[發明專利]調制方式檢測方法及終端

有效

• 申請號: 201210115730.7
• 申請日: 2012-04-19
• 公開（公告）號: CN102710570A
• 公開（公告）日: 2012-10-03
• 發明（設計）人: 花夢;關文康;郭晶
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04L27/00
• 分類號: H04L27/00;H04B17/00
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 劉芳

1.一種調制方式檢測方法，其特征在于，包括：

對調制信號的實部絕對值和/或虛部絕對值進行統計，生成所述調制信號的直方圖，所述直方圖包括至少一個峰值；

根據位于以所述直方圖的至少一個峰值位置為中心，并以預設聚類半徑為半徑的范圍之內的樣點數，確定所述直方圖對應的每個調制方式的聚類點，所述預設聚類半徑為預先設置的所述直方圖對應的每個調制方式的聚類半徑；

根據確定的所述聚類點，計算獲得所述直方圖對應的每個調制方式的聚類函數值；

根據所述直方圖對應的所有調制方式的聚類函數值，確定所述調制信號所采用的調制方式。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據位于以所述直方圖的至少一個峰值位置為中心，并以預設聚類半徑為半徑的范圍之內的樣點數，確定所述直方圖對應的每個調制方式的聚類點，包括：

當位于以所述峰值位置為中心，并以所述預設聚類半徑為半徑的范圍之內的樣點數，乘以預設系數大于或等于總樣點數除以所述直方圖對應的每個調制方式的理論聚類點數時，或者，當位于以所述峰值位置為中心，并以所述預設聚類半徑為半徑的范圍之內的樣點數，與位于以所述直方圖的最大峰值位置為中心，并以所述預設聚類半徑為半徑的范圍之內的樣點數的比值大于或等于預設比值時，則確定所述峰值位置是所述直方圖對應的每個調制方式的聚類點；或者

當位于以所述峰值位置為中心，并以所述預設聚類半徑為半徑的范圍之內的樣點數，乘以預設系數小于總樣點數除以所述直方圖對應的每個調制方式的理論聚類點數時，或者，當位于以所述峰值位置為中心，并以所述預設聚類半徑為半徑的范圍之內的樣點數，與位于以所述直方圖的最大峰值位置為中心，并以所述預設聚類半徑為半徑的范圍之內的樣點數的比值小于預設比值時，則確定所述峰值位置不是所述直方圖對應的每個調制方式的聚類點。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述對調制信號的實部絕對值和/或虛部絕對值進行統計，生成所述調制信號的直方圖，所述直方圖包括至少一個峰值，包括：

當信噪比大于預先設置的閾值時，對調制信號的實部絕對值和/或虛部絕對值進行統計，生成所述調制信號的直方圖，所述直方圖包括至少一個峰值。

4.根據權利要求1～3任一權利要求所述的方法，其特征在于，所述根據所述直方圖對應的所有調制方式的聚類函數值，確定所述調制信號所采用的調制方式，包括：

確定所述直方圖對應的所有調制方式的聚類函數值中值最大的聚類函數值；

根據確定的所述聚類函數值對應的調制方式的理論聚類點位置和對應的直方圖的峰值位置，確定所述調制信號所采用的調制方式。

5.一種調制方式檢測方法，其特征在于，包括：

對調制信號的實部絕對值和/或虛部絕對值進行統計，生成所述調制信號的直方圖，所述直方圖包括至少一個峰值；

根據所述直方圖的至少一個峰值，確定所述直方圖對應的每個調制方式的聚類點；

根據確定的所述聚類點，計算獲得所述直方圖對應的每個調制方式的聚類函數值；

確定所述直方圖對應的所有調制方式的聚類函數值中值最大的聚類函數值；

根據確定的所述聚類函數值對應的調制方式的理論聚類點位置和對應的直方圖的峰值位置，確定所述調制信號所采用的調制方式。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述對調制信號的實部絕對值和/或虛部絕對值進行統計，生成所述調制信號的直方圖，所述直方圖包括至少一個峰值，包括：

當信噪比大于預先設置的閾值時，對調制信號的實部絕對值和/或虛部絕對值進行統計，生成所述調制信號的直方圖，所述直方圖包括至少一個峰值。

7.根據權利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述根據所述直方圖的至少一個峰值，確定所述直方圖對應的每個調制方式的聚類點，包括：

根據位于以所述直方圖的至少一個峰值位置為中心，并以預設聚類半徑為半徑的范圍之內的樣點數，確定所述直方圖對應的每個調制方式的聚類點，所述預設聚類半徑為預先設置的所述直方圖對應的每個調制方式的聚類半徑。