[發(fā)明專利]Hi-B取向硅鋼磁感應(yīng)強(qiáng)度的測(cè)量方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210099417.9
• 申請(qǐng)日: 2012-04-06
• 公開（公告）號(hào): CN102608551A
• 公開（公告）日: 2012-07-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周順兵;韓榮東;王志奮;吳立新;陳士華;孫宜強(qiáng);歐陽珉路;黃海娥
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 武漢鋼鐵（集團(tuán)）公司
• 主分類號(hào): G01R33/12
• 分類號(hào): G01R33/12
• 代理公司: 武漢開元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42104
• 代理人: 胡鎮(zhèn)西

1.一種Hi-B取向硅鋼磁感應(yīng)強(qiáng)度的測(cè)量方法，包括以下步驟：

1)切取Hi-B取向硅鋼試樣，在試樣上標(biāo)示出晶界線，并將由晶界線所圍成的各個(gè)晶粒進(jìn)行編號(hào)，編為1、2……n；

2)將試樣拍攝成照片，采用圖像分析儀測(cè)量出照片中每個(gè)編號(hào)晶粒的面積S_n，其中n＝1、2……n，同時(shí)測(cè)量出照片中整個(gè)試樣的面積S_z；

3)采用電子背散射衍射分別測(cè)量出編號(hào)晶粒的沿軋制方向的取向<uvw>，再由公式m＝α²β²+β²γ²+γ²α²計(jì)算出編號(hào)晶粒的<uvw>方向的m值，公式中的α、β和γ分別是該<uvw>方向與三個(gè)主晶軸<001>的方向余弦；

4)查得標(biāo)樣的B₀₀₁，并由公式B_uvw＝B₀₀₁(1-m)計(jì)算出每個(gè)編號(hào)晶粒的B_uvw；

5)將所測(cè)量的每個(gè)編號(hào)晶粒的面積S_n除以整個(gè)試樣的面積S_z所得值S_i作為權(quán)重，再分別乘以相應(yīng)晶粒的B_uvw，其值為該晶粒對(duì)整個(gè)試樣的磁感應(yīng)強(qiáng)度貢獻(xiàn)，記為B_i＝S_i×B_uvw，所有編號(hào)晶粒的B_i之和，即為該試樣的磁感應(yīng)強(qiáng)度B。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的Hi-B取向硅鋼磁感應(yīng)強(qiáng)度的測(cè)量方法，其特征在于：在步驟3)中，在采用電子背散射衍射測(cè)量編號(hào)晶粒的取向<uvw>之前，將試樣分割成若干小片。