[發明專利]陣列型光模塊

有效

• 申請號: 201210103726.9
• 申請日: 2012-04-10
• 公開（公告）號: CN102736197A
• 公開（公告）日: 2012-10-17
• 發明（設計）人: 山下悠斗;佐佐木惠逸;荻野悅男;田村保曉;赤堀裕二;鈴木雄一
• 申請（專利權）人: 北日本電線株式會社;NTT電子股份有限公司
• 主分類號: G02B6/42
• 分類號: G02B6/42;G02B6/293
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 許海蘭

技術領域

本發明涉及容易并且廉價地制造測量各通道的信號強度的陣列型光模塊的技術。

背景技術

作為光纖通信的復用方式，存在波分復用方式。此處，如果波分復用信號的各波長通道的信號強度不齊，則波分復用信號的各波長通道的S/N變得不齊，而無法確保充分的系統余量。因此，使用陣列型光模塊，來測量波分復用信號的各波長通道的信號強度。然后，根據其測量結果，使用摻鉺光纖放大器，來調節波分復用信號的各波長通道的信號強度。

在專利文獻1-4中公開了測量單一波長通道的信號強度的光模塊，能夠使這些光模塊陣列化來制造測量多個波長通道的信號強度的陣列型光模塊。

專利文獻1公開的在線監視器由入射光纖、出射光纖、柱透鏡、包括透光部的反射膜以及受光檢測元件構成。單一波長通道的光信號經由入射光纖以及柱透鏡而到達反射膜。用受光檢測元件來檢測到達反射膜中的透光部的光信號。到達反射膜中的反射部的光信號經由柱透鏡以及出射光纖而輸出到傳送路徑。

專利文獻2公開的光發送接收模塊由發光元件、受光元件、波長選擇濾色片、包括光纖以及鉆孔的壁面構成。由發光元件生成發送光信號，通過波長選擇濾色片被單色化而發送到光纖。從光纖接收接收光信號，被波長選擇濾色片反射而用受光元件檢測。此處，發送光信號在被波長選擇濾色片反射了時，不一定輸入到受光元件。因此，通過在發光元件以及波長選擇濾色片之間的壁面中配置鉆孔，使由波長選擇濾色片反射了的發送光信號在壁面的鉆孔中反射而不會使其輸入到受光元件。

專利文獻3公開的單向性光功率監視器由入射光纖、出射光纖、GRIN透鏡、TAP膜、光二極管、以及插入安裝GRIN透鏡及光二極管的圓孔的中心軸偏移了的套構成。單一波長通道的光信號經由入射光纖以及GRIN透鏡而到達TAP膜。用光二極管來檢測由TAP膜透射了的光信號。由TAP膜反射了的光信號經由GRIN透鏡以及出射光纖而輸出到傳送路徑。此處，雖然應使用光二極管來檢測來自入射光纖的光信號，但能夠用光二極管來檢測來自出射光纖的返回光。因此，通過在插入安裝GRIN透鏡以及光二極管的圓孔的連接位置配置中間壁，而使來自出射光纖的返回光在中間壁中反射而不使其輸入到光二極管。

專利文獻4公開的光監視模塊由入射光纖、出射光纖、入射用透鏡部、出射用透鏡部、分束器以及光電二極管構成。單一波長通道的光信號經由入射光纖以及入射用透鏡部而到達分束器。用光電二極管來檢測由分束器透射了的光信號。由分束器反射了的光信號經由出射用透鏡部以及出射光纖而輸出到傳送路徑。此處，為了使從入射用透鏡部出射的光信號導光到分束器的方向，調節入射用透鏡部的出射端處的入射用透鏡部相對中心軸的傾斜角度。另外，為了使由分束器反射了的光信號導光到出射光纖的方向，調節出射用透鏡部的入射端處的出射用透鏡部相對中心軸的傾斜角度。

【專利文獻1】日本特開平2-141709號公報

【專利文獻2】日本特開2007-057859號公報

【專利文獻3】日本特開2007-206584號公報

【專利文獻4】日本專利第3798408號說明書

發明內容

能夠使專利文獻1-4公開的測量單一波長通道的信號強度的光模塊陣列化來制造測量多個波長通道的信號強度的陣列型光模塊。但是，需要大量的工序，無法容易并且廉價地制造，無法小型化。

在專利文獻1公開的在線監視器中，需要在小面積的反射膜中精密地設定透光部的配置位置。在專利文獻2公開的光發送接收模塊中，需要在小面積的壁面中精密地設定鉆孔的配置位置。在專利文獻3公開的單向性光功率監視器中，需要使插入安裝GRIN透鏡以及光二極管的圓孔的中心軸偏移，構造復雜且加工困難。在專利文獻4公開的光監視模塊中，需要精密地調節入射用透鏡部的出射端處的入射用透鏡部相對中心軸的傾斜角度，并需要精密地調節出射用透鏡部的入射端處的出射用透鏡部相對中心軸的傾斜角度。

還能夠應用專利文獻1公開的在線監視器，配置光纖陣列以及受光元件陣列來制造測量多個波長通道的信號強度的陣列型光模塊。此處，為了防止波分復用信號的各波長通道之間的串擾，需要在受光元件陣列中精密地設定針孔的配置位置。但是，在受光元件的封裝中，需要同時進行受光元件的氣密密封加工以及針孔的精密配置。因此，無法容易并且廉價地制造，無法使高密度陣列化以及低串擾共存。

因此，為了解決所述課題，本發明的目的在于，提供在測量各通道的信號強度的陣列型光模塊中，容易并且廉價地制造，而且使高密度陣列化以及低串擾共存。