[發明專利]立體掃瞄裝置及其立體掃瞄方法

無效

• 申請號: 201210104315.1
• 申請日: 2012-04-11
• 公開（公告）號: CN103196385A
• 公開（公告）日: 2013-07-10
• 發明（設計）人: 沈宏祥;林旻進;姜崇義
• 申請（專利權）人: 華新麗華股份有限公司
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24;G01J3/46;G02B26/10;G02B27/10
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 陸勍

1.一種立體掃瞄裝置，包含：

一光源組，用以發射一可見光束及一非可見光束；

一掃描鏡元件，光學地耦合該光源組，該掃描鏡元件用來反射該可見光束及該非可見光束，以使該可見光束及該非可見光束投射至一待測物體的表面并沿著一預定掃瞄軌跡移動；

一測距元件，用以接收自該待測物體的表面所反射的一非可見反射光束；以及

一顏色分析元件，用以接收自該待測物體的表面所反射的一可見反射光束。

2.如權利要求1所述的立體掃瞄裝置，更包含有：

一分光鏡組，該光源組所發射的該可見光束及該非可見光束經由該分光鏡組聚光于該掃描鏡元件，以進行投射至該待測物體。

3.如權利要求1所述的立體掃瞄裝置，其中該測距元件更利用該掃描鏡元件沿著該預定掃瞄軌跡投射該非可見光束，而取得該待測物體的一表面輪廓信息。

4.如權利要求1所述的立體掃瞄裝置，其中該光源組包含一紅外光源或一紫外光源二者其中之一。

5.如權利要求1所述的立體掃瞄裝置，更包含有：

一旋轉平臺，用以承載并轉動該待測物體，該掃描鏡元件隨著該旋轉平臺的轉動，而將該可見光束及該非可見光束投射至該待測物體的不同表面。

6.如權利要求1所述的立體掃瞄裝置，其中該測距元件依據該非可見反射光束與該非可見光束的相位差，以計算該待測物體表面的一距離信息。

7.如權利要求1所述的立體掃瞄裝置，其中該顏色分析元件依據該可見反射光束與該可見光束的彩度值，以計算該待測物體表面的一顏色信息。

8.一種立體掃瞄方法，包含步驟：

發射一可見光束及一非可見光束；

沿著一預定掃瞄軌跡將該可見光束及該非可見光束投射至一待測物體的表面；

接收自該待測物體的表面所反射的一非可見反射光束；

計算對應該待測物體表面的一距離信息；

接收自該待測物體的表面所反射的一可見反射光束；以及

計算該待測物體表面的一顏色信息。

9.如權利要求8所述的方法，更包含步驟：

將該可見光束及該非可見光束聚合成一光點后，將該光點沿著該預定掃瞄軌跡投射至該待測物體的表面。

10.如權利要求9所述的方法，更包含步驟：

沿著該預定掃瞄軌跡投射該非可見光束，以取得該待測物體的表面輪廓信息。

11.如權利要求9所述的方法，更包含步驟：

旋轉該待測物體，并將該可見光束及該非可見光束投射至該待測物體的不同表面。

12.如權利要求9所述的方法，更包含步驟：

從至少二不同的位置，將該可見光束及該非可見光束投射至該待測物體的不同表面。

13.如權利要求9所述的方法，其中計算對應該待測物體表面的該距離信息包含有：

依據該非可見反射光束與該非可見光束的相位差，以計算該待測物體表面的該距離信息。

14.如權利要求9所述的方法，其中計算該待測物體表面的該顏色信息包含有：

依據該可見反射光束與該可見光束的彩度值，以計算該待測物體表面的該顏色信息。