[發(fā)明專利]一種測(cè)試FPGA單長(zhǎng)線及連接開關(guān)的擴(kuò)展布線方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210108006.1 | 申請(qǐng)日: | 2012-04-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102809711A | 公開(公告)日: | 2012-12-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李曉磊;徐彥峰;于大鑫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所 |
| 主分類號(hào): | G01R31/08 | 分類號(hào): | G01R31/08;G01R31/02;G01R31/327 |
| 代理公司: | 無(wú)錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所 32104 | 代理人: | 殷紅梅 |
| 地址: | 214035 *** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測(cè)試 fpga 長(zhǎng)線 連接 開關(guān) 擴(kuò)展 布線 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了一種測(cè)試FPGA單長(zhǎng)線及連接開關(guān)的擴(kuò)展布線方法,屬FPGA自動(dòng)化布線范疇。
背景技術(shù)
FPGA芯片是一種布線資源數(shù)量龐大、種類繁多、可重復(fù)編程的超大規(guī)模集成電路,在實(shí)際應(yīng)用中,發(fā)生于互連資源上的故障率遠(yuǎn)大于其它器件的故障率,那么為了解決發(fā)生于互連資源上的故障,尤其為了測(cè)試單長(zhǎng)線及互連開關(guān)的連接情況,并快速有效地對(duì)故障進(jìn)行查找、定位和解決,這里采用了一種FPGA單長(zhǎng)線及直連開關(guān)的測(cè)試方法(專利申請(qǐng)?zhí)?01110125752.7)。
在對(duì)該測(cè)試方法進(jìn)行實(shí)施驗(yàn)證的過(guò)程中發(fā)現(xiàn),由于手工費(fèi)時(shí)費(fèi)力且錯(cuò)誤率高以及機(jī)時(shí)有限且極其昂貴等系列原因,極需一種更高效的布線算法來(lái)進(jìn)行快速的資源配置和有效配置資源圖生成以進(jìn)行連續(xù)無(wú)間斷的測(cè)試。
近年來(lái),各國(guó)學(xué)者提出過(guò)許多相關(guān)布線算法,其中迷宮算法是一種比較成熟的算法,其它如蟻群算法、全局尋優(yōu)算法等都有一定的用途和群眾基礎(chǔ),然而,這些算法在實(shí)施的過(guò)程中不是針對(duì)性不強(qiáng),如單長(zhǎng)線資源的覆蓋率問(wèn)題,就是理論到實(shí)踐驗(yàn)證轉(zhuǎn)換有一定難度,可操作性不強(qiáng),另外有的算法在布線效率上的表現(xiàn)也不是很令人滿意。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有布線方法的不足、針對(duì)性不強(qiáng)以及其它如手工布線效率低下等問(wèn)題,本發(fā)明依據(jù)層次式FPGA的結(jié)構(gòu)特點(diǎn),提出了一種測(cè)試FPGA單長(zhǎng)線及連接開關(guān)的擴(kuò)展布線方法,是一種基于布通率的高可靠、高適應(yīng)、高效率的布線方法。
按照本發(fā)明提供的技術(shù)方案,所述測(cè)試FPGA單長(zhǎng)線及連接開關(guān)的擴(kuò)展布線方法,步驟如下:
步驟一、設(shè)置輪回行并初始化參數(shù):確定輪回行的數(shù)目為2,并為后續(xù)布線搜索到的鏈路中間結(jié)果準(zhǔn)備存儲(chǔ)空間,準(zhǔn)備完成后進(jìn)入步驟二;
步驟二、快速分組:依據(jù)分組算法依次將CLB和單長(zhǎng)線進(jìn)行分組,獲取輪回行所有CLB分組和第一組CLB分組對(duì)應(yīng)單長(zhǎng)線起始組合點(diǎn);分組完成后進(jìn)入步驟三,如果失敗則退出算法,返回失敗代碼;
步驟三、線序預(yù)估:在選取完第一組CLB分組連接點(diǎn)后,通過(guò)獲取輪回行所有關(guān)鍵布線CLB分組連接點(diǎn)的方法獲取輪回行所有CLB分組的起始連接點(diǎn),然后分別對(duì)這些連接點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證,測(cè)試該分組是否合適,是否可以選出最優(yōu)線序;測(cè)試的方法是:依據(jù)寬度優(yōu)先算法搜索并選取該CLB布線在最大鏈長(zhǎng)下的所有可布通的線網(wǎng),如能布通則表示該分組暫時(shí)可行,并分別記錄CLB1、CLB2、CLB3、CLB4可布通的組合序號(hào)以便在后續(xù)回退時(shí)調(diào)整該組合序號(hào)選出相應(yīng)線序組合;當(dāng)預(yù)估完成后進(jìn)入步驟四,否則,如果所有組合測(cè)試后均未發(fā)現(xiàn)可布通的線序組合則回退至步驟二重新分組;所述CLB1、CLB2、CLB3、CLB4分別指每個(gè)CLB分組的第一個(gè)CLB、第二個(gè)CLB、第三個(gè)CLB和第四個(gè)CLB;
步驟四、二次過(guò)濾:經(jīng)過(guò)步驟3預(yù)估過(guò)濾后,確定了所有關(guān)鍵布線CLB分組的起始連接點(diǎn)和所有可行的線序組合后,再做進(jìn)一步進(jìn)行過(guò)濾排除:從第一個(gè)CLB分組的CLB1和CLB2開始,依次選取相鄰下個(gè)分組的CLB1和CLB2,在選取CLB1和CLB2的過(guò)程中過(guò)濾水平六長(zhǎng)線的占用,并同時(shí)采用線序選優(yōu)的策略選取最優(yōu)線序組合,以降低CLB1和CLB2分別對(duì)CLB4和CLB3布線線網(wǎng)的影響;在選取CLB1、CLB2、CLB3和CLB4的過(guò)程中,考慮相互之間水平六長(zhǎng)線和行間單長(zhǎng)線的占用影響,當(dāng)過(guò)濾完成后進(jìn)入步驟五,否則失敗回退至步驟二重新分組;
步驟五、線序拼接:在完成所有關(guān)鍵布線CLB分組的布線后,需要對(duì)相鄰關(guān)鍵布線CLB分組的布線進(jìn)行拼接來(lái)完成整個(gè)線網(wǎng)的布線,在拼接過(guò)程中,依據(jù)單個(gè)CLB在線序預(yù)估階段選出的可行線序索引進(jìn)行,當(dāng)拼接成功則進(jìn)入步驟八,否則當(dāng)某個(gè)CLB在重試完所有的可行線序索引后均未拼接成功,則進(jìn)入步驟六進(jìn)行回退判定;
步驟六、回退判定:在線序拼接失敗后,進(jìn)行布線CLB回退位置的選擇,首先選擇拼接失敗CLB的頂部CLB,調(diào)整頂部CLB選取的線序組合對(duì)底部CLB布線有影響的占用集合,同時(shí)測(cè)試底部CLB是否可以布通;如果可以則記錄該線序索引值,進(jìn)入步驟七進(jìn)行拆除重布;如果調(diào)整完所有線序索引仍未布通,則回退至該拼接失敗CLB的上一相鄰關(guān)鍵布線CLB分組內(nèi)具有相同組內(nèi)索引的CLB,同樣重試該CLB選出的可行線序索引進(jìn)行,同時(shí)測(cè)試是否可以布通,如是,則記錄該線序索引值,進(jìn)入步驟七進(jìn)行拆除重布,如果重試完所有的可行線序索引后仍未布通,則繼續(xù)按照上述方法循環(huán)回退,直至回退位置為首行的首個(gè)分組為止;如果仍未成功則回退至步驟二重新分組;
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
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