[發明專利]液晶顯示器背光自動調節系統用光強檢測器

有效

• 申請號: 201210120512.2
• 申請日: 2012-04-23
• 公開（公告）號: CN102645274A
• 公開（公告）日: 2012-08-22
• 發明（設計）人: 周劉飛
• 申請（專利權）人: 南京中電熊貓液晶顯示科技有限公司
• 主分類號: G01J1/44
• 分類號: G01J1/44
• 代理公司: 南京天華專利代理有限責任公司 32218
• 代理人: 夏平

1.一種液晶顯示器背光自動調節系統用光強檢測器，其特征是所述的光強檢測器安裝在液晶顯示器的陣列基板上，設置于陣列基板的顯示區即像素區或者非顯示區即非像素區。

2.根據權利要求1所述的液晶顯示器背光自動調節系統用光強檢測器，其特征是所述的在陣列基板的顯示區即像素區上，光強檢測器安裝在任意兩條相鄰的掃描線N-1和掃描線N之間，它包括光電晶體管T1、檢測晶體管T2和寄生電容C1、C2，所述的光電晶體管T1的柵極接低電平信號Vb，光電晶體管處于關閉狀態，光電晶體管T1的源極連接參考電壓Vr，寄生電容C1并接在光電晶體管T1的柵極與漏極之間，光電晶體管T1的漏極連接檢測晶體管T2的源極，檢測晶體管T2的柵極接第n-1條掃描線的輸入電壓Vgn-1，寄生電容C2并接在光電晶體管T1的柵極線和檢測晶體管T2的漏極之間，檢測晶體管T2的漏極連接檢測線，檢測晶體管T2的漏極電壓Vo作為光強檢測器的輸出與后級背光控制裝置的檢測信號輸入端相連。

3.根據權利要求2所述的液晶顯示器背光自動調節系統用光強檢測器，其特征是所述的光強檢測器具體檢測時，采用如下方法：

(1)、為光電晶體管T1的柵極提供一低電平信號Vb，使得光電晶體管T1處于關閉狀態，為光電晶體管T1的源極提供一參考電壓Vr；

(2)、當外界光強增大時，光電晶體管T1的等效電阻減小；反之，當外界光強減小時，光電晶體管T1的等效電阻增大；光電晶體管T1的漏極電壓Vi與源極電壓Vr之間的關系滿足下述公式：

Vi=Vr*(1-e-tRs*Cl)]]>

其中，t為光照時間，Rs為光電晶體管T1等效電阻；

(3)、當檢測晶體管T2打開后，即為高電平電壓，檢測晶體管T2漏極電壓Vo與源極電壓Vi之間的關系滿足下述公式：

Vo=Vi*C1C1+C2]]>

4.根據權利要求2所述的液晶顯示器背光自動調節系統用光強檢測器，其特征是所述的后級背光控制裝置包括信號放大器、運算調節器和背光控制器，所述的信號放大器的信號輸入端與光強檢測器的信號輸出端相連，信號放大器的輸出端依次串接運算調節器和背光控制器，背光控制器的信號輸出端輸出控制信號調節背光源的亮度。

5.根據權利要求1所述的液晶顯示器背光自動調節系統用光強檢測器，其特征是所述的在陣列基板的非顯示區即非像素區上，光強檢測器安裝在兩條相鄰的掃描線0和掃描線1之間，它包括光電晶體管T1、檢測晶體管T2和寄生電容C1、C2，所述的光電晶體管T1的柵極接低電平信號Vg0，光電晶體管處于關閉狀態，光電晶體管T1的源極連接參考電壓Vr，寄生電容C1并接在光電晶體管T1的柵極與漏極之間，光電晶體管T1的漏極連接檢測晶體管T2的源極，檢測晶體管T2的柵極接第1條掃描線的輸入電壓Vg1，寄生電容C2并接在光電晶體管T1的柵極線和檢測晶體管T2的漏極之間，檢測晶體管T2的漏極連接檢測線，檢測晶體管T2的漏極電壓Vo作為光強檢測器的輸出與后級背光控制裝置的檢測信號輸入端相連。