[發明專利]多類型玻璃瑕疵檢測裝置及檢測方法

無效

• 申請號: 201210100519.8
• 申請日: 2012-04-09
• 公開（公告）號: CN102608132A
• 公開（公告）日: 2012-07-25
• 發明（設計）人: 朱崢嶸;埃德加·吉尼奧
• 申請（專利權）人: 昆山勝澤光電科技有限公司
• 主分類號: G01N21/958
• 分類號: G01N21/958
• 代理公司: 南京正聯知識產權代理有限公司 32243
• 代理人: 郭俊玲

技術領域

本發明涉及玻璃檢測領域，特別涉及一種多類型玻璃瑕疵檢測裝置及檢測方法。

背景技術

常用的玻璃檢測方法一般通過使用一個鏡頭系統來將瑕疵成像到照相機或電子成像裝置中就可以呈現玻璃平板中的瑕疵，這種方法對與周圍玻璃材料光學特性的相差很大從而界面清晰可見和高反差的瑕疵很有效。這種瑕疵的例子一般是玻璃里的氣泡和雜質。

????然而，另一種玻璃瑕疵，并沒有清晰的分界也沒有可以輕易從周圍玻璃材質中分辨出來的光學特性它們的光學特性僅輕微的差別。這種類型的瑕疵最好是通過影相技術來檢測。通過影相技術，一道平行光源照射到玻璃平板上，局部的密度變化通過稍微折射光線來充當光學元件。在一個遠場的位置，由于透鏡效應在玻璃的相應位置將有一些明暗點。這種方法已經被了解和普遍使用了很長一段時間了。

兩種方法，成像技術和影相技術，但是他們是用了不同光學方法來檢測瑕疵，最好用成像技術來檢測有清晰的邊界在光學特性方面與周圍玻璃材質的光學特性有很大反差的瑕疵，這種類型的瑕疵一般會通過使用一種光學裝置，通常是透鏡或透鏡系統。

????然而這些缺陷不能用影相技術檢測，在影相技術的成像距離上，這些瑕疵將很難干擾到照明區域，從衍射效應反過來能讓定位瑕疵很難。

另一方面，對于很難被成像方法探測的瑕疵最好用影相技術探測，這些瑕疵只是在密度或者光學性質方面有細微的局部變化，當瑕疵有與周圍的玻璃有清晰的邊界和高對比的時候成像技術才會發揮最好的作用。

現在通常在用的很多玻璃檢測系統都是成像模式，一般來說，它并不能被用來檢測上述的密度瑕疵，同樣的，影像裝置不能最好的顯現玻璃表面的物質或瑕疵。

發明內容

為了克服上述缺陷，本發明提供了一種可以同時檢測玻璃表面物質和瑕疵及密度瑕疵的檢測裝置及檢測方法。

本發明為了解決其技術問題所采用的技術方案是：一種多類型玻璃瑕疵檢測裝置，其包括

一顯像屏，顯示玻璃表面的物質或者瑕疵；

一透鏡；

一第一分光鏡，導出部分光源；

一第二分光鏡，將部分導出的光源引射到顯像屏；

第一反光鏡和第二反光鏡，用于反射導出的部分光源。

所述顯像屏、透鏡、第二分光鏡和第一分光鏡依次設于主光軸上，所述兩片反光鏡位于主光軸一側。

一種多類型玻璃瑕疵檢測的方法，包括以下步驟；

A、用光源沿主光軸照射玻璃樣品，光源經過第一分光鏡時，光源被分為兩部分；

B、光源的一部分直接穿過第一分光鏡、第二分光鏡后，在透鏡的作用下，將玻璃表面的物質和瑕疵顯示在顯像屏上；

C、光源的另一部分經過第一分光鏡導出后，再經過主光軸一側的第一反光鏡和第二反光鏡反射至第二分光鏡上，第二分光鏡再將這部分光源引射到透鏡上，經過透鏡作用，將玻璃的密度瑕疵同時顯示在顯像屏上。

作為本發明的進一步改進，通過調整所述第一分光鏡在主光軸上的位置及對應第一反光鏡位置來控制玻璃樣品與第一反光鏡之間的距離。

在玻璃平板中的瑕疵是多種多樣的，會有不同的光學反應，有些瑕疵像氣泡，雜質能被直接很輕易的顯示，這種瑕疵的影像是小的，運用一個光學成像裝置，通過將瑕疵聚焦到成像裝置或照相機中。

有些缺陷，比如條紋在玻璃內部是很小的密度變化，圖像形成的光學裝置并不是探測這種類型圖像的最好方法，針對這類瑕疵只要有在密度和折光率方面有細微的變化，需要采用不同于這種成像方式的方法。

在該裝置中，玻璃被平行光束從一面照射，構成瑕疵的小的密度漸變會造成一種透鏡效應會使平行光線發生偏轉、扭曲，一段距離外反光鏡或探測儀就會探測到更亮或更暗照明的區域，而這就成了有瑕疵的標志了，這種探測方式被普遍稱之為影相術，而另外的方法就是聚焦照明的集中影相術，利用瑕疵能使光束偏轉和扭曲，在反光鏡或探測平臺上產生亮、暗區域的透鏡效應。

本發明的有益效果是：本發明只采用一個單獨的成像系統就可以包含成像技術和影相技術的雙方面的好處和特點，同時，這個裝置還有檢測不同中玻璃瑕疵，節約成本，增加效益的好處。

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附圖說明

圖1為現有成像模式的檢測方法示意圖；

圖2為現有影相模式的檢測方法示意圖；?

圖3為本發明的結構及方法示意圖。

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具體實施方式

為了加深對本發明的理解，下面將結合實施例和附圖對本發明作進一步詳述，該實施例僅用于解釋本發明，并不構成對本發明保護范圍的限定。