[發明專利]梨黑星病抗性的離體鑒定方法

無效

• 申請號: 201210112929.4
• 申請日: 2012-04-17
• 公開（公告）號: CN103371062A
• 公開（公告）日: 2013-10-30
• 發明（設計）人: 張海娥;樂文全;張新忠;李永紅;徐金濤;魏建梅;冉辛拓;劉金利
• 申請（專利權）人: 河北省農林科學院昌黎果樹研究所
• 主分類號: A01G7/00
• 分類號: A01G7/00
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王朋飛;王加嶺

技術領域

本發明涉及植物病理學領域，具體地說，涉及梨黑星病抗性的離體鑒定方法。

背景技術

梨黑星病(Venturia?nashicola，Venturia?pirina)又稱瘡痂病，是梨種植地區普遍發生的一種病害。梨黑星菌，屬于子囊菌綱(Ascomycetes)，座囊菌目(Dothideals)，多孢菌科(Pleosporaceae)，黑星菌屬(Venturia?de?Not)。梨黑星菌分為兩大類V.nashicola和V.pirina，其中V.pirina以洋梨為寄主，V.nashicola以日本梨和中國梨為寄主。梨黑星病主要侵染梨樹的綠色幼嫩組織，包括花序、葉片、葉柄、新梢、芽鱗及果實等，其中以葉片、果實為主。梨黑星病侵染的最典型癥狀是在病部產生明顯的黑色霉層，呈雞爪形狀，又有黑霉病之稱。葉片受害多發生在葉背，病部先呈現黃色，隨后長出黑色霉斑，葉片正面呈現多角形或圓形褪綠黃斑，嚴重時，葉片正反面都長滿黑色霉層，致使葉片干枯脫落。葉柄受害時，會產生圓形或長條狀霉斑造成落葉。嫩梢發病時，除形成條狀霉斑外，后期皮層龜裂，呈粗皮狀的瘡痂狀。果實受害時，初期呈現淡黃色斑點，隨后逐漸擴大長出黑霉層，嚴重時病部凹陷木栓化，停止生長呈畸形，易脫落。

目前對梨黑星病的防治主要是化學防治，化學防治成本高、效率低、能夠引起病菌生理小種的變異且容易造成環境污染，解決這種困境的方法是培育抗病品種，而培育抗病品種的關鍵是早期的抗病性評價。目前對抗病性的評價方法多采用分生孢子田間接種，田間接種首先是過程繁瑣，包括噴施殺菌劑、套袋等，其次是或多或少會受到環境條件的影響，另外對病原需求量大。

發明內容

本發明旨在克服現有技術的不足，提供一種在梨離體葉片上接種梨黑星病菌的方法，從而評價品種的抗病性。

為了實現本發明目的，本發明的一種梨黑星病抗性的離體鑒定方法，從梨樹上取旺盛生長的新梢頂部起第三片葉，置于鋪有濕毛巾的托盤上，葉片背面向上，向葉片背面噴布濃度為5×10⁴個孢子/ml的梨黑星菌(Venturia?de?Not)的分生孢子液至淋濕，接種后套上塑料袋密封保濕，置于25℃人工氣候箱中，15天后根據發病情況鑒定出抗病品種。

本發明提供的梨黑星病抗性的離體鑒定方法，是將梨整個葉片上都噴布分生孢子液至淋濕，旨在獲得在梨葉片離體狀態下接種梨黑星病菌后的病情指數，如果這個病情指數比較接近于田間接種的結果，即為期望獲得的比較準確的離體接種方法。

本發明方法是利用梨的離體葉片在室內進行接種鑒定，通過嚴格控制接種條件并置于人工氣候箱中培養，使環境條件帶來的影響降至最低，并且省去了噴施殺菌劑和套袋等一系列步驟，操作過程簡單，能夠快速、高效、準確地完成對較大群體的梨黑星病抗病性的離體評價，而對其抗病性遺傳規律進行分析，極具實用意義。

附圖說明

圖1為鴨梨×03-04-034雜交后代群體病斑面積/葉片面積次數分布圖。

圖2為鴨梨×03-08-080雜交后代群體病斑面積/葉片面積次數分布圖。

具體實施方式

以下實施例用于說明本發明，但不用來限制本發明的范圍。若未特別指明，實施例中所用的技術手段為本領域技術人員所熟知的常規手段，所用原料均為市售商品。

實施例1梨黑星病抗性的離體鑒定方法

1.1離體梨葉片上接種梨黑星病菌的方法，包括如下步驟：

1.1.1材料采用抗病優系03-04-034、03-08-080，高感品種鴨梨、京白梨及中抗品種雪花梨，旺盛生長中新梢的第3片葉，其中03-04-034是從京白梨×鴨梨雜交群體中篩選出來的高抗黑星病的優系，03-08-080是從鴨梨×京白梨雜交群體中篩選出來的高抗黑星病的優系，鴨梨、京白梨、雪花梨是中國傳統的名優品種。

1.1.2采用完全試驗設計，設置2個因素：溫度和菌種形態；其中溫度設置4個水平：20℃、25℃、30℃、35℃；菌種形態設置6個水平：菌絲、菌餅、分生孢子液濃度為5×10³個孢子/ml、分生孢子液濃度為5×10⁴個孢子/ml、分生孢子液濃度為5×10⁵個孢子/ml，分生孢子液濃度為5×10⁶個孢子/ml。