[發明專利]正電子發射斷層掃描儀及其中的符合判選方法

有效

• 申請號: 201210132047.4
• 申請日: 2012-04-28
• 公開（公告）號: CN102648856A
• 公開（公告）日: 2012-08-29
• 發明（設計）人: 豐寶桐;魏書軍;魏龍;馬創新;李可;胡婷婷;孫蕓華;王培林;李曉輝;燕新強;胡選侯;杜垚垚;李國仁
• 申請（專利權）人: 中國科學院高能物理研究所
• 主分類號: A61B6/02
• 分類號: A61B6/02
• 代理公司: 北京市惠誠律師事務所 11353
• 代理人: 雷志剛;潘士霖

1.一種正電子發射斷層掃描儀中的符合判選方法，所述正電子發射斷層掃描儀包括探測環，所述探測環由多個探測器圍成，所述符合判選方法包括：

對每個探測器與其對面的各個探測器是否為相關探測器進行判斷，并根據各判斷結果獲得相關數據，其中如果兩個探測器所探測的單事例的時間差在符合時間窗以內，則該兩個探測器為相關探測器，其中，任一探測器對面的探測器是指：所述探測環中以該任一探測器為圓心的預定角度的扇形區中的各探測器；以及

根據所述相關數據來判斷兩個相關探測器之間是否唯一相關，并將唯一相關的兩個探測器所探測的單事例判定為符合事例。

2.如權利要求1所述的正電子發射斷層掃描儀中的符合判選方法，其特征在于，在對每個探測器與其對面的各個探測器是否為相關探測器進行判斷以獲得相關數據的步驟中，一個探測器與另一個探測器是否為相關探測器的判斷結果用一比特數據來表示，如果判斷結果為相關探測器，則用該一比特數據的第一值來表示，否則用該一比特數據的第二值來表示。

3.如權利要求2所述的正電子發射斷層掃描儀中的符合判選方法，其特征在于，在所述對每個探測器與其對面的各個探測器是否為相關探測器進行判斷以獲得相關數據的步驟中，用于表示一個探測器與其對面的各個探測器是否為相關探測器的各個判斷結果的數據構成該探測器的相關數據。

4.如權利要求3所述的正電子發射斷層掃描儀中的符合判選方法，其特征在于，所述判斷兩個相關探測器之間是否唯一相關的步驟包括：

判斷所述兩個相關探測器中的第一個相關探測器的相關數據是否只有與所述兩個相關探測器中的第二個相關探測器對應的一比特數據的值為第一值；

如果第一個相關探測器的相關數據中只有與第二個相關探測器對應的一比特數據的值為第一值，則判斷第二個相關探測器的相關數據中是否只有與第一個相關探測器對應的一比特數據的值為第一值，如果第二個相關探測器的相關數據中也只有與第一個相關探測器對應的一比特數據的值為第一值，則判定所述第一個相關探測器和第二個探測器為唯一相關。

5.如權利要求3所述的正電子發射斷層掃描儀中的符合判選方法，其特征在于，在所述對每個探測器與其對面的各個探測器是否為相關探測器進行判斷以獲得相關數據步驟中，

各個探測器的相關數據被分別存儲在對應的寄存器中。

6.如權利要求1-5任一項所述的正電子發射斷層掃描儀中的符合判選方法，其特征在于，任一探測器對面的探測器是指：所述探測環中以該任一探測器為圓心、與所述正電子發射斷層掃描儀的視野范圍相切的兩條線為半徑構成的扇形區中的各探測器。

7.一種正電子發射斷層掃描儀，包括：

探測環，所述探測環由多個探測器圍成；

數據處理板卡，用于對每個探測器與其對面的各個探測器是否為相關探測器進行判斷，根據各判斷結果獲得相關數據，其中如果兩個探測器所探測的單事例的時間差在符合時間窗以內，則該兩個探測器為相關探測器，其中，任一探測器對面的探測器是指以所述探測環中的該探測器為圓心的預定角度的扇形區中的各探測器，所述數據處理板卡還用于判斷兩個相關探測器之間是否唯一相關，并將唯一相關的兩個探測器所探測的單事例判定為符合事例。

8.如權利要求7所述的正電子發射斷層掃描儀，其特征在于，所述數據處理板卡將一個探測器與另一個探測器是否為相關探測器的判斷結果用一比特數據來表示，如果判斷結果為相關探測器，則用該一比特數據的第一值來表示，否則用該一比特數據的第二值來表示。

9.如權利要求7所述的正電子發射斷層掃描儀，其特征在于，在所述數據處理卡中，用于表示一個探測器與其對面的各個探測器是否為相關探測器的各個判斷結果的數據構成該探測器的相關數據。

10.如權利要求9所述的正電子發射斷層掃描儀，其中所述數據處理卡判斷所述兩個相關探測器中的第一個相關探測器的相關數據是否只有與所述兩個相關探測器中的第二個相關探測器對應的一比特數據的值為第一值；如果第一個相關探測器的相關數據中只有與第二個相關探測器對應的一比特數據的值為第一值，則判斷第二個相關探測器的相關數據中是否只有與第一個相關探測器對應的一比特數據的值為第一值，如果第二個相關探測器的相關數據中也只有與第一個相關探測器對應的一比特數據的值為第一值，則判定所述第一個相關探測器和第二個探測器為唯一相關。