[發(fā)明專利]后電磁力檢測電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210096126.4
• 申請日: 2012-04-01
• 公開（公告）號: CN102739139A
• 公開（公告）日: 2012-10-17
• 發(fā)明（設計）人: 尼爾斯·佩德森;克里斯汀·斯文森;波·拓蘭克爾·彼得森;漢斯·朗貝格·澤倫森;杰普·默勒·荷姆
• 申請（專利權）人: 思科普有限責任公司
• 主分類號: H02P6/18
• 分類號: H02P6/18
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 吳敬蓮

1.一種檢測電動機(11)的轉子(5)的位置的方法，所述方法通過對至少一個電動機相(3a，3b，3c)的至少一個后電磁力電壓(e_a，e_b，e_c)進行采樣和檢測所述后電磁力電壓(e_a，e_b，e_c)的特定電壓水平的交點來至少部分地使用所述電動機(5)的至少一個電動機相(3a，3b，3c)的后電磁力電壓(e_a，e_b，e_c)來實現(xiàn)檢測，其中電動機(5)的相(3a，3b，3c)通過公共匯接點(12，15)彼此連接，其特征在于

至少一個電動機相(3a，3b，3c)通過至少一個電解耦裝置(16)至少有時部分地與所述匯接點(12，15)電解耦。

2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一個后電磁力電壓(e_a，e_b，e_c)與參考電壓進行比較。

3.根據(jù)權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述至少一個后電磁力電壓(e_a，e_b，e_c)的過零點被檢測。

4.根據(jù)前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，所述至少一個電解耦裝置(16)至少部分地設計成非線性的電解耦裝置(16)。

5.根據(jù)前述權利要求中任一項所述的方法，尤其是根據(jù)權利要求4所述的方法，其特征在于，所述至少一個電解耦裝置(16)至少部分地設計成放大裝置(16)，尤其是設計成運算放大器裝置(16)。

6.根據(jù)前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，所述至少一個后電磁力電壓(e_a，e_b，e_c)在基本上全脈寬調制工作周期期間至少有時被測量。

7.根據(jù)前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，所述方法在所述電動機(5)的低速操作期間被至少有時采用。

8.一種用于檢測電動機(5)的位置的電路裝置(1)，所述電路裝置(1)至少部分地使用所述電動機(5)的至少一個電動機相(3a，3b，3c)的后電磁力電壓(e_a，e_b，e_c)，其中電動機(5)的電動機相(3a，3b，3c)通過公共匯接點(12，15)彼此連接，所述電路裝置(1)包括：至少一個采樣裝置(2)，所述采樣裝置(2)用于對至少一個電動機相(3a，3b，3c)的至少一個后電磁力電壓(e_a，e_b，e_c)進行采樣；和至少一個評估裝置(4)，所述評估裝置(4)用于檢測所述后電磁力電壓的特定電壓水平的交點，其特征在于，

還包括至少一個電解耦裝置(16)，所述至少一個電解耦裝置(16)用于至少一個電動機相(3a，3b，3c)和至少有時部分地將所述電動機相(3a，3b，3c)與所述匯接點(12，15)電解耦。

9.根據(jù)權利要求8所述的電路裝置(1)，其特征在于，所述至少一個電解耦裝置(16)至少部分地被設計成放大裝置(16)，尤其是運算放大器裝置(16)。