光闌(16)的孔徑大小可調。
6.根據權利要求1或2所述的空間目標白天高分辨率光電成像探測系統,其特征在于,變焦距鏡組(20)為四檔切換式。
7.根據權利要求1或2所述的空間目標白天高分辨率光電成像探測系統,其特征在于,精跟蹤探測器(19)、在焦探測器(23)和離焦探測器(24)工作在近紅外波段。
8.根據權利要求1或2所述的空間目標白天高分辨率光電成像探測系統,其特征在于,所述的在焦探測器(23)與離焦探測器(24)都是外觸發模式的EMCCD相機。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院長春光學精密機械與物理研究所,未經中國科學院長春光學精密機械與物理研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210134975.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:元數據查詢方法和裝置
- 下一篇:X波段多普勒雷達降水估測方法





