[發明專利]一種精確對中定位裝置無效
| 申請號: | 201210103711.2 | 申請日: | 2012-04-10 |
| 公開(公告)號: | CN102615566A | 公開(公告)日: | 2012-08-01 |
| 發明(設計)人: | 王安定;邢廷文 | 申請(專利權)人: | 中國科學院光電技術研究所 |
| 主分類號: | B24B13/005 | 分類號: | B24B13/005 |
| 代理公司: | 北京科迪生專利代理有限責任公司 11251 | 代理人: | 楊學明;顧煒 |
| 地址: | 610209 *** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 精確 定位 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及定位裝置的技術領域,尤其是一種精確對中定位裝置,其特別適用于離子束拋光機的對中定位裝置。?
背景技術
離子束拋光機是離子束拋光技術,該技術是現代光學加工技術中非常先進的一種光學鏡面磨制技術,是原子量級上的無應力、非接觸式的拋光技術。拋光過程由計算機控制,具有加工精度高,無應力,加工面潔凈無污染的特點,特別適合加工非球面鏡面、正六邊形鏡面等,具有傳統工藝無法比擬的優越性,同時還能提高工作效率,顯著提高表面質量。?
離子束拋光機基本原理是利用被加速的高能粒子與工作表面原子核直接產生彈性碰撞,通過慣量轉移的方法,將粒子能量傳遞給工件材料的原子,使部分工件原子產生濺射,逸出工件表面,從而將缺陷表面材料去除。?
由于離子束拋光機的拋光是最后的去除工序,是對缺陷部位的定點清除,因此需要對缺陷部位的位置進行精確找正。加工時,無論工件及夾具保持靜止狀態或者位置可控的運動狀態,對中定位裝置或對工件直接對中定位,或通過夾具對工件對中定位。?
傳統對中定位裝置因為沒有遲延機構而導致全部對中塊不能準確可靠接觸,而不能實現工件或夾具的精確定位,或者使用初期能實現對中定位,但隨著磨損與松動的出現,需要不斷地進行調節,從而影響對中定位裝置的使用精度。?
發明內容
本發明的目的是提供一種精確對中定位裝置,其是一種結構簡單的各對中定位塊有相對遲延的對中定位裝置,解決工件的對中定位問題及通過夾具解決工件的對中定位問題。?
本發明的目的是這樣實現的:一種精確對中定位裝置,該裝置包括:?
傳送機構,用于提供動力,其為柔性傳送機構或剛性傳送機構;?
裝夾機構,包括基準裝夾結構和非基準裝夾結構;所述的基準裝夾結構包括拖板一、導向桿一、一組內導向桿座及外導向桿座、滑塊一、基準對中定位塊、調節鎖緊機構和定位機構;拖板一與滑塊一固定連接,一組內導向桿座及外導向桿座用來固定導向桿一,導向桿一對滑塊一進行導向;所述的非基準裝夾結構包括:拖板二、導向桿二、另一組內導向桿座及外導向桿座、滑塊二、非基準對中塊、調節鎖緊機構和定位機構;拖板二與滑塊二通過遲延?機構連接,另一組內導向桿座及外導向桿座用來固定導向桿二,導向桿二對滑塊二進行導向;基準對中定位塊、非基準對中塊在導向桿一、導向桿二的導向作用下對夾具或工件裝夾定位;?
所述的遲延機構,其是有間隙的孔軸配合或不完全齒輪組,用于傳送機構在起始運動時刻非基準定位塊產生位移遲延;?
所述的基準裝夾結構和非基準裝夾結構中所述的調節鎖緊機構均包括調節機構及鎖緊機構;所述的定位機構按設定位置利用基準裝夾結構和非基準裝夾結構中所述的調節鎖緊機構將基準裝夾結構及非基準裝夾結構準確鎖定。?
進一步的,所述的柔性傳送機構為無齒帶或多齒帶或同步帶或鏈條。?
進一步的,所述的剛性傳送機構為對稱安放的齒條或對稱安裝的連桿機構。?
進一步的,基準裝夾結構和非基準裝夾結構中所述的調節鎖緊機構鎖緊力為磁力、液壓力或機械力。?
本發明的原理在于:?
本發明的傳送機構串接固定基準對中定位塊及通過遲延機構連接其它非基準對中定位塊,基準對中定位塊先于其它非基準對中定位塊與定位塊接觸并定位,基余對中定位塊在補償行程間隙后與相對應定位塊接觸并定位,調節鎖緊機構通過鎖緊力鎖緊各定位塊。?
本發明與現有技術相比的優點在于:?
1)、本發明由于本發明具有遲延機構,從而可以實現所有對中塊能準確可靠接觸,實現精確定位。?
2)、本發明結構簡單,易于實施。?
附圖說明
圖1為一種精確對中定位裝置結構示意圖;?
圖2為遲延機構結構示意圖;?
附圖標記說明:1為同步帶;2為拖板一;3為導向桿一;4為內導向桿座;5為滑塊一;6為調節桿一;7為止擋;8為基準對中定位塊;9為拖板二;10為固定銷;11為回轉銷;12為調節桿二;13為非基準對中塊;14為滑塊二;15為導向桿二;16為外導向桿座;17為外導向桿座;18為內導向桿座。?
具體實施方式
下面結合附圖和具體實施方式對本發明作進一步詳細地描述。?
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院光電技術研究所,未經中國科學院光電技術研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210103711.2/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





