[發明專利]測試系統及其對電子裝置進行結構外形設計的方法

無效

• 申請號: 201210128295.1
• 申請日: 2012-04-27
• 公開（公告）號: CN103377126A
• 公開（公告）日: 2013-10-30
• 發明（設計）人: 林圣涵
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種測試系統，更具體地，涉及一種測試系統及其對電子裝置進行結構外形設計的方法。

背景技術

現有的電子裝置，如服務器，都是先通過測試軟件對其硬盤做振動測試，根據測試結果來設計服務器的結構外形，做出服務器的樣品來，同時根據服務器樣品做硬盤振動測試分析出硬盤的性能，當硬盤的性能與客戶定義的硬盤性能比較相差較遠時，服務器設計人員需花大量的時間去改變服務器的結構外形，且需重新打樣，再次根據改變的服務器樣品去驗證是否符合客戶的要求，因此，大大浪費了設計人員的時間和提高了服務器的開發費用。

發明內容

為了解決上述存在的問題，本發明的目的在于，提供一種測試系統，其用于對包括一硬盤的電子裝置做測試，該測試系統包括：一存儲單元，其存儲有一標準振動能量頻譜圖和客戶定義的硬盤性能要求；及一控制單元，其包括：一模擬分析模塊，用于對設計的電子裝置的結構外形進行有限元模擬分析，輸出硬盤的振動能量頻譜圖；一判斷模塊，用于判斷該輸出的振動能量頻譜圖與存儲的標準振動能量頻譜圖是否相似；一頻率點分析模塊，用于當該輸出的振動能量頻譜圖與存儲的標準振動能量頻譜圖不相似時，獲取兩頻譜圖中振動能量相差較大的頻率點及分析所述頻率點；一外形設計模塊，用于根據頻率點分析模塊對所述頻率點的分析情況重新設計電子裝置的結構外形。

該控制單元還包括：一樣品提示模塊，用于當該輸出的振動能量頻譜圖與存儲的標準振動能量頻譜圖相似時，提示用戶進行電子裝置樣品制作；一性能獲取模塊，用于根據用戶制作的電子裝置樣品對該樣品做硬盤的振動測試分析獲取硬盤的性能，該判斷模塊還用于判斷獲取的硬盤性能與客戶定義的硬盤性能要求是否相符；及一修改模塊，用于當獲取的硬盤性能與客戶定義的硬盤性能要求不相符時，修改樣品的結構外形并將該修改后的結構外形發送至模擬分析模塊進行分析；當獲取的硬盤性能與客戶定義的硬盤性能要求相符時，該樣品提示模塊還用于提示用戶按該制作的樣品的結構外形進行批量生產。

一種測試系統對電子裝置進行結構外形設計的方法，該測試系統存儲有一標準振動能量頻譜圖和客戶定義的硬盤性能要求，該電子裝置包括一硬盤，該方法包括如下步驟：對設計的電子裝置的結構外形進行有限元模擬分析，輸出硬盤的振動能量頻譜圖；判斷該輸出的振動能量頻譜圖與存儲的標準振動能量頻譜圖是否相似；如果該輸出的振動能量頻譜圖與存儲的標準振動能量頻譜圖不相似，獲取兩頻譜圖中振動能量相差較大的頻率點及分析所述頻率點；根據頻率點分析模塊對所述頻率點的分析情況重新設計電子裝置的結構外形；如果該輸出的振動能量頻譜圖與存儲的標準振動能量頻譜圖相似，提示用戶進行電子裝置樣品制作，根據用戶制作的電子裝置樣品對該樣品做硬盤的振動測試分析獲取硬盤的性能；判斷獲取的硬盤性能與客戶定義的硬盤性能要求是否相符；如果獲取的硬盤性能與客戶定義的硬盤性能要求不相符，修改樣品的結構外形并將該修改后的結構外形進行有限元模擬分析；及如果獲取的硬盤性能與客戶定義的硬盤性能要求相符，提示用戶按該制作的樣品的結構外形進行批量生產。

本發明一種測試系統及其對電子裝置進行結構外形設計的方法，該測試系統先對電子裝置的結構外形進行模擬分析，得出硬盤的振動能量頻譜圖，若該輸出的振動能量頻譜圖與標準的頻譜圖相似，才會做出電子裝置的樣品來，此刻做出的電子裝置樣品已經可能滿足客戶的要求或者僅僅修要對樣品進行較小的修改就能滿足客戶的要求，而無需重復多次做樣品，從而大大節省了設計人員的時間和降低了電子裝置的開發費用。

附圖說明

圖1是本發明一測試系統連接電子裝置的硬件結構示意圖。

圖2是圖1的測試系統的控制單元的硬件結構示意圖。

圖3是圖1的測試系統對電子裝置進行結構外形設計的方法流程圖。

主要元件符號說明