[發明專利]激發光偏離共線型光學系統檢測裝置及其檢測方法

無效

• 申請號: 201210128633.1
• 申請日: 2012-04-27
• 公開（公告）號: CN102636473A
• 公開（公告）日: 2012-08-15
• 發明（設計）人: 肖丹;李向堂;楊黎;李婧;袁紅雁
• 申請（專利權）人: 四川大學
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 成都虹橋專利事務所 51124
• 代理人: 蒲敏

1.激發光偏離共線型光學系統檢測裝置，沿光路依次設置激發光路、樣品檢測池和熒光收集光路，其特征在于：所述激發光路發出的激發光與熒光收集光路的角度α為5-50°。

2.如權利要求1所述的激發光偏離共線型光學系統檢測裝置，其特征在于：所述樣品檢測池是微流控芯片(11)、毛細管(17)或比色皿(20)。

3.如權利要求1或2所述的激發光偏離共線型光學系統檢測裝置，其特征在于：所述激發光路包括依次設置的激發光源(5)、衰減片(6)、第一孔光闌(7)、半反半透鏡(8)和透鏡(9)。

4.如權利要求3所述的激發光偏離共線型光學系統檢測裝置，其特征在于：所述激發光源(5)采用半導體泵浦固體激光器或染料激光器。

5.如權利要求3所述的激發光偏離共線型光學系統檢測裝置，其特征在于：所述激發光源(5)發出的激發光經過衰減片(6)和第一孔光闌(7)后，其輸出功率為3-7mW。

6.如權利要求3所述的激發光偏離共線型光學系統檢測裝置，其特征在于：所述激發光源(5)發出的激發光經過衰減片(6)和第一孔光闌(7)后，其直經為50-500μm。

7.如權利要求3所述的激發光偏離共線型光學系統檢測裝置，其特征在于：所述半反半透鏡(8)與水平面之間的角度β為大于15°且小于45°。

8.如權利要求1或2所述的激發光偏離共線型光學系統檢測裝置，其特征在于：所述熒光收集光路沿光路依次設置透鏡(9)、半反半透鏡(8)、高通濾光片(12)、帶通濾光片(13)、第二孔光闌(14)、光電檢測器(15)。

9.如權利要求8所述的激發光偏離共線型光學系統檢測裝置，其特征在于：所述光電檢測器(15)采用光電倍增管、雪崩二極管、CCD或二極管陣列檢測器。

10.權利要求3所述的激發光偏離共線型光學系統檢測裝置的檢測方法，其特征在于：所述激發光源(5)發出的激發光經半反半透鏡(8)反射后，通過透鏡(9)的非中心部位的折射，再經過樣品檢測池的折射，激發光經一系列梯度折射后照射在樣品檢測池的檢測點上，實現待測物質熒光激發，發射的熒光經過透鏡(9)的中心被收集。