[發(fā)明專利]可移動(dòng)式低溫弱光檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210106202.5 | 申請(qǐng)日: | 2012-04-12 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102636256A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-08-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張蠟寶;康琳;陳健;吉爭(zhēng)鳴;吳培亨 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南京大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01J1/02 | 分類(lèi)號(hào): | G01J1/02 |
| 代理公司: | 南京蘇高專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 繆友菊 |
| 地址: | 210093 江*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 移動(dòng)式 低溫 弱光 檢測(cè) 系統(tǒng) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種低溫弱光探測(cè)系統(tǒng),尤其一種可移動(dòng)式低溫弱光探測(cè)系統(tǒng),本發(fā)明還涉及利用該檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行檢測(cè)的方法。?
背景技術(shù)
光探測(cè)器是光電系統(tǒng)的主要組成部分。高靈敏度的光探測(cè)器在國(guó)防工業(yè)、生物技術(shù)、公共安全和科學(xué)研究中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。光探測(cè)器的靈敏度、噪聲、響應(yīng)波長(zhǎng)、響應(yīng)速度等是光探測(cè)器的主要性能指數(shù)。要實(shí)現(xiàn)弱光檢測(cè),甚至單光子檢測(cè),探測(cè)器系統(tǒng)必須要盡可能的克服熱噪聲等,降低探測(cè)器工作溫度。?
因此,現(xiàn)有的高靈敏度光探測(cè)器均采用的制冷設(shè)計(jì)。例如,半導(dǎo)體制冷到零下40攝氏度,液氮降溫到77K,甚至液氦降溫到4.2K。當(dāng)具備工作溫度4K左右時(shí),可選用的探測(cè)器靈敏度和信噪比等大大提高,具有非常優(yōu)異的性能。但由于該低溫條件相對(duì)比較苛刻,因此目前的系統(tǒng)主要應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室或大型地面工作站,極大的限制了該類(lèi)探測(cè)器的應(yīng)用。?
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明目的:本發(fā)明的目的在于提供了一種可重復(fù)性、可移動(dòng)式使用的低溫弱光檢測(cè)系統(tǒng)。?
本發(fā)明的另一目的在于提供利用該檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行檢測(cè)的方法。?
技術(shù)方案:本發(fā)明所述的一種可移動(dòng)式低溫弱光檢測(cè)系統(tǒng),包括箱體和設(shè)置在所述箱體中的真空系統(tǒng)、芯片控制電路、系統(tǒng)光路、制冷機(jī)和壓縮機(jī);所述箱體中橫向設(shè)置有一層隔板;所述制冷機(jī)設(shè)置在所述隔板上,制冷機(jī)中設(shè)置有樣品室;所述壓縮機(jī)設(shè)置在所述箱體的底部,并與所述制冷機(jī)連接為所述制冷機(jī)中的樣品室提供低溫環(huán)境;所述真空系統(tǒng)設(shè)置在箱體的上部空間,并與所述制冷機(jī)連接為所述制冷機(jī)中的樣品室提供真空環(huán)境;所述系統(tǒng)光路和芯片控制電路設(shè)置在箱體的頂部空間的兩個(gè)側(cè)壁上,用于分別傳導(dǎo)光信號(hào)和電信號(hào),通過(guò)氣密接口將光信號(hào)和電信號(hào)導(dǎo)入所述制冷機(jī)的樣品室。所述系統(tǒng)光路采用光纖導(dǎo)光。本發(fā)明通過(guò)制冷機(jī)、壓縮機(jī)獲得4K低溫系統(tǒng),真空機(jī)工作獲得真空環(huán)境隔絕與外界的熱交換,保持4K溫度。光路系統(tǒng)將光信號(hào)輸入低溫系統(tǒng),電路系統(tǒng)將檢測(cè)到的信號(hào)放大并且控制芯片工作。?
本發(fā)明所述低溫弱光探測(cè)系統(tǒng)中,壓縮機(jī)位于系統(tǒng)最底部,制冷機(jī)置于壓縮機(jī)上層的位置,光路系統(tǒng)及電路系統(tǒng)更高于制冷機(jī)的位置。保證了系統(tǒng)重心平衡,便于光纜和電纜連接,減小機(jī)械振動(dòng)的影響。?
低溫系統(tǒng)采用閉循環(huán)制冷機(jī)獲得4K低溫環(huán)境,通以220V交流電源即可正常工作,避免了使用液氦等制冷劑,因此無(wú)需液氦杜瓦和液氦回收系統(tǒng)。?
利用本發(fā)明所述的低溫弱光檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行檢測(cè)的方法,包括如下步驟:?
(1)連接光信號(hào)和電路,通以220V交流電源;
(2)啟動(dòng)真空泵抽真空,制冷機(jī)樣品室獲得真空環(huán)境;
(3)啟動(dòng)壓縮機(jī)降溫,獲得低溫環(huán)境;
(4)打開(kāi)探測(cè)器控制電源和測(cè)量電路電源,進(jìn)行測(cè)量。
利用本發(fā)明系統(tǒng)檢測(cè)獲得低溫系統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)條件簡(jiǎn)單,使用方便,操作場(chǎng)所不限于實(shí)驗(yàn)室或地面作業(yè)工作站。?
本發(fā)明低溫弱光探測(cè)系統(tǒng)適用于低溫弱光檢測(cè)器芯片的常規(guī)工作溫度范圍4±1K,通過(guò)輻射屏蔽和增加加熱裝置,可擴(kuò)展其工作溫度到1.8-300K范圍。?
有益效果:1、本發(fā)明壓縮機(jī)位于系統(tǒng)最底部,制冷機(jī)置于壓縮機(jī)上層的位置,光路系統(tǒng)及電路系統(tǒng)更高于制冷機(jī)的位置,使得系統(tǒng)重心平衡,便于光纜和電纜連接,減小機(jī)械振動(dòng)的影響,增強(qiáng)了系統(tǒng)工作的穩(wěn)定性。2、采用閉循環(huán)制冷機(jī)獲得4K低溫環(huán)境,避免了使用液氦等制冷劑,通以220V交流電源即可,因此獲得低溫系統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)條件簡(jiǎn)單。3、本發(fā)明通過(guò)壓縮機(jī)和制冷機(jī)獲得4K低溫環(huán)境,連接電路,打開(kāi)光路即可進(jìn)行檢測(cè),因此操作地點(diǎn)不限,增強(qiáng)了低溫弱光探測(cè)系統(tǒng)的可移動(dòng)性,克服了低溫光探測(cè)器移動(dòng)的難題。?
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。?
圖2為本發(fā)明的實(shí)物結(jié)構(gòu)示意圖。?
具體實(shí)施方式
下面對(duì)本發(fā)明技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明,但是本發(fā)明的保護(hù)范圍不局限于所述實(shí)施例。?
實(shí)施例:如圖1所示,本發(fā)明可移動(dòng)式低溫弱光檢測(cè)系統(tǒng),包括4K低溫系統(tǒng)1、系統(tǒng)光路2、控制電源3和信號(hào)放大部分4,其中,4K低溫系統(tǒng)1由壓縮機(jī)、制冷機(jī)和真空系統(tǒng)組成;控制電源3和信號(hào)放大部分4同屬于芯片控制電路。檢測(cè)系統(tǒng)工作時(shí),通過(guò)低溫系統(tǒng)1將工作環(huán)境溫度降到并保持在4K。打開(kāi)光路系統(tǒng)2,光纖傳導(dǎo)光信號(hào),通過(guò)氣密性接口將光信號(hào)通入低溫系統(tǒng)1。芯片控制電路系統(tǒng)提供芯片工作所需的電源,芯片正常工作的控制以及輸出信號(hào)的放大。?
如圖2所示,本發(fā)明檢測(cè)系統(tǒng)包括箱體和設(shè)置在所述箱體中的真空系統(tǒng)1、芯片控制電路2、系統(tǒng)光路3、制冷機(jī)4和壓縮機(jī)5;所述箱體中橫向設(shè)置有一層隔板;所述制冷機(jī)4設(shè)置在所述隔板上,制冷機(jī)4中設(shè)置有樣品室;所述壓縮機(jī)5設(shè)置在所述箱體的底部,并與所述制冷機(jī)4連接為所述制冷機(jī)4中的樣品室提供低溫環(huán)境;制冷機(jī)4和壓縮機(jī)5實(shí)現(xiàn)低溫環(huán)境,通過(guò)閉循環(huán)制冷機(jī)獲得約4K的樣品臺(tái),降低樣品的溫度,達(dá)到其最佳工作狀態(tài)。所述真空系統(tǒng)1設(shè)置在箱體的上部空間,并與所述制冷機(jī)4連接為所述制冷機(jī)4中的樣品室提供真空環(huán)境,真空系統(tǒng)1控制制冷機(jī)內(nèi)樣品室真空度,通過(guò)真空隔絕外界和冷頭熱傳遞,并且減少芯片樣品的氧化造成的退化;所述系統(tǒng)光路3和芯片控制電路2設(shè)置在箱體的頂部空間的兩個(gè)側(cè)壁上,通過(guò)氣密接口將光信號(hào)和電信號(hào)導(dǎo)入所述制冷機(jī)4的樣品室。芯片控制電路2實(shí)現(xiàn)芯片電源的提供、芯片工作方式的控制和輸出信號(hào)的放大處理等;系統(tǒng)光路3通過(guò)光纖將檢測(cè)光信號(hào)輸入探測(cè)器檢測(cè)區(qū)域,實(shí)現(xiàn)超低損耗光傳輸和光信號(hào)的檢測(cè)。?
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