[發明專利]有源天線系統下行、上行無線指標的測試方法及裝置

有效

• 申請號: 201210134494.3
• 申請日: 2012-05-03
• 公開（公告）號: CN102684800A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發明（設計）人: 雷龍剛;王鵬;王博明;李香玲
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛;梁麗超

1.一種有源天線系統下行無線指標的測試方法，其特征在于，所述方法在吸波暗室或者無信號干擾空間中進行，包括：

獲取所述吸波暗室或者無信號干擾空間的校準參數；

將有源天線系統配置為向接收天線發射無線波束，其中，所述無線波束由來自于所述吸波暗室或者無信號干擾空間外的基帶處理單元的基帶信號觸發產生并經由所述接收天線傳至所述吸波暗室或者無信號干擾空間外的測試儀表；

啟動所述基帶處理單元和所述有源天線系統，并根據所述校準參數對調整后的有源天線系統進行無線指標測試。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在啟動所述基帶處理單元和所述有源天線系統之前，還包括：

調整所述有源天線系統與所述接收天線使所述接收天線的接收功率為最大或最小。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，獲取所述吸波暗室或者無信號干擾空間的校準參數，包括：

在所述吸波暗室或者無信號干擾空間內設置第一基準發射天線和第一接收天線，其中，所述第一基準發射天線與所述吸波暗室或者無信號干擾空間外的第一信號源相連接，所述第一接收天線與所述吸波暗室或者無信號干擾空間外的測試儀表相連接；

調整所述第一基準發射天線和所述第一接收天線使所述第一基準發射天線和所述第一接收天線正向對準；

啟動所述信號源，所述信號源經由所述第一基準發射天線和所述第一接收天線向所述測試儀表發送校準測試信號；

所述測試儀表根據所述校準測試信號獲取所述校準參數。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述無線指標包括以下至少之一：

射頻指標、空間輻射場指標。

5.根據權利要求1至4任一項所述的方法，其特征在于，根據所述校準參數對調整后的有源天線系統進行無線指標測試，包括：

根據所述校準參數獲取有效全向輻射功率測試值；

根據獲取的所述有效全向輻射功率測試值獲取進行各項無線指標測試的測試結果。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，通過以下公式獲取有效全向輻射功率測試值：

EIRP＝Pg+ΔPc，其中，EIRP為所述有效全向輻射功率測試值，Pg為測試儀表測得的功率值，ΔPc為所述校準參數。

7.一種有源天線系統上行無線指標的測試方法，其特征在于，所述方法在吸波暗室或者無信號干擾空間中進行，包括：

獲取所述吸波暗室或者無信號干擾空間的校準參數；

將有源天線系統配置為接收來自于發射天線的無線波束，其中，所述無線波束來自于所述吸波暗室或者無信號干擾空間外的信號源并經由所述有源天線系統傳至所述吸波暗室或者無信號干擾空間外的基帶處理單元；

啟動所述基帶處理單元和所述有源天線系統，根據所述校準參數對調整后的有源天線系統進行無線指標測試。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，在啟動所述基帶處理單元和所述有源天線系統之前，還包括：

調整所述有源天線系統與所述發射天線使所述有源天線系統的接收功率為最大或最小。

9.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，獲取所述吸波暗室或者無信號干擾空間的校準參數，包括：

在所述吸波暗室或者無信號干擾空間內設置第二基準發射天線和第二接收天線，其中，所述第二基準發射天線與所述吸波暗室或者無信號干擾空間外的第二信號源相連接，所述第二接收天線與所述吸波暗室或者無信號干擾空間外的測試儀表相連接；

調整所述第二基準發射天線和所述第二接收天線使所述第二基準發射天線和所述第二接收天線正向對準；

啟動所述信號源，所述信號源經由所述第二基準發射天線和所述第二接收天線向所述測試儀表發送校準測試信號；

所述測試儀表根據所述校準測試信號獲取所述校準參數。

10.根據權利要求7至9任一項所述的方法，其特征在于，根據所述校準參數對調整后的有源天線系統進行無線指標測試，包括：

根據所述校準參數獲取等效全向接收靈敏度的測試值；

根據獲取的所述測試值獲取進行各項無線指標測試的測試結果。