[發明專利]液晶面板、液晶模組及厘清其畫面不良的原因的方法

有效

• 申請號: 201210103302.2
• 申請日: 2012-04-10
• 公開（公告）號: CN102621721A
• 公開（公告）日: 2012-08-01
• 發明（設計）人: 鄧明鋒;蔡榮茂;廖學士;莊益壯;文松賢
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G02F1/1362;G02F1/1368
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 何青瓦;丁建春

技術領域

本發明涉及液晶顯示領域，特別是涉及液晶面板、液晶模組及厘清其畫面不良的原因的方法。

背景技術

因液晶顯示器輻射低、耗電少以及重量輕等優點，使得越來越多的電子產品紛紛采用液晶顯示器作為其顯示面板，如手機、電腦和電視等。其中，TFT(Thin?Film?Transistor，薄膜場效應晶體管)液晶顯示器是液晶顯示器中的一種。

薄膜場效應晶體管液晶顯示器的工作原理是：通過適當的電壓加載在陣列玻璃基板和彩色濾光玻璃基板結合的液晶層，使液晶層中的液晶分子在電壓作用下發生偏轉，通過不同的電壓控制以得到不同的穿透率，從而實現液晶顯示。

薄膜場效應晶體管液晶顯示器的制造過程分為Array(陣列)制程、Cell(組立)制程以及Module(模組)制程。Array制程與半導體制程相似，不同的是將薄膜場效應晶體管制作于玻璃上，獲得薄膜電晶體玻璃基板。Cell制程是將Array制程獲得的薄膜電晶體玻璃基板與CF(Color?filter，彩色濾光)玻璃基板結合，并在兩個基板之間注入液晶后貼合，再將大片玻璃切割成多個面板。Module制程是將Cell制程獲取的面板與其他組件如背光板、電路板等組裝一起。

在Cell制程中，還需要對面板進行畫面檢測，檢測技術主要是采用Shorting?bar(短路棒)面板布線的方式，如圖1所示。圖1中，通過將面板10內所有的R、G、B數據電極分別在外圍短接出測試點1、測試點2和測試點3，同時將所有掃描線的奇線20和偶線21分別短接引出至測試點4和測試點5。測試點6為公共電極。在進行畫面測試時，短路棒測試機臺將測試信號加至相應的測試點1、2、3、4、5和6，即可點亮產品進行缺陷檢查。在完成Cell制程的畫面測試后，正常的產品通過使用Laser(鐳射)機臺把短路棒測試引線切斷，即在如圖1所示的虛線7的位置，將測試點1、2、3、4、5和6的測試引線進行鐳射切斷。切斷后的產品再進行偏光片貼合成面板，然后進行下一個Module制程。

在Module制程中，對面板進行COF(Chip?On?Film，膜上芯片)貼合以及電路板的組裝后，還要進行Module制程的畫面測試。當測試出產品畫面不良時，需要厘清出現不良的原因是Cell制程工藝造成還是Module制程工藝造成。但是，在Cell制程中已經將短路棒的測試引線在鐳射機臺中切斷，無法再次使用Cell制程工藝中的短路棒測試引線對畫面進行測試，這樣就難以厘清Module制程中出現畫面不良的原因了，影響產品的生產。在另一方面，由于Cell制程中已經將進行畫面測試的測試引線鐳射切斷，使得在后續作業的可靠性保證測試時，無法對Cell制程工藝的畫面做檢查，從而無法保證產品的質量。

發明內容

本發明主要解決的技術問題是提供一種液晶模組、液晶面板及厘清其畫面不良的原因的方法，能夠在組立制程后續的生產階段繼續使用短路棒區域的測試引線對液晶面板進行畫面檢測，實現在產品畫面出現不良時，厘清是組立制程工藝的原因還是模組制程工藝的原因，從而有助于進行畫面不良的改進。

為解決上述技術問題，本發明采用的一個技術方案是：提供一種液晶面板，包括像素區域和設置于像素區域外圍的測試用短路棒區域；液晶面板的像素區域設置有多條數據信號線、多條掃描信號線以及公共電極，短路棒區域包括第一區域和第二區域；第一區域設置有多個第一開關電路、多個掃描信號測試點以及公共電極測試點，第二區域設置有多個數據信號測試點，還設置有多個第一單向電路或第二開關電路；每條數據信號線均通過一個第一單向電路或第二開關電路與數據信號測試點連接，第一單向電路的輸入端連接數據信號測試點，輸出端連接數據信號線；每條掃描信號線均通過一個第一開關電路與掃描信號測試點連接；公共電極與公共電極測試點連接。

其中，第一區域還設置有第一開關電路的控制信號輸入點；第一開關電路是薄膜場效應晶體管，包括源極、漏極和柵極，源極與掃描信號線連接，漏極與掃描信號測試點連接，柵極與第一開關電路的控制信號輸入點連接。

其中，第一單向電路是二極管，二極管的陽極與數據信號測試點連接，二極管的陰極與數據信號線連接。

其中，第二區域還設置有第二開關電路的控制信號輸入點；第二開關電路包括第一端、第二端以及控制端，第一端與數據信號測試點連接，第二端與數據信號線連接，控制端與第二開關電路的控制信號輸入點連接，控制第二開關電路在進行產品測試時導通，其余時間斷開。