[發(fā)明專利]一種紅外光譜儀反射附件有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210101360.1 | 申請日: | 2012-04-09 |
| 公開(公告)號: | CN102608033A | 公開(公告)日: | 2012-07-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 姜秀娥;安宅慧一;白靜 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院長春應(yīng)用化學(xué)研究所 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N21/15 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 魏曉波;逯長明 |
| 地址: | 130022 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 紅外 光譜儀 反射 附件 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光譜檢測的技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種紅外光譜儀反射附件。
背景技術(shù)
紅外光譜分析可用于研究分子的結(jié)構(gòu)和化學(xué)鍵,也可以作為表征和鑒別化學(xué)物種的方法,還可以依照其特征吸收峰的強度來檢測混合物中各組分的含量,具有高靈敏度、試樣用量少、能分析各種狀態(tài)試樣等的特點。目前,應(yīng)用最廣泛的是傅里葉變換紅外光譜儀,其被稱為第三代紅外光譜儀,它利用邁克爾遜干涉儀將兩束光程差按一定速度變化的復(fù)色紅外光相互干涉,形成干涉光,再與樣品作用,實現(xiàn)對樣品的檢測。與經(jīng)典的紅外光譜相比,傅里葉變換紅外光譜儀具有信號多路傳輸、輻射通量大、波數(shù)精度高;分辨率高等優(yōu)點,在材料分析中是最常用的工具之一。基于傅里葉變換紅外優(yōu)異的性質(zhì),其被廣泛應(yīng)用于物理、天文、氣象、遙感、化學(xué)、醫(yī)學(xué)、生物、食品、環(huán)保等許多領(lǐng)域,尤其多用于研究生物分子結(jié)構(gòu)的變換,從而揭示生命現(xiàn)象的本質(zhì)。
傳統(tǒng)的傅里葉變換紅外光譜儀多采用透射的模式對樣品進行測量。透射模式一般采用壓片或涂抹的方式進行制樣,對樣品進行檢測時,透射模式要求樣品具有較好的紅外通透性,這就限制了透射模式的紅外光譜儀在對紅外光不透明樣品檢測中的應(yīng)用。為了實現(xiàn)對不透明物質(zhì)進行紅外光譜檢測,現(xiàn)有技術(shù)中發(fā)展了反射吸收紅外光譜(IRAS),這種模式的紅外光譜儀能夠檢測到樣品界面分子的結(jié)構(gòu)變化,但是得到的光譜信息是多層分子的紅外光譜數(shù)據(jù),不利于對樣品分子結(jié)構(gòu)進行分析和判斷,而且這種反射吸收紅外光譜儀中的全反射附件價格昂貴,限制了反射吸收紅外光譜的廣泛應(yīng)用。
為了實現(xiàn)對樣品的單層分子結(jié)構(gòu)進行檢測,現(xiàn)有技術(shù)中發(fā)展了表面增強紅外光譜(SEIRAS),其能夠使被檢測分子的紅外吸收強度增強10~1000倍,甚至更高,從而能夠?qū)崿F(xiàn)對單層分子的檢測。SEIRAS實現(xiàn)待測物質(zhì)分子紅外吸收的增強是通過在反射紅外光譜儀晶體的表面鍍上粗糙的金屬,晶體表面的粗糙的金屬能夠在紅外光的激發(fā)下產(chǎn)生表面局域電場,從而使吸附在粗糙金屬表面的待測分子的紅外吸收增加。在現(xiàn)有技術(shù)中,紅外光譜儀的反射附件中的晶體固定在紅外光譜儀中,不能對這種晶體進行方便地安裝和拆卸,因此不利于金屬在晶體表面的沉積或清除,限制了其在SEIRAS中的應(yīng)用。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種紅外光譜儀的反射附件,本發(fā)明提供的紅外光譜儀的反射附件可方便地對其中的晶體進行安裝和拆卸,增強了紅外光譜儀的實用性。
本發(fā)明提供一種紅外光譜儀的反射附件,包括第一反射鏡和第二反射鏡、用于樣品檢測的晶體,其特征在于,還包括晶體安裝架和可移動面板,所述晶體安裝架可拆卸地設(shè)置在所述可移動面板上。
優(yōu)選的,所述晶體安裝架包括安放晶體的凹槽和與所述凹槽相匹配的蓋。
優(yōu)選的,所述可移動面板為可移動面包板。
優(yōu)選的,還包括可拆卸地設(shè)置于所述可移動面板上的第一支撐桿;
所述晶體安裝架設(shè)置于所述第一支撐桿上。
優(yōu)選的,還包括設(shè)置于所述第一支撐桿上的第一支桿夾;
所述晶體安裝架設(shè)置于所述第一支桿夾上。
優(yōu)選的,還包括可拆卸地設(shè)置于所述可移動面板上的第二支撐桿和第三支撐桿;
所述第一反射鏡設(shè)置于所述第二支撐桿上;
所述第二反射鏡設(shè)置于所述第三支撐桿上。
優(yōu)選的,還包括設(shè)置于所述第二支撐桿上的第二支桿夾和設(shè)置于所述第三支撐桿上的第三支桿夾;
所述第一反射鏡設(shè)置于所述第二支桿夾上;
所述第二反射鏡設(shè)置于所述第三支桿夾上。
優(yōu)選的,還包括設(shè)置于所述第二支桿夾上的第一夾持器和設(shè)置于所述第三支桿夾上的第二夾持器;
所述第一反射鏡設(shè)置于所述第一夾持器上;
所述第二反射鏡設(shè)置于所述第二夾持器上。
優(yōu)選的,所述第一反射鏡、所述第二反射鏡與所述晶體位于同一豎直平面內(nèi)。
優(yōu)選的,所述晶體為正三棱柱形的硅晶體。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





