[發明專利]一種半導體一次閉管擴散方法無效
| 申請號: | 201210132756.2 | 申請日: | 2012-04-28 |
| 公開(公告)號: | CN102709161A | 公開(公告)日: | 2012-10-03 |
| 發明(設計)人: | 趙巍巍;高軍;孫鳳軍;張金宇 | 申請(專利權)人: | 鞍山市聯達電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/22 | 分類號: | H01L21/22 |
| 代理公司: | 鞍山嘉訊科技專利事務所 21224 | 代理人: | 張群 |
| 地址: | 114000 遼*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 半導體 一次 擴散 方法 | ||
1.一種半導體一次閉管擴散方法,其特征在于,包括硅片清洗、閉管清洗、裝管和閉管封閉,其具體操作步驟如下:
一)硅片清洗操作如下:
1)將硅片在清洗液一中超聲清洗30-35分鐘,清洗液一中DZ-1電子清洗劑與去離水的體積比為5∶95,超聲波頻率在2-5MHz范圍內,然后用去離子水沖洗25遍;
2)將硅片在清洗液二中超聲清洗30分鐘,所述清洗液二中HF與去離子水的體積比為1∶100,然后用去離子水沖洗20遍;
3)再將硅片放入1#清洗液中,1#清洗液的組分體積比是,氨水∶過氧化氫∶去離子水=1∶2∶20,煮沸5-10分鐘,然后去離子水沖洗20-25遍,然后再換上新的1#清洗液重煮一遍,最后用冷、熱、冷去離子水各沖洗25-30遍;
4)再將硅片放入2#清洗液中,2#清洗液的組分體積比是,鹽酸∶過氧化氫∶去離子水=1∶2∶20,煮沸5-10分鐘,然后去離子水沖洗20-25遍,然后再換上新的2#清洗液重煮一遍,最后用冷、熱、冷去離子水各沖洗30遍,最后將處理好的硅片快速放入快速干燥箱中烘1-1.5小時;
二)閉管清洗操作如下:
將石英閉管先用去污粉擦拭一遍,放入混合酸液中,所述混合酸液的配比是,HF∶HCL∶去離子水=1∶1∶100,將石英閉管浸泡1-1.2小時后取出,用冷、熱、冷去離子水交替沖洗各25-30遍后,放入干燥箱中烘1-1.5小時;
三)裝管:用硝酸鋁液態源浸在硅片表面,硝酸鋁液態源的組分比例為硝酸鋁∶乙醇溶液=2g∶500ml,將硅片分段放在石英閉管內,每段硅片之間均勻放上鍺鎵片,段與段之間的硅片用石英片隔離;
四)閉管封閉:將閉管的一端用氫氧焰密封,另一端抽真空將空氣排凈,真空度不低于0.01Pa,然后再用氫氧焰將閉管另一端封死,檢驗是否漏氣,即可放在真空擴散爐內進行擴散操作。
2.根據權利要求1中所述的一種半導體一次閉管擴散方法,其特征在于,所述去離子水的電阻率不低于15兆歐姆。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
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H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
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