[發明專利]一種測量磁致伸縮系數的新方法

無效

• 申請號: 201210121637.7
• 申請日: 2012-04-24
• 公開（公告）號: CN102621508A
• 公開（公告）日: 2012-08-01
• 發明（設計）人: 郭敏強
• 申請（專利權）人: 郭敏強
• 主分類號: G01R33/18
• 分類號: G01R33/18
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種測量磁致伸縮系數的新方法，其特征在于：以非平衡電橋為基礎，兩個橋臂固定為等值電阻，剩余的兩個橋臂一個用作初值測量，另一個作為實驗測量，在測量處用雙電阻，一個用來等值定標，一個用來連接測量的材料，測出材料上所貼應變片的阻值，接著進行定標，將材料置入磁場中，不斷變化磁場，記錄每次檢流計的示數變化，將其和上面的定標斜率一塊代入以此實驗電路特點推導出來的磁致伸縮系數公式中，最后將每個結果與對應的磁場對應起來，的出磁致伸縮材料的磁致伸縮系數。

2.根據權利要求1要求所屬的一種測量磁致伸縮系數的新方法，其特征是：R₁和R₄可以為定值電阻，也可以為電阻箱。

3.根據權利要求1要求所屬的一種測量磁致伸縮系數的新方法，其特征是：測出材料上所貼應變片的阻值后，將與其處于同位置的電阻箱調節到應變片阻值，接著一直向一個方向調節電阻箱。

4.根據權利要求1要求所屬的一種測量磁致伸縮系數的新方法，其特征是：具有推導所得的公式????????????????????????????????????????????????，用此公式得出的磁致伸縮系數λ與磁感應強度B的關系曲線。