[發明專利]一種氣溶膠光學厚度遙感反演方法

有效

• 申請號: 201210118805.7
• 申請日: 2012-04-20
• 公開（公告）號: CN102636143A
• 公開（公告）日: 2012-08-15
• 發明（設計）人: 顧行發;余濤;方莉;孟慶巖;李家國;高海亮
• 申請（專利權）人: 中國科學院遙感應用研究所
• 主分類號: G01B21/08
• 分類號: G01B21/08
• 代理公司: 北京中創陽光知識產權代理有限責任公司 11003
• 代理人: 尹振啟;羅巍

1.一種氣溶膠光學厚度遙感反演方法，具體為：1)根據輻射傳輸模型建立查找表；2)表觀反射率計算；3)依據純像元指數提取遙感圖像中的純像元，生成純像元掩膜；4)確定純像元地表反射率；5)根據查找表，將遙感觀測的輻射亮度反演為氣溶膠光學厚度。

2.如權利要求1所述的氣溶膠光學厚度遙感反演方法，其特征在于，該方法還包括步驟5)對整幅影像進行內插，得到光學厚度圖。

3.如權利要求1所述的氣溶膠光學厚度遙感反演方法，其特征在于，步驟1)采用6S輻射傳輸程序進行輻射傳輸計算得出多組不同的大氣參數(R_r+a、T_g(θ_s，θ_v)、T(θ_s)·T(θ_v)和S)組合而成的查找表。

4.如權利要求3所述的氣溶膠光學厚度遙感反演方法，其特征在于，步驟3)具體為：選取一個時間段內的晴朗日影像和污染日影像，假設在這個時間段內純像元地表反射特性變化較小，對晴朗天氣的影像進行簡單的大氣校正，獲取純像元的地表反射率。

5.如權利要求4所述的氣溶膠光學厚度遙感反演方法，其特征在于，步驟3)選取的時間段小于3個月。

6.如權利要求4所述的氣溶膠光學厚度遙感反演方法，其特征在于，步驟4)具體為：根據讀取的太陽天頂角、太陽方位角、觀測天頂角、觀測方位角，在查找表選取相應的數據，進行線性插值，得到不同波段、不同氣溶膠光學厚度的R_r+a、T_g(θ_s，θ_v)、T(θ_s)·T(θ_v)和S大氣參數；結合步驟3)得到的純像元地表反射率，按照公式

R*(θs,θv,φs-φv)=Tg(θs,θv)[Rr+a(θs,θv,φs-φv)+T(θs)T(θv)R1-RS]]]>計算每個預設氣溶膠光學厚度對應的表觀反射率，與衛星真實測量的表觀反射率進行比較，相差最小的氣溶膠光學厚度值即為所求，θ_s是太陽天頂角，φ_s傳感器天頂角，θ_v是太陽方位角，φ_v是傳感器方位角，T_g是氣體吸收透過率，R_r+a是由分子散射加氣溶膠散射所構成的路徑程輻射反射率，T(θ_s)、T(θ_v)分別為太陽——目標、目標——傳感器大氣路徑透射率，S為大氣下屆半球反照率，R是地物目標反射率。