[發明專利]熒光讀取器有效
| 申請號: | 201210123087.2 | 申請日: | 2007-03-21 |
| 公開(公告)號: | CN102636469A | 公開(公告)日: | 2012-08-15 |
| 發明(設計)人: | 托馬斯·林斯特龍;伊布·曼德爾-哈特維格;奧韋·奧曼;約翰·巴克倫;肯尼特·維爾赫爾姆森 | 申請(專利權)人: | 阿米克公司 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 蔣駿;朱海煜 |
| 地址: | 瑞典烏*** | 國省代碼: | 瑞典;SE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 熒光 讀取器 | ||
1.?一種用于樣品基板(1)的熒光讀取器(10),該樣品基板(1)包括:反應位置表面(2)和相對基板表面(3),該熒光讀取器包括設置成將激發光線射入到基板表面(3)中的激發光源(5)、和設置成檢測從反應位置表面發射的并透過基板表面的熒光的檢測器件(6),其特征在于:所述基板表面(3)設置有位于發射的熒光光路中的全內反射抑制部件(12,15,16),從而提高被檢測器件(6)檢測的基板表面的透射。
2.?根據權利要求1所述的熒光讀取器,其特征在于:所述全內反射抑制部件設置成釋放陷在供檢測器件(6)檢測的基板(2)內的發射熒光。
3.?根據權利要求1或2所述的熒光讀取器,其特征在于:所述光源(5)設置成將激發光線以大致與發射熒光的最大發射角(8)一致的相對于反應位置表面法線的入射角(7)注入基板表面(3)中。
4.?根據前述任意一項權利要求所述的熒光讀取器,其特征在于:所述基板表面(3)設置有位于激發光線的光路中的入射角控制部件(11)。
5.?根據權利要求4所述的熒光讀取器,其特征在于:所述入射角控制部件(11)包括有表面凹凸結構的入射部分(9),其設計成使激發光相對于反應位置表面的法線以增大的入射角(7)進入基板。
6.?根據權利要求4或5所述的熒光讀取器,其特征在于:所述有表面凹凸結構的入射部分(11)包括衍射結構。
7.?根據權利要求4或5所述的熒光讀取器,其特征在于:所述有表面凹凸結構的入射部分(11)包括折射結構。
8.?根據前述任意一項權利要求所述的熒光讀取器,其特征在于:所述全內反射抑制部件包括有表面凹凸結構的出射部分(12),其設計成將發射的熒光光線衍射或折射出基板。
9.?根據權利要求8所述的熒光讀取器,其特征在于:所述出射部分(12)設計成將發射光線聚焦。
10.?根據權利要求8或9所述的熒光讀取器,其特征在于:所述有表面凹凸結構的出射部分(12)包括衍射結構。
11.?根據權利要求8或9所述的熒光讀取器,其特征在于:所述有表面凹凸結構的出射部分(12)包括折射結構。
12.?根據權利要求8-11任意一項所述的熒光讀取器,其特征在于:表面凹凸結構的設計設置成根據入射熒光的發射角(8)變化而在出射部分(12)上變化。
13.?根據權利要求8-12任意一項所述的熒光讀取器,其特征在于:出射部分(12)的位置和延伸確定被分析的反應位置區域的位置和延伸。
14.?根據前述任意一項權利要求所述的熒光讀取器,其特征在于:設置光收集透鏡器件(13)來接收透過基板表面的發射熒光。
15.?根據權利要求8-13任意一項所述的熒光讀取器,其特征在于:在靠近設置于所述基板表面上的有表面凹凸結構的出射部分(9)的位置設置光收集部分(15)。
16.?根據權利要求1-7任意一項所述的熒光讀取器,其特征在于:所述全內反射抑制部件包括與所述基板表面光學浸潤接觸設置的光收集部分(15)。
17.?根據權利要求15或16所述的熒光讀取器,其特征在于:所述光收集部分(15)設計成通過全內反射的方式收集并傳輸光。
18.?根據權利要求15-17任意一項所述的熒光讀取器,其特征在于:所述光收集部分(15)大致是橢球形的。
19.?根據權利要求15-18任意一項所述的熒光讀取器,其特征在于:所述光收集部分(15)設置有用于激發光的輸入端口(14)。
20.?根據權利要求15-19任意一項所述的熒光讀取器,其特征在于:所述光收集部分(15)設置有至少一個輸出端口。
21.?根據權利要求16-20任意一項所述的熒光讀取器,其特征在于:所述光收集部分(15)具有大致與基板(1)的折射率對應或比其大的折射率。
22.?根據權利要求1-7任意一項所述的熒光讀取器,其特征在于:所述全內反射抑制部件包括具有適當折射率的光學浸潤層(16)。
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