[發明專利]正電子發射斷層掃描儀及其中的符合判選方法

有效

• 申請號: 201210133393.4
• 申請日: 2012-04-28
• 公開（公告）號: CN102631212A
• 公開（公告）日: 2012-08-15
• 發明（設計）人: 豐寶桐;魏書軍;魏龍;馬創新;李可;胡婷婷;孫蕓華;王培林;李曉輝;燕新強;胡選侯;杜垚垚;李國仁
• 申請（專利權）人: 中國科學院高能物理研究所
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03
• 代理公司: 北京市惠誠律師事務所 11353
• 代理人: 雷志剛;潘士霖

1.一種正電子發射斷層掃描儀中的符合判選方法，所述正電子發射斷層掃描儀包括多個探測器，用于探測正電子核湮沒所產生的γ光子，其特征在于，所述符合判選方法包括：

獲取各所述探測器的事例信息，各所述事例信息包括對應的探測器探測γ光子的時間信息、對應的探測器的位置信息和對應的探測器的能量信息；

將各所述事例信息按照其時間信息順序存儲在對應的存儲空間中，并將各所述事例信息的時間信息作為對應的存儲空間的地址信息，其中相鄰時間信息之間具有固定的值差；

根據各所述存儲空間中的事例信息獲取多個標志信息，并將獲取的標志信息存儲至對應各所述時間信息的多個標志寄存器中，各所述標志信息表示在對應的時間信息所探測到γ光子的次數；

根據各所述標志信息獲取判選信息，并將獲取的判選信息存儲在對應各時間信息的多個判選寄存器中，各所述判選信息代表從對應的時間信息開始，在預設符合時間窗內探測到γ光子的次數；

對各所述判選信息按照對應的時間信息進行排序；

利用N個序列檢查特征對排序后的判選信息依次進行檢查，以確定發生的符合事例所對應的存儲空間，所述符合事例是指在所述預設符合時間內有且只有兩次探測到γ光子，其中“N”為所述符合時間窗中所包含的時間信息的個數，所述N個序列檢查特征分別為：所述符合事例中的兩個單事例的時間間隔為0、1......N-1的情況下在排序后的所述判選信息中的分布特征；及

輸出發生的符合事例所對應的存儲空間中的事例信息。

2.如權利要求1所述的正電子發射斷層掃描儀中的符合判選方法，其特征在于，各所述事例信息用預設位寬的二進制數值表示，各所述標志信息為2比特數據，其中，當各所述標志信息為“00”、“01”、“10”或“11”時，代表在對應的時間信息“沒有探測到γ光子”、“一次探測到γ光子”“兩次探測到γ光子”或“超過兩次探測到γ光子”。

3.如權利要求2所述的正電子發射斷層掃描儀中的符合判選方法，其特征在于，各所述判選信息為2比特數據，其中，各所述判選信息為從對應的標志寄存器開始連續N個標志寄存器的值相加后的最低兩位數據。

4.如權利要求1-3任一項所述的正電子發射斷層掃描儀中的符合判選方法，其特征在于，

所述符合事例中的兩個單事例的時間間隔為n個單位時間間隔時在排序后的判選信息中的序列檢查特征為：連續N+n個值不為“00”和“11”的數據中，具有2n個值為“01”的數據以及連續N-n個值為“10”的數據，其中，2n個值為“01”的數據對稱分布在連續N-n個值為“10”的數據的兩側，n為大于或等于0且小于或等于N-1的任一整數。

5.如權利要求1-3任一項所述的正電子發射斷層掃描儀中的符合判選方法，其特征在于，利用所述N個序列檢查特征對排序后的判選信息依次進行檢查是通過并行處理的方式進行的。

6.如權利要求1-3任一項所述的正電子發射斷層掃描儀中的符合判選方法，其特征在于，各所述事例信息存儲在雙口隨即存取存儲器的存儲空間中，各所述事例信息的時間信息為所述雙口隨即存取存儲器的地址，所述雙口隨即存取存儲器的每個地址上存儲兩個時間信息相同的事例信息。