[發明專利]C形臂X光錐測定裝置無效
| 申請號: | 201210121043.6 | 申請日: | 2012-04-23 |
| 公開(公告)號: | CN103376078A | 公開(公告)日: | 2013-10-30 |
| 發明(設計)人: | 閆士舉 | 申請(專利權)人: | 上海理工大學 |
| 主分類號: | G01B21/00 | 分類號: | G01B21/00 |
| 代理公司: | 上??剖⒅R產權代理有限公司 31225 | 代理人: | 楊元焱 |
| 地址: | 200093 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 形臂 測定 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種檢測器械,尤其涉及一種C形臂X光錐測定裝置。
背景技術
C形臂X光機在醫院臨床應用中用途廣泛,例如在骨科的整骨、復位、打釘、椎間盤造影和消融以及經皮穿刺中,在腫瘤科的多部位腫瘤介入治療等傳統手術過程或是手術導航系統均離不開C形臂X光機。
C形臂X光機在成像過程中,其X光源點與成像平面之間的相對位置關系會隨C形臂姿態的不同而有所變化,這將直接影響到所獲取的2D投影圖像,并進而影響整個手術導航系統的性能,因此必須對C形臂X光源點與成像平面之間的相對位置關系進行測定。
經對現有技術的文獻檢索發現,專利號為200610027964.0的中國發明專利《可轉離式C形臂校準靶》以及專利號為200610027963.6的中國發明專利《可拆換式C形臂校準靶》中實現的校準靶可以在多類計算機輔助外科手術導航系統中實現C形臂位置跟蹤、圖像變形校正及C形臂相機校準,在手術導航系統中提高了患者解剖圖像的質量,其不足在于,僅能實現變形校正,而不能得到對不同C形臂姿態下其X光源點與成像平面之間的相對位置關系。
發明內容
本發明的目的,就是為了解決上述問題,提供一種C形臂X光錐測定裝置。
為了達到上述目的,本發明采用了以下技術方案:一種C形臂X光錐測定裝置,包括上層測定板和下層測定板,上層測定板和下層測定板平行間隔相連,在下層測定板上設有一個第一鋼球和四個第二鋼球,在上層測定板上設有多個第三鋼球。
所述的上層測定板的周邊設有三個固定定位爪,三個固定定位爪之間形成用于容置C形臂影像增強器的空間。
所述的多個第三鋼球采用正交方式排列,并且其中心鋼球位于C形臂X光錐測定裝置的中軸線上,多個第三鋼球的中心與上層測定板的上表面處于同一平面。
所述的下層測定板包括一個中部圓盤和連接在圓盤周向的三個外伸腳,下層測定板通過三個外伸腳與上層測定板平行間隔相連;所述的四個第二鋼球均勻間隔設置在圓盤的邊緣,所述的一個第一鋼球設置在圓盤的中心并且位于C形臂X光錐測定裝置的中軸線上;所述的第一鋼球和四個第二鋼球的中心與下層測定板的上表面處于同一平面。
所述的三個固定定位爪上分別設有用于將上層測定板與C形臂影像增強器連接的螺釘孔。
所述的上層測定板和下層測定板之間通過標準螺釘平行間隔相連,其間隔距離由套在標準螺釘上的標準套筒精確定位。
所述的上層測定板和下層測定板用透明的高分子有機玻璃制作。
本發明的C形臂X光錐測定裝置結構簡單,加工使用方便,材料易獲得且價格適中,成本低。采用本發明的C形臂X光錐測定裝置對C形臂X光錐進行測定,根據測定結果再配合計算即可得出在不同C形臂姿態下其X光源點與成像平面之間的相對位置關系。
附圖說明
圖1為本發明C形臂X光錐測定裝置的總體結構示意圖;
圖2為本發明中的上層測定板的結構示意圖;
圖3為本發明中的下層測定板的結構示意圖。
具體實施方式
參見圖1,配合參見圖2、圖3,本發明一種C形臂X光錐測定裝置,包括上層測定板1和下層測定板2,上層測定板1和下層測定板2之間通過標準螺釘平行間隔相連,其間隔距離由套在標準螺釘上的標準套筒3精確定位。上層測定板1和下層測定板2用透明的高分子有機玻璃制作。圖1中所示,13為用于連接上層測定板1和下層測定板2的螺釘。
配合參見圖2,在上層測定板1的周邊設有三個固定定位爪11,三個固定定位爪之間形成用于容置C形臂影像增強器的空間。在三個固定定位爪11上分別設有用于將上層測定板與C形臂影像增強器連接的螺釘孔111。在上層測定板1上設有多個第三鋼球12,多個第三鋼球12采用正交方式排列,并且其中心鋼球位于C形臂X光錐測定裝置的中軸線上,各第三鋼球的中心與上層測定板1的上表面處于同一平面。在本實施例中,多個第三鋼球12的數量為221個。
配合參見圖3,下層測定板2包括一個中部圓盤21和連接在圓盤周向的三個外伸腳22,下層測定板2通過三個外伸腳22與上層測定板1平行間隔相連;在下層測定板上2設有一個第一鋼球23和四個第二鋼球24,四個第二鋼球24均勻間隔設置在圓盤21的的邊緣,一個第一鋼球23設置在圓盤21的中心并且位于C形臂X光錐測定裝置的中軸線上;第一鋼球和第二鋼球的中心與下層測定板2的上表面處于同一平面。
上述鋼球均采用硅膠封堵在各鋼球內。
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