[發(fā)明專利]一種定量將薄互地層等效成水平和垂直電阻率的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210091428.2 | 申請(qǐng)日: | 2012-03-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102635347A | 公開(公告)日: | 2012-08-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 段寶良;宋殿光;魏少華;李郴;方輝;韓宏克;郭巍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二十二研究所 |
| 主分類號(hào): | E21B47/00 | 分類號(hào): | E21B47/00;E21B49/00;G01V3/30 |
| 代理公司: | 鄭州大通專利商標(biāo)代理有限公司 41111 | 代理人: | 白毅明 |
| 地址: | 453003 河*** | 國(guó)省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 定量 將薄互 地層 等效 水平 垂直 電阻率 方法 | ||
1.一種定量將薄互地層等效成水平和垂直電阻率的方法,對(duì)于一組電阻率各向同性的薄互地層,采用隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀,分儀器垂直于薄互地層和傾斜于薄互地層兩種情況計(jì)算該儀器在薄互地層中的響應(yīng),其特征是:
1)、在儀器垂直于薄互地層時(shí),選擇一組發(fā)射頻率和源距,采用縱向成層并矢格林函數(shù)法,計(jì)算出儀器通過(guò)薄互地層時(shí)的相位差視電阻曲線和幅度比視電阻率曲線,確定儀器在垂直于薄互地層時(shí)的水平電阻率;
2)、在儀器傾斜于薄互地層時(shí),將儀器以大于60°的傾斜角度通過(guò)薄互地層,選擇與儀器垂直于薄互地層時(shí)相同的一組工作頻率和源距,獲得儀器此時(shí)的相位差視電阻率和幅度比視電阻率響應(yīng);
3)、根據(jù)獲得的水平電阻率的值,將儀器傾斜于薄互地層時(shí)的兩個(gè)視電阻率響應(yīng)值或兩個(gè)視電阻率響應(yīng)值中質(zhì)量較好的一個(gè)數(shù)據(jù)作為反演數(shù)據(jù),通過(guò)反演方法獲得垂直電阻率的值;
4)、將薄互地層等效成電阻率均勻各向異性地層,根據(jù)薄互地層與電阻率均勻各向異性地層的等效關(guān)系,選取電阻率均勻各向異性地層作為反演地層模型,計(jì)算薄互地層等效的水平電阻率和垂直電阻率;
5)、反演時(shí)將儀器傾斜于薄互地層時(shí)計(jì)算出的相位差和幅度比視電阻率值作為已知響應(yīng),將儀器垂直于薄互地層時(shí)計(jì)算得出的視電阻率值作為已知的水平電阻率值,以電阻率均勻各向異性介質(zhì)中該儀器的響應(yīng)作為正演函數(shù)進(jìn)行反演,得出薄互地層等效的垂直電阻率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的定量將薄互地層等效成水平和垂直電阻率的方法,其特征是:在步驟2)中,采用層狀介質(zhì)中的格林函數(shù)法計(jì)算隨鉆電磁波電阻率類儀器在薄互層下的響應(yīng):設(shè)層狀單軸各向異性介質(zhì)共有n+1層,各層編號(hào)為l=0,1,…,n,源在第j層,各層參數(shù)分別為μl、εvl、εhl,則
層狀單軸各向異性介質(zhì)中的并矢格林函數(shù)GHM可表示為背景項(xiàng)和散射項(xiàng)之和,即GHM=PGHM+SGHM,對(duì)于非含源層(l≠j),則只有散射項(xiàng);
對(duì)于任意l層內(nèi)SGHM的各分量,由麥克斯韋方程組經(jīng)計(jì)算可表示為如下形式,式中下腳標(biāo)表示某方向的磁偶極子在某方向上產(chǎn)生的磁場(chǎng),表示z方向的磁偶極子在y方向上產(chǎn)生的散射場(chǎng)項(xiàng);
式中的6個(gè)積分分別為:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二十二研究所,未經(jīng)中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二十二研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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