[發明專利]集成厚度可控絕緣層的非接觸電導檢測微芯片制作方法有效
| 申請號: | 201210132614.6 | 申請日: | 2012-05-02 |
| 公開(公告)號: | CN102641759A | 公開(公告)日: | 2012-08-22 |
| 發明(設計)人: | 劉軍山;徐飛;劉沖;徐征;杜立群;王立鼎 | 申請(專利權)人: | 大連理工大學 |
| 主分類號: | B01L3/00 | 分類號: | B01L3/00 |
| 代理公司: | 大連理工大學專利中心 21200 | 代理人: | 關慧貞 |
| 地址: | 116024*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 集成 厚度 可控 絕緣 接觸 電導 檢測 芯片 制作方法 | ||
1.一種集成厚度可控絕緣層的非接觸電導檢測微芯片制作方法,具體制作方法如下:
(1)利用紫外光刻和剝離工藝在玻璃載片上制作出鉑微電極;
(2)利用導電銀漿,在鉑微電極的焊盤上固定上銅導線,加熱烘干;
(3)將PDMS和甲苯均勻混合、排除氣泡后,將其旋涂在步驟(2)得到的玻璃載片上,然后再次加熱烘干;
(4)將步驟(3)得到的玻璃載片和一片利用微澆注制作出的帶有微溝道的PDMS一起放入等離子體清洗機中,進行PDMS的氧氣等離子體表面改性;表面改性結束后,將載片和微溝道片對準、接觸、輕壓后鍵合到一起,得到了非接觸電導檢測微芯片。
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