[發明專利]適用于三坐標測試儀的水平校準的裝置無效
| 申請號: | 201210107131.0 | 申請日: | 2012-04-13 |
| 公開(公告)號: | CN102645191A | 公開(公告)日: | 2012-08-22 |
| 發明(設計)人: | 陸慶年 | 申請(專利權)人: | 蘇州怡信光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G01B21/00 | 分類號: | G01B21/00 |
| 代理公司: | 南京縱橫知識產權代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
| 地址: | 215129 江蘇省蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 適用于 坐標 測試儀 水平 校準 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種三坐標測試儀的校準裝置,具體涉及適用于三坐標測試儀的水平校準的裝置。
背景技術
三坐標測試儀是一種新型高效的精密測試儀器。其原理是將被測量的零件放入測試儀容許的空間里,精密地測量出零件的X、Y、Z三個坐標的數值。作為一種精密儀器,三坐標測試儀在使用之前需要進行嚴格的校準,水平校準裝置就應運而生。而市場上目前廣泛使用的水平校準的裝置都存在結構復雜,操作不便等問題。
發明內容
為解決現有技術的不足,本發明的目的在于提供一種結構簡單、操作便利快捷的適用于三坐標測試儀的水平校準的裝置。?
為了實現上述目標,本發明采用如下的技術方案:
適用于三坐標測試儀的水平校準的裝置,其特征在于,包括:用于使其固定在三坐標測試儀測試平臺上的豎直的支撐桿,與上述支撐桿構成固定連接的接觸測試儀,上述支撐桿底端形成臺階、其頂端形成有定位套筒,上述定位套筒內形成有放置孔,上述接觸測試儀包括:用于與上述放置孔配合的連接部,設置在上述連接部頂端的主體外殼,設置在上述主體外殼頂端的向豎直方向伸出的接觸探頭,能接收上述接觸探頭探測結果的控制電路、受上述控制電路控制能夠顯示接觸探頭探測結果的儀表盤。
前述的適用于三坐標測試儀的水平校準的裝置,其特征在于,上述接觸探頭與上述主體外殼構成可彈性回復的轉動連接。
前述的適用于三坐標測試儀的水平校準的裝置,其特征在于,上述主體外殼設有與上述控制電路電連接并受到其控制的指示燈。
前述的適用于三坐標測試儀的水平校準的裝置,其特征在于,上述定位套筒側壁設有一個以上通孔,上述通孔內設有用于鎖緊上述連接部的螺栓。
前述的適用于三坐標測試儀的水平校準的裝置,其特征在于,上述通孔在圓周方向均勻的分布在上述定位套筒側壁上。
本發明的有益之處在于:本發明的適用于三坐標測試儀的水平校準的裝置結構簡單可靠,操作便利快捷,且能夠更加直觀地觀察和校準。?
附圖說明
圖1是本發明的的適用于三坐標測試儀的水平校準的裝置的一種優選實施例的結構示意圖。?
圖中附圖標記的含義:1、支撐桿,2、接觸測試儀,3、臺階,4、定位套筒,5、連接部,6、主體外殼,7、接觸探頭,8、儀表盤,9、指示燈,10、通孔,11、螺栓。
具體實施方式
以下結合附圖和具體實施例對本發明作具體的介紹。
參見圖1,本發明的適用于三坐標測試儀的水平校準的裝置,包括:支撐桿1和接觸測試儀2兩大部分。其中,支撐桿1用于使水平校準裝置固定在三坐標測試儀測試平臺上,成豎直形狀;接觸測試儀2與支撐桿1構成固定連接,用于進行水平校準。
支撐桿1底端形成臺階3、頂端形成定位套筒4,臺階3用于與三坐標測試儀的測試平臺相配合,定位套筒4內則形成有放置孔(圖中未示出),用于與接觸測試儀2固定。
相應地,接觸測試儀2包括:與放置孔配合的連接部5,設置在連接部5頂端的主體外殼6,設置在主體外殼6頂端的向豎直方向伸出的接觸探頭7,能接收接觸探頭7探測結果的控制電路受控制電路控制能夠顯示接觸探頭7探測結果的儀表盤8。需要說明的是,控制電路必然設置在主體外殼6的內部,所以圖中未示出控制電路,但這是本領域普通技術人員很容易理解的,所以此處不作贅述。
為了能夠靈敏地進行校準,接觸探頭7與主體外殼6最好構成可彈性回復的轉動連接。從而能夠實現連續、不間斷地可靠探測和校準。
作為一種優選方案,主體外殼6設有與控制電路電連接并受到其控制的指示燈9。在實際檢測和校準過程中,我們可以設定一個允許的誤差值,一旦三坐標測試儀的水平度超出該允許的誤差值,指示燈9即顯示為亮,以使操作者能夠更加直觀地觀察和校準。
我們知道,在實際校準中,為了適應不同的高度,水平校準裝置的高度應當是可以調節的,所以定位套筒4的放置孔與接觸測試儀2的連接部5構成的是可滑動連接,為了將兩者可靠地鎖緊,在定位套筒4側壁設有一個以上通孔10,在通孔10內設有用于鎖緊上述連接部5的螺栓11。作為一種優選方案,如圖1中所示,通孔10在圓周方向均勻地分布在定位套筒4側壁上。
以上顯示和描述了本發明的基本原理、主要特征和優點。本行業的技術人員應該了解,上述實施例不以任何形式限制本發明,凡采用等同替換或等效變換的方式所獲得的技術方案,均落在本發明的保護范圍內。
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