[發明專利]薄膜晶體管有效
| 申請號: | 201210102931.3 | 申請日: | 2012-04-10 |
| 公開(公告)號: | CN102664194A | 公開(公告)日: | 2012-09-12 |
| 發明(設計)人: | 許民慶;吳釗鵬;黎昔耀;曹巖 | 申請(專利權)人: | 深超光電(深圳)有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/786 | 分類號: | H01L29/786 |
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| 地址: | 518109 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 薄膜晶體管 | ||
1.一薄膜晶體管,包括:
一基板;
一柵極,設置于該基板上;
一柵絕緣層,覆蓋該柵極及該基板;
一主動層,設置于該柵絕緣層上,并位于該柵極上方;
一源極,設置于該主動層上;
一漏極,設置于該主動層上,并與該源極相對設置;
其中,該柵絕緣層包括設置于柵極及該基板上的第一柵絕緣層、在該第一柵絕緣層之上的第二柵絕緣層,且該第一柵絕緣層的膜質比該第二柵絕緣層的膜質致密。
2.如權利要求1所述的薄膜晶體管,其特征在于:該絕緣層更包括一第三柵絕緣層,該第三柵絕緣層夾置于該第一柵絕緣層和該第二柵絕緣層之間,且該第三柵絕緣層的膜質要比該第二柵絕緣層的膜質疏松。
3.如權利要求2所述的薄膜晶體管,其特征在于:該第一柵絕緣層的折射率大于1.9,該第二柵絕緣層的折射率比該第一柵絕緣層的折射率要小0.02~0.03,該第三柵絕緣層的折射率要小于該第二柵絕緣層。
4.如權利要求3所述的薄膜晶體管,其特征在于:該第三柵絕緣層的折射率為1.82~1.87。
5.如權利要求2所述的薄膜晶體管,其特征在于:該第一柵絕緣層的厚度介于?到?之間,該第二柵絕緣層的厚度大體上為?該第三柵絕緣層的厚度為?
6.如權利要求2所述的薄膜晶體管,其特征在于:該第一柵絕緣層、該第二柵?絕緣層、該第三柵絕緣層的材料為氮化硅。
7.如權利要求1所述的薄膜晶體管,其特征在于:該第一柵絕緣層的折射率大于1.9,該第二柵絕緣層的折射率比該第一柵絕緣層的折射率要小0.02~0.03。
8.如權利要求1所述的薄膜晶體管,其特征在于:該第一柵絕緣層、該第二柵絕緣層材料為氮化硅。
9.如權利要求1所述的薄膜晶體管,其特征在于:該主動層包括有源層和歐姆接觸層,該有源層位于該柵絕緣層之上,該歐姆接觸層位于該有源層之上,且該歐姆接觸層之上設置該源極和該漏極。
10.如權利要求9所述的薄膜晶體管,其特征在于:該有源層的材料為非晶硅(a-Si),該歐姆接觸層為在非晶硅里面摻雜P(磷)元素形成。
11.如權利要求1所述的薄膜晶體管,其特征在于:該主動層的材料為IGZO、IZO、ZnO、ZnSnO、GIZO之一。
12.一薄膜晶體管,包括:
一基板;
一柵極,設置于該基板上;
一柵絕緣層,覆蓋該柵極及該基板;
一主動層,設置于該柵絕緣層上,并位于該柵極上方;
一源極,設置于該主動層上;
一漏極,設置于該主動層上,并與該源極相對設置;
其中,該柵絕緣層包括設置于柵極及該基板上的第一柵絕緣層、在該第一柵絕緣層之上的第二柵絕緣層,且該柵絕緣層包含N-H鍵、Si-H鍵鍵結,該第一柵絕緣層N-H鍵、Si-H鍵含量小于該第二柵絕緣層N-H鍵、Si-H鍵含量。?
13.如權利要求12所述的薄膜晶體管,其特征在于:該第一柵絕緣層N-H鍵、Si-H鍵含量小于15%,該第二柵絕緣層N-H、Si-H鍵含量小于20%。
14.如權利要求12所述的薄膜晶體管,其特征在于:該柵絕緣層更包括一第三柵絕緣層,該第三柵絕緣層夾置于該第一柵絕緣層和該第二柵絕緣層之間,且該第三柵絕緣層N-H鍵、Si-H鍵含量大于該第二柵絕緣層N-H鍵、Si-H鍵含量。
15.如權利要求14所述的薄膜晶體管,其特征在于:該第三柵絕緣層中N-H鍵、Si-H鍵含量大于20%。
16.如權利要求14所述的薄膜晶體管,其特征在于:該第一柵絕緣層的厚度介于?到?之間,該第二柵絕緣層的厚度大體上為?該第三柵絕緣層的厚度為?
17.如權利要求12或14所述的薄膜晶體管,其特征在于:該柵絕緣層的材料為氮化硅。
18.如權利要求12所述的薄膜晶體管,其特征在于:該主動層的材料為非晶矽、IGZO、IZO、ZnO、ZnSnO、GIZO之一。
19.如權利要求12或14所述的薄膜晶體管,其特征在于:該柵絕緣層還包括Si-N鍵、N-N鍵、Si-Si鍵鍵結。?
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