[發(fā)明專利]基于機器視覺的金屬蓋表面缺陷檢測設(shè)備

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210099802.3
• 申請日: 2012-04-09
• 公開（公告）號: CN102608127A
• 公開（公告）日: 2012-07-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 楊軍;侯文峰;吳盛鈞
• 申請（專利權(quán)）人: 杭州智感科技有限公司
• 主分類號: G01N21/892
• 分類號: G01N21/892
• 代理公司: 杭州天欣專利事務(wù)所 33209
• 代理人: 陳琳

1.一種基于機器視覺的金屬蓋表面缺陷檢測設(shè)備，安裝在金屬蓋生產(chǎn)線上，包括傳感器、裝有光學(xué)鏡頭的相機、光源、計算機和剔除裝置，所述的傳感器裝在金屬蓋生產(chǎn)線的一側(cè)，光源與對應(yīng)的相機裝在金屬蓋生產(chǎn)線的上方，剔除裝置裝在光源后端金屬蓋生產(chǎn)線下游的一側(cè)，計算機分別與傳感器、相機和剔除裝置電連接，其特征在于：所述的金屬蓋生產(chǎn)線上至少設(shè)置兩個檢測工位，每個檢測工位上通過支架安裝固定有一個光源和一個裝有光學(xué)鏡頭的相機，其中一個檢測工位上的光源為組合光源，另一個檢測工位上的光源為平面無影光源。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于機器視覺的金屬蓋表面缺陷檢測設(shè)備，其特征在于：所述的組合光源包括互相疊加的同軸光源、環(huán)面光源和低角度光源，所述的同軸光源和環(huán)面光源照射在金屬蓋的正表面，低角度光源照射在金屬蓋的側(cè)邊沿。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于機器視覺的金屬蓋表面缺陷檢測設(shè)備，其特征在于：所述的平面無影光源包括反射玻璃和LED燈，該反射玻璃一個表面上分布有直徑0.1mm到0.5mm的細點，細點分布間隔為0.1mm到0.5mm，另一個表面涂覆有黑色不透光涂層，LED燈設(shè)置在反射玻璃四周，對著反射玻璃側(cè)面照射。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于機器視覺的金屬蓋表面缺陷檢測設(shè)備，其特征在于：所述的支架包括支撐型材、底部圓盤、定位塊、固定桿、支撐直線軸、相機固定板和光源固定板，定位塊靠住支撐型材端面設(shè)置在支撐型材上，且定位塊壓住底部圓盤，底部圓盤通過固定桿設(shè)置支撐型材上，底部圓盤上垂直設(shè)置有三根支撐直線軸，三根支撐直線軸與底部圓盤連接點的連線為銳角三角形，三根支撐直線軸上分別套裝有光源固定板和相機固定板，相機固定板位于光源固定板上方，且相機固定板與三根支撐直線軸的三個連接端分別通過軸固定塊活動連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于機器視覺的金屬蓋表面缺陷檢測設(shè)備，其特征在于：所述的剔除裝置包括電磁閥、轉(zhuǎn)換塊和支撐角件，轉(zhuǎn)換塊通過支撐角件固定在金屬蓋生產(chǎn)線下游的一側(cè)，電磁閥直接固定在轉(zhuǎn)換塊上，轉(zhuǎn)換塊下沿靠近支撐角件處設(shè)置有一排吹氣口。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于機器視覺的金屬蓋表面缺陷檢測設(shè)備，其特征在于：所述的底部圓盤上還設(shè)置有高度調(diào)整標尺。