[發明專利]金屬平板表面溫度標定系統無效
| 申請號: | 201210095198.7 | 申請日: | 2012-03-31 |
| 公開(公告)號: | CN102620835A | 公開(公告)日: | 2012-08-01 |
| 發明(設計)人: | 廖慧;伍成波 | 申請(專利權)人: | 中冶南方(武漢)威仕工業爐有限公司 |
| 主分類號: | G01J5/00 | 分類號: | G01J5/00 |
| 代理公司: | 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102 | 代理人: | 伍見;唐萬榮 |
| 地址: | 430223 湖北省武*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 金屬 平板 表面溫度 標定 系統 | ||
技術領域
本發明涉及冷軋金屬板帶熱處理技術領域,尤其涉及在金屬板帶的熱處理工藝中,用于標定光潔無氧化金屬平板表面溫度的裝置,該裝置可應用于冷軋金屬熱處理生產線,以及使用光潔表面金屬平板進行實驗研究和產品開發的領域。
背景技術
隨著各產業對高質量產品的需求不斷增加,金屬平板熱處理的工藝要求也越來越嚴格。在熱處理過程中,為了得到一定機械性能和良好表面特性的金屬平板產品,需要將金屬平板精確的加熱或冷卻到特定工藝溫度點(或溫度區間內),以保障金屬平板的機械性能或表面質量在產品所要求的范圍內。因此,我們需要保證儀表測得的金屬平板表面溫度的準確性。
在連續性生產機組中,由于物料在連續運動中,無法對金屬平板表面溫度進行接觸式測量,因此非接觸式測量方式,如紅外線成像等,就成了主要的在線測量手段。
然而非接觸測量方式受很多因素的干擾,如紅外熱像儀溫度測量的準確性受被測物體表面的發射率、環境溫度、大氣溫度、大氣衰減率、太陽輻射等的影響,其中發射率的影響最為突出,直接進行測量的結果往往不準確。因此,我們需要在離線狀態下,先用接觸式的測量方式,對非接觸式溫度儀表需要準確測量的溫度區間進行標定,即通過接觸式溫度儀表直接測量一組被測物質表面的溫度,作為基準值,測算出該物質表面的實際發射率,從而保證該非接觸儀表測量同樣的金屬物質表面溫度時的準確性。
物質表面的發射率不僅取決于物質的內在性質,同時還取決于物質表面的物理狀態、光滑程度等,這些因素使得發射率的測量很復雜,而發射率數值的準確直接影響紅外測溫數據的準確性,所以如何確定被測物體表面的發射率已成為紅外熱像測溫技術中的一個主要課題。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是提供一種結構簡單、使用方便,能為光潔的金屬平板提供準確可靠的溫度測量的金屬平板表面溫度標定系統。
本發明所采用的技術方案是:一種金屬平板表面溫度標定系統,它由恒溫浴裝置和溫度測量裝置組成,所述的恒溫浴裝置包括恒溫浴箱,所述的恒溫浴箱由底板和壁面組成,所述的壁面由恒溫浴箱本體壁面和由被測金屬平板做的一個壁面組成,所述的恒溫浴箱內置有恒溫浴介質,所述的恒溫浴箱還包括有對恒溫浴介質進行加熱的加熱元件;所述的溫度測量裝置包括非接觸式的測溫儀和直接接觸式的熱敏元件,所述的直接接觸式的熱敏元件置于恒溫浴箱內,并安設在被測金屬平板的內側面上;所述的非接觸式的測溫儀安設在被測金屬平板的外側。
?按上述方案,所述的恒溫浴裝置還包括有對恒溫浴介質進行攪拌的攪拌器;所述的溫度測量裝置還包括用于監測恒溫浴介質溫度的恒溫浴介質測溫元件。
?按上述方案,所述的恒溫浴箱還包括有帶排氣孔的蓋子。
?按上述方案,所述的直接接觸式的熱敏元件有4個或4個以上,均勻分布在被測金屬平板內側面上;所述的非接觸式的測溫儀有一臺或一臺以上。
?按上述方案,所述的恒溫浴箱本體壁面上包覆有保溫材料。
按上述方案,所述的恒溫浴箱本體壁面的材質與被測金屬平板的材質一樣或者化學成分靠近。
?按上述方案,所述的被測金屬平板的內側面上設有直接接觸式的熱敏元件的安裝孔,直接接觸式的熱敏元件直接插入安裝孔中。
?按上述方案,所述的加熱元件為燃氣加熱元件和/或電加熱元件;所述的恒溫浴介質為水、非揮發性油、細沙、非揮發性鹽或鉛。
?按上述方案,所述的被測金屬平板的外側安設有帶觀測孔的測量黑箱,測量黑箱通過金屬板密封裝置密封安設在被測金屬平板上,所述的非接觸式的測溫儀安設在測量黑箱上。
?按上述方案,在測量黑箱內部,接近被測金屬平板處,沿橫向和縱向方向設有直徑在1mm以下的金屬絲。
本發明的有益效果在于:1、結構簡單、使用方便。2、采用多個測溫熱電偶或測溫電阻與金屬平板直接接觸測溫,測溫結果準確可靠。3、可標定的溫度范圍廣,在金屬平板表面不發生物理或化學變化的情況下,可標定0-1500℃范圍內的溫度點。4、容易維護、經濟性好。
附圖說明
圖1是本發明一個實施例的結構示意圖。
圖2是被測金屬平板測溫元件在被測金屬平板內側面上的分布示意圖。
圖3是被測金屬平板測溫元件在厚的被測金屬平板截面上的安裝示意圖。
圖4是多臺紅外溫度測量儀與測量黑箱的結構示意圖。
圖5是單臺紅外溫度測量儀對被測金屬平板進行溫度測量的結構示意圖。
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