[發明專利]半自動3D立體像差光標有效
| 申請號： | 201210098881.6 | 申請日： | 2012-04-06 |
| 公開（公告）號： | CN102821299A | 公開（公告）日： | 2012-12-12 |
| 發明（設計）人： | D.G.貝克;L.戈皮尚卡 | 申請（專利權）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分類號： | H04N17/00 | 分類號： | H04N17/00;H04N17/02;H04N13/00 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 馬永利;盧江 |
| 地址： | 美國俄*** | 國省代碼： | 美國;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 半自動 立體 光標 | ||
【權利要求書】：
1.?一種測試和測量儀器，包括：
用于選擇處于測試中的三維圖像的區域的像差光標；以及
用于向用戶報告所選區域的平均像差值的裝置。
2.?如權利要求1所述的測試和測量儀器，其中，用于報告平均像差值的所述裝置包括數值讀出。
3.?如權利要求1所述的測試和測量儀器，其中，用于報告平均像差值的所述裝置包括用于改變所述像差光標的外觀的裝置。
4.?如權利要求1所述的測試和測量儀器，還包括用于改變所述像差光標的外觀以提供所述平均像差值的估計的質量的視覺指示的裝置。
5.?如權利要求1所述的測試和測量儀器，其中，所述像差光標被覆蓋在作為左圖像與右圖像的組合的單個圖像上。
6.?如權利要求1所述的測試和測量儀器，其中，所述像差光標包括兩個像差光標，其中一個被覆蓋在左圖像上，以及另一個被覆蓋在右圖像上。
7.?如權利要求1所述的測試和測量儀器，其中，所述像差光標的尺寸和/或形狀由用戶規定。
8.?如權利要求1所述的測試和測量儀器，其中，所述像差光標的尺寸和/或形狀由所述測試和測量儀器為用戶確定。
9.?如權利要求1所述的測試和測量儀器，其中，通過把由所述像差光標限定的左圖像和右圖像相對于彼此偏移直到這兩個圖像之間的差被最小化，來確定所述平均像差值。
10.?如權利要求9所述的測試和測量儀器，其中，對所述左圖像和右圖像進行邊緣濾波，以便提供所述平均像差值的更精確的估計。
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