[發(fā)明專利]太赫茲波探測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210096036.5 | 申請日： | 2012-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN103364417B | 公開（公告）日： | 2017-02-08 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 魯遠甫;劉文權(quán);馮廣智;焦國華;呂建成;金雷 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國科學(xué)院深圳先進技術(shù)研究院 |
| 主分類號： | G01N23/02 | 分類號： | G01N23/02;G01N23/04 |
| 代理公司： | 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司44224 | 代理人： | 吳平 |
| 地址： | 518055 廣東省深圳*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 赫茲 探測 裝置 | ||
1.一種太赫茲波探測裝置，其特征在于，包括：
第一離軸橢圓面鏡，用于將從第一離軸橢圓鏡面所在橢圓的其中一個焦點入射的太赫茲波聚焦到橢圓鏡面所在橢圓的另一個焦點；
第二離軸橢圓面鏡，所在橢圓的其中一個焦點與第一離軸橢圓鏡面所在橢圓的另一個焦點重合，用于將所述匯聚的太赫茲波反射后匯聚到第二離軸橢圓面鏡所在橢圓的另一個焦點；
樣品臺，置于第一離軸橢圓面鏡和第二離軸橢圓面鏡所在橢圓的公共焦點上，用于放置待檢測樣品；
太赫茲波輻射源，置于所述第一離軸橢圓面鏡所在橢圓入射太赫茲波的焦點上，用于發(fā)出太赫茲波；
探測單元，置于所述第二離軸橢圓面鏡所在橢圓的另一個焦點上，根據(jù)第二離軸橢圓面鏡聚焦的攜帶有待檢測樣品信息的太赫茲波得出所需待檢測樣品信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的太赫茲波探測裝置，其特征在于，所述太赫茲波輻射源包括太赫茲發(fā)射器和飛秒激光。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的太赫茲波探測裝置，其特征在于，所述第二離軸橢圓面鏡上的中心在所述第一離軸橢圓面鏡上的中心與公共焦點的延長線上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的太赫茲波探測裝置，其特征在于，所述第一離軸橢圓面鏡上的中心與其兩個焦點的連線夾角為90度，所述第二離軸橢圓面鏡上的中心與其兩個焦點的連線夾角為90度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的太赫茲波探測裝置，其特征在于，所述第二離軸橢圓面鏡的中心在所述第一離軸橢圓面鏡的中心與所述公共焦點的連線在樣品臺上的反射線上。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的太赫茲波探測裝置，其特征在于，所述第一離軸橢圓面鏡上的中心與其兩個焦點的連線夾角小于90度，所述第二離軸橢圓面鏡上的中心與其兩個焦點的連線夾角小于90度。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的太赫茲波探測裝置，其特征在于，所述第一離軸橢圓面鏡和第二離軸橢圓面鏡的對應(yīng)橢圓的長軸、短軸相等。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的太赫茲波探測裝置，其特征在于，所述探測單元包括：
對所述待檢測樣品出射、攜帶有所述待檢測樣品信息的太赫茲波進行斬波調(diào)制處理的斬波器；
置于所述第二橢圓面鏡所在橢圓的所述另一個焦點上，感應(yīng)經(jīng)所述斬波器斬波調(diào)制處理的太赫茲波的各探測點的能量變化，并根據(jù)所述探測點的能量變化產(chǎn)生相應(yīng)的多個電信號的探測器；
將所述探測器產(chǎn)生的所述各探測點的電信號進行放大處理以及模/數(shù)轉(zhuǎn)換處理，得到多個結(jié)果值的信號處理單元；
根據(jù)所述多個結(jié)果值，利用掃描成像軟件對所述待檢測樣品進行成像并顯示的顯示端。
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