[發明專利]一種薄膜場效應晶體管基板玻璃熔解引出量的控制方法

無效

• 申請號: 201210101296.7
• 申請日: 2012-03-31
• 公開（公告）號: CN102627388A
• 公開（公告）日: 2012-08-08
• 發明（設計）人: 趙亮
• 申請（專利權）人: 彩虹(合肥)液晶玻璃有限公司
• 主分類號: C03B17/06
• 分類號: C03B17/06
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 徐文權

技術領域

本發明屬于TFT基板玻璃制造領域，涉及一種TFT基板玻璃熔解引出量的控制方法。

背景技術

TFT基板玻璃制造的熔解生產中，熔制好的玻璃液通過對引出量的精確控制，才能保證成型質量穩定。實際生產中，后工序對引出量稱量時間與熔解溫度變化時間有一定的時間差，反應比較滯后，同時單品稱量結果差異大，重量變化趨勢容易造成誤判，引出量控制時間拖后，造成需要較大調整幅度才能將引出量控制穩定，這會導致引出量波動幅度增大，同時波動時間加長，造成很大浪費，同時引起產品質量波動不穩定。

在已知的現有技術中，更多是通過觀察后工序引出量的稱量結果來進行調整，目前還沒有通過觀察溫度變化，提前發現引出量變化趨勢并采取控制措施的技術。

發明內容

本發明的目的在于克服上述現有技術的缺點，提供一種TFT基板玻璃熔解引出量的控制方法，通過觀察關鍵點溫度變化方向，調整此溫度點以后各個加熱器加熱功率，改變此區域溫度，調整引出量的大小，達到有效控制引出量的目的。

本發明的目的是通過以下技術方案來解決的：

包括如下步驟：

控制玻璃液的流量方向，依次流過高溫區、監控區、低溫區和稱重區；判斷玻璃液引出量是否增加；如果增加，則調整低溫區加熱功率改變玻璃黏度，使得玻璃液流動速度降低，從而降低監控區溫度并降低引出量。所述引出量的增加是由于高溫區溫度增加引起的。

本發明所述的TFT基板玻璃熔解引出量的控制方法，通過監測關鍵控制點溫度的變化，在引出量出現變化的跡象時就能很準確的判斷，并通過對引出量的調整，改變此監控點的溫度，在異常情況下還可以通過控制此溫度點之前的加熱功率，對此溫度監控點進行調整，達到對引出量有效控制的目的，提高了產品質量，保證生產穩定。

附圖說明

圖1為本發明的控制示意圖。

具體實施方式

下面結合示意圖對本發明做進一步詳細描述：

參見圖1，本發明的方法要解決的問題是稱重滯后引起的引出量波動的問題，提前采取措施加以控制。

如圖1所示，在玻璃制造過程中，隨著玻璃液的流動方向，玻璃液依次流過高溫區、監控區、低溫區和稱重區。如果玻璃液引出量出現增加，則高溫區進入監控區的玻璃液量會增加，導致監控區溫度發生變化，可以通過調整低溫區加熱功率改變玻璃黏度，降低玻璃液流動速度，進而降低引出量；同時當高溫區溫度發生異常波動，可能導致后續引出量變化時，會首先引起監控區溫度變化，此時可以對低溫區加熱功率預先調整，保證引出量的穩定。

此控制方法的監控區的溫度僅受引出量變化影響，此監控區的加熱器加熱量是恒定的，并且不受外界環境溫度和濕度的變化的影響。才能在引出量發生變化時對此控制溫度點影響是唯一的，最終才能準確的反應引出量的變化，達到準確控制引出量的目的。