[發明專利]交流功率測量裝置

有效

• 申請號: 201210096489.8
• 申請日: 2012-04-01
• 公開（公告）號: CN102735919A
• 公開（公告）日: 2012-10-17
• 發明（設計）人: 大島弘敬;安部貴之;伊藤昭夫
• 申請（專利權）人: 富士通株式會社
• 主分類號: G01R21/06
• 分類號: G01R21/06
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王萍;李春暉

1.一種交流功率測量裝置，包括：

第一電容元件，其一端電容性地耦合到用于將交流電提供給負載的電纜集合中的第一電纜的導線，其另一端電容性地耦合到所述電纜集合中的第二電纜的導線；

第一電壓測量部，用于測量第一電壓，所述第一電壓是所述第一電容元件的兩端的電壓；

第一電流測量部，用于測量在所述第一電纜中流動的第一電流；以及

處理部，其通過進行施加到所述電纜集合的電壓的指定電壓值和所述第一電壓的有效值之間的比例、所述第一電壓以及所述第一電流的乘法，計算將由所述電纜集合提供給所述負載的功率。

2.一種交流功率測量裝置，包括：

第一電容元件，其一端電容性地耦合到用于將三相交流電提供給負載的電纜集合中的第一電纜的導線，其另一端電容性地耦合到所述電纜集合中的第二電纜的導線；

第二電容元件，其一端電容性地耦合到所述電纜集合中的第三電纜的導線并且另一端電容性地耦合到所述第二電纜的導線；

第一電壓測量部，用于測量第一電壓，所述第一電壓是所述第一電容元件的兩端的電壓；

第二電壓測量部，用于測量第二電壓，所述第二電壓是所述第二電容元件的兩端的電壓；

第一電流測量部，用于測量在所述第一電纜中流動的第一電流；

第二電流測量部，用于測量在所述第二電纜中流動的第二電流；

切換部，用于選擇性地將所述第一電容元件的所述另一端和所述第二電容元件的所述另一端中的任一個電容性地耦合到所述第二電纜；以及

處理部，其借助于在所述切換部將所述第一電容元件的所述另一端電容性地耦合到所述第二電纜的情況下測量所述第一電壓和所述第一電流，通過進行施加到所述電纜集合的電壓的指定電壓值和所述第一電壓的有效值之間的比例、所述第一電壓以及所述第一電流的乘法，來計算第一值，并且其借助于在所述切換部將所述第二電容元件的所述另一端電容性地耦合到所述第二電纜的情況下測量所述第二電壓和所述第二電流，通過進行所述指定電壓值和所述第二電壓的有效值之間的比例、所述第二電壓以及所述第二電流的乘法，來計算第二值，并且其通過對所述第一值和所述第二值求和來計算所述電纜集合將提供給所述負載的功率。

3.根據權利要求1所述的交流功率測量裝置，進一步包括：

第一鉗部，包括第一電極、第一磁芯和圍繞所述第一磁芯纏繞的第一線圈，并且使所述第一電極與所述第一電纜的絕緣體相鄰；以及

第二鉗部，包括第二電極、第二磁芯和圍繞所述第二磁芯纏繞的第二線圈，并且使所述第二電極與所述第二電纜的絕緣體相鄰，

所述第一電容元件的所述一端經由所述第一電極電容性地耦合到所述第一電纜的導線，

所述第一電容元件的所述另一端經由所述第二電極電容性地耦合到所述第二電纜的導線，以及

所述第一電流測量部基于由所述第一線圈或所述第二線圈檢測的信號，檢測在所述第一電纜中或者在所述第二電纜中流動的電流。

4.根據權利要求2所述的交流功率測量裝置，進一步包括：

第一鉗部，包括第一電極、第一磁芯和圍繞所述第一磁芯纏繞的第一線圈，并且使所述第一電極與所述第一電纜的絕緣體相鄰；以及

第二鉗部，包括第二電極、第二磁芯和圍繞所述第二磁芯纏繞的第二線圈，并且使所述第二電極與所述第二電纜的絕緣體相鄰，

所述第一電容元件的所述一端經由所述第一電極電容性地耦合到所述第一電纜的導線，

所述第一電容元件的所述另一端經由所述第二電極電容性地耦合到所述第二電纜的導線，以及

所述第一電流測量部基于由所述第一線圈或所述第二線圈檢測的信號，檢測在所述第一電纜中或者在所述第二電纜中流動的電流。

5.根據權利要求2所述的交流功率測量裝置，進一步包括：

第三鉗部，包括第三電極、第三磁芯和圍繞所述第三磁芯纏繞的第三線圈，并且使所述第三電極與所述第三電纜的絕緣體相鄰，

所述第二電容元件的所述一端經由所述第三電極電容性地耦合到所述第三電纜的導線，以及

所述第二電流測量部基于由所述第二線圈或所述第三線圈檢測的信號，檢測在所述第二電纜中或者在所述第三電纜中流動的電流。

6.根據權利要求1所述的交流功率測量裝置，其中

所述第一電壓測量部的輸入阻抗是所述第一電容元件的阻抗的兩倍或更多。