[發(fā)明專利]線性度測(cè)試裝置及方法

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210134006.9
• 申請(qǐng)日: 2012-05-03
• 公開（公告）號(hào): CN103383600A
• 公開（公告）日: 2013-11-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊志沅
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 楊志沅
• 主分類號(hào): G06F3/041
• 分類號(hào): G06F3/041;G01R31/00
• 代理公司: 北京華夏博通專利事務(wù)所(普通合伙) 11264
• 代理人: 劉俊

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明是屬于一種線性度測(cè)試裝置及方法，特別是屬于一種利用算法來計(jì)算移動(dòng)軌跡的回報(bào)坐標(biāo)與預(yù)設(shè)坐標(biāo)誤差值的線性度測(cè)試裝置及方法。

背景技術(shù)

隨著科技的快速進(jìn)步，目前各種輕量化與小型化的電子產(chǎn)品不斷地推陳出新，特別是智能型電子裝置，如智能型手機(jī)、平板電腦，有別于過往的電子裝置，智能型電子裝置最大賣點(diǎn)便是透過觸控進(jìn)行電話撥打、公事、娛樂等各式五花八門的功能，且為符合多樣性的需求，除了傳統(tǒng)單點(diǎn)觸控外，現(xiàn)今更發(fā)展出多點(diǎn)觸控的控制方式，所謂多點(diǎn)觸控(Multi-touch)意即使用者可透過數(shù)只手指達(dá)成圖像應(yīng)用控制的輸入技術(shù)。

要使用多點(diǎn)觸控技術(shù)，除需裝配觸控面板外，還需裝載可辨認(rèn)多點(diǎn)同時(shí)觸控的軟件，其與一般觸控技術(shù)最大的差別為一般觸控技術(shù)僅能辨認(rèn)單點(diǎn)觸控。由于多點(diǎn)觸控技術(shù)對(duì)于觸控面板的質(zhì)量有著嚴(yán)格的要求，為了支持多點(diǎn)觸控技術(shù)，觸控面板廠商必需在面板技術(shù)上做大幅度的提升。

影響觸控面板線性度的問題，多年來不僅困擾國(guó)內(nèi)制造廠商，就連研發(fā)觸控面板多年的美國(guó)、日本業(yè)者對(duì)此問題也積極尋求解決方法。從早期的CRT顯示器，其正面為球狀圓弧形，因此，此種觸控面板只能加裝控制電路板，以手工仿真目視檢驗(yàn)直線性(Linearity)誤差率。一直到近幾年薄膜晶體管(TFT-LCD)的平面顯示器普及化，觸控面板也逐漸以平面型為主流規(guī)格。然而，觸控面板的直線性仍無法做到精確的誤差率。以目前設(shè)備廠商提供的觸控面板直線性測(cè)試機(jī)臺(tái)來說，其功能及測(cè)試結(jié)果差異非常大，電腦硬件功能及軟件程序若未能搭配得宜，將使得觸控面板廠商所生產(chǎn)交貨的商品常超出規(guī)格公差。觸控面板若無法達(dá)到此項(xiàng)重要規(guī)格要求，則使用于智能型手機(jī)、平板電腦、電子書等產(chǎn)品的手寫辨識(shí)率將大幅降低。一般觸控面板觸控筆的書寫動(dòng)態(tài)壓力，會(huì)隨著筆畫起落輕重，而影響觸控面板透明導(dǎo)電膜(ITO)的導(dǎo)電阻抗接觸及書寫流暢度，若加大書寫壓力則又容易造成觸控面板表面容易刮傷，而使內(nèi)層ITO導(dǎo)電膜壽命減短。因此，線性度測(cè)試在產(chǎn)品開發(fā)階段時(shí)就需完整測(cè)試，如此才能在大量生產(chǎn)時(shí)，維持質(zhì)量的穩(wěn)定與良率。

有鑒于此，為了更精確衡量觸控面板的誤差值，以準(zhǔn)確測(cè)試各面板的線性度，一種具備良好線性度測(cè)試的裝置及方法，乃是業(yè)界所極力企求的。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的在于提供一種線性度測(cè)試裝置，依據(jù)算法作誤差值計(jì)算，以進(jìn)行移動(dòng)軌跡的線性度測(cè)試。

為了達(dá)成上述目的，本發(fā)明提供一種線性度測(cè)試裝置，包含受控模塊及控制模塊。受控模塊因應(yīng)控制訊號(hào)，以依據(jù)預(yù)設(shè)坐標(biāo)于待測(cè)物上產(chǎn)生移動(dòng)軌跡，讀取移動(dòng)軌跡所回報(bào)的坐標(biāo)，并依回報(bào)坐標(biāo)產(chǎn)生回授訊號(hào)。控制模塊，因應(yīng)回授訊號(hào)，并透過勾股定理或法線定理算法比較回授訊號(hào)與控制訊號(hào)，用以計(jì)算移動(dòng)軌跡的回報(bào)坐標(biāo)與預(yù)定坐標(biāo)的誤差值，以進(jìn)行移動(dòng)軌跡線性度的測(cè)試。

本發(fā)明的另一目的在于提供一種線性度測(cè)試方法，為依據(jù)算法進(jìn)行誤差值的計(jì)算，以判斷移動(dòng)軌跡是否符合線性度的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

為了達(dá)成上述另一目的，本發(fā)明提供一種線性度測(cè)試方法，包含步驟：規(guī)劃移動(dòng)軌跡，及/或設(shè)定移動(dòng)軌跡的誤差值范圍及距離量測(cè)方式，以及/或因應(yīng)所設(shè)定的距離量測(cè)方式，依據(jù)勾股定理或法線定理算法計(jì)算移動(dòng)軌跡的回報(bào)坐標(biāo)與預(yù)設(shè)坐標(biāo)的誤差值，若誤差值介于誤差值范圍內(nèi)，則移動(dòng)軌跡符合線性度的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的一實(shí)施例，是為線性度測(cè)試裝置的示意圖；

圖2為電腦屏幕上所顯示的使用者介面的示意圖；

圖3為本發(fā)明的另一實(shí)施例，是為線性度測(cè)試方法的流程圖；以及

圖4為使用者介面的示意圖。

主要組件符號(hào)說明

1線性度測(cè)試裝置??????11xy軸平臺(tái)

12電腦???????????????101觸控面板

102測(cè)試端頭??????????1001移動(dòng)軌跡

103回授訊號(hào)??????????104控制訊號(hào)

2使用者介面??????????201誤差值范圍欄

202距離量測(cè)欄????????203移動(dòng)軌跡規(guī)劃?rùn)?/p>

204荷重設(shè)定欄????????205測(cè)試坐標(biāo)顯示欄

3線性度測(cè)試方法??????301、303、305步驟

4使用者介面??????????401誤差值范圍欄

402距離量測(cè)欄????????403移動(dòng)軌跡規(guī)劃?rùn)?/p>

405測(cè)試坐標(biāo)顯示欄

具體實(shí)施方式