[發明專利]一種分光光度計測試誤差補償的方法

無效

• 申請號: 201210127766.7
• 申請日: 2012-04-27
• 公開（公告）號: CN102636445A
• 公開（公告）日: 2012-08-15
• 發明（設計）人: 楊含沙;黃躍龍;周剛
• 申請（專利權）人: 保定天威薄膜光伏有限公司
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31
• 代理公司: 唐山順誠專利事務所 13106
• 代理人: 于文順

技術領域

本發明涉及一種分光光度計測試誤差補償的方法，屬于太陽能電池光學性能測試技術領域。

背景技術

在太陽能電池實際生產過程中，需要對各個工序產生的半成品進行性能測試，確認是否能達到預期的工藝要求，在薄膜太陽能生產過程中需要對鍍有透明導電氧化物的前玻璃及背玻璃，簡稱TCO玻璃進行全透射TT、漫透射DT、霧度Haze等光學性能測試，測試用儀器為紫外可見近紅外分光光度計，但由于在測試過程中，操作人員需要將儀器中的積分球白板頻繁的拆卸及安裝，使積分球白板很容易受到污染，由于積分球白板用于測試前儀器基線平直度校正，如果積分球白板被污染，將會導致測試結果偏高，準確度下降。目前，還沒有分光光度計有效清洗積分球白板的方法，積分球白板只能作為耗材進行不斷更換，由于積分球白板價格昂貴，這對分光光度計使用頻繁的薄膜太陽能行業來說，無疑是一筆不小的投資。

發明內容

本發明的目的是提供一種分光光度計測試誤差補償的方法，對測試結果進行補償，達到提高測試準確度的目的，避免因白板污染而導致測試準確度下降，從而降低耗材使用量及測試成本，解決背景技術存在的上述問題。

本發明的技術方案是：一種分光光度計測試誤差補償的方法，包含如下工藝步驟：①對已經污染的積分球白板進行清潔，比較清潔前后樣品測試結果的差異，如果無明顯效果，就需對測試數據進行補償；②選取一片TCO玻璃樣品，在第三方檢測機構對全透射TT、漫透射DT值進行測試，并計算波長為600nm時的霧度Haze值，并以此霧度值作為標定值；③用上述受污染的積分球白板對分光光度計進行基線校準并測試樣品的全透射TT、漫透射DT值,?并計算波長為600nm時的霧度Haze值，與標定值進行比較，計算霧度Haze差值，進而對測試值進行補償，霧度Haze＝全透射TT值/漫透射DT值。

所述的對全透射TT、漫透射DT值進行測試，波長300到2000nm，步長5nm，比較600nm處的霧度Haze值。

所述TCO玻璃為薄膜太陽能電池前鍍ZnO玻璃和背鍍ZnO玻璃。

所述分光光度計為lambda950系列分光光度計。

所述的積分球白板有兩種不同成分，采用不同的清潔方法，第一種積分球白板組成成分為聚四氟乙烯，俗稱海倫，化學式（CF2CF2）m?，用壓制儀器壓制而成，其化學性能穩定，不易與酸性及堿性物質發生反應，但質地較軟；清潔方法：用砂紙打磨；第二種積分球白板組成成分為聚四氟乙烯和BaSO4混合而成，其化學性能穩定，不易與酸性及堿性物質發生反應，質地較硬；清潔方法：用橡皮擦拭其表面。

本發明的積極效果：分光光度計的積分球白板極易受外界環境的污染，且無法清理，從而導致樣品DT和TT值升高，進而導致Haze測試值偏大。如果用更換新積分球白板的方法而達到測試準確的目的，這會讓分光光度計使用頻繁的企業不斷增加測試成本。本發明通過觀察樣品實際測試值與第三方機構的標定值之間的差異，對測試結果進行補償，達到提高測試準確度的目的，從而降低耗材使用量及測試成本。

附圖說明

圖1為本發明實施例一新積分球白板、受污染積分球白板及清潔后積分球白板TT測試數據對比圖；

圖2為本發明實施例一新積分球白板、受污染積分球白板及清潔后積分球白板DT測試數據對比圖；

圖3為本發明實施例二新積分球白板、受污染積分球白板及清潔后積分球白板TT測試數據對比圖；

圖4為本發明實施例二新積分球白板、受污染積分球白板及清潔后積分球白板DT測試數據對比圖。

具體實施方式

以下結合附圖，通過實施例對本發明做進一步說明。

實施例一：

對于組成成分為聚四氟乙烯的積分球白板，受污染后采用NO360#砂紙打磨的方法清潔，具體方法為用NO360#防水砂紙，朝一個方向打磨，并用無塵布擦拭干凈，直至白板表面不存在污漬或其它雜質。清潔前后，對同一片TCO玻璃樣品進行全透射TT、漫透射DT值測試對比，測試方法為：在波長范圍為300-2000nm范圍內，采樣間距5nm。結果參照圖1和圖2，由結果發現，用砂紙打磨的方法清潔白板并無明顯效果，故需對測試數據進行補償，方法如下：將樣品送第三方檢測機構進行標定，用受污染的白板進行儀器基線校正并持續7天測試樣品的霧度Haze值，求其平均值，結果如下：