[發明專利]一種非破壞性檢測表面形貌的方法有效
| 申請號: | 201210090888.3 | 申請日: | 2012-03-30 |
| 公開(公告)號: | CN103363946A | 公開(公告)日: | 2013-10-23 |
| 發明(設計)人: | 宮建茹;崔金磊 | 申請(專利權)人: | 國家納米科學中心 |
| 主分類號: | G01B21/20 | 分類號: | G01B21/20;G01B21/30 |
| 代理公司: | 北京泛華偉業知識產權代理有限公司 11280 | 代理人: | 郭廣迅 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 破壞性 檢測 表面 形貌 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種檢測表面形貌的方法,具體涉及一種非破壞性地檢測待測物體表面形貌的方法。
背景技術
隨著機械設備逐漸向高速度、高精度等方面發展,人們對于機械零部件的性能提出了更高的要求。這些性能可以歸納為以下幾個方面:(1)一般機械性能,包括韌性、塑性、硬度等;(2)抗磨性:抗磨料磨損、抗腐蝕磨損、潤滑性等;(3)熱特性:導熱性、高溫氧化性以及抗熱沖擊性等;(4)密封性;(5)保護性:抗酸堿鹽腐蝕性、抗污染性、防銹性等。但是,零部件的表面形貌會對以上性能產生決定性的影響。
表面形貌是指零件表面的粗糙度、波度、形狀誤差以及紋理等不規則的微管幾何形狀。它主要是在零件加工過程中,由于刀具或磨料和零件的摩擦、切削分離時的塑性變形和金屬撕裂,以及加工系統中的高頻振動等原因,在表面殘留而成的各種不同形狀和尺寸的微管幾何形貌。
根據測量原理,表面形貌的檢測方法分為接觸式和非接觸式。接觸式方法包括輪廓儀,其中較為著名的是Nanosurf系列。而非接觸方法主要包括光學探針法和干涉顯微鏡法。但兩類方法均存在各自的一些缺陷,例如,接觸式方法需要使用極精細的探針,如AFM探針,這使得探針加工條件非常苛刻,并且探針容易損傷零部件的表面,而非接觸式方法,如光學探針法和干涉顯微鏡法,依靠的是測量光程變化的原理,這就對光學器件的加工精度要求很高,導致其造價十分昂貴,且設備容易損壞,并且測量過程易受零部件表面和周圍環境的影響,結果可信度較低。此外,目前檢測表面形貌的儀器中還存在一些問題,例如,由于受到儀器和樣品尺寸的制約,難以在任意尺寸的樣品或樣品表面的任意位置進行檢測。
因此,目前還需要尋找一種簡單便捷、成本低廉、測量精度高的用于表面形貌檢測的方法。
發明內容
因此,本發明的目的在于克服目前檢測表面形貌的常用方法及設備的缺陷,提供一種操作簡單、成本低廉、測量精度高且不易受外界環境影響的非破壞性檢測表面形貌的方法。
除非特別說明,本發明的紫外感光材料,是指一種可以在紫外光(UV)的照射下實現固化的材料,包括涂料、油墨、膠粘劑或其他灌封密封劑等。
本發明提供了一種非破壞性檢測表面形貌的方法,該方法包括以下步驟:
1)將紫外感光材料涂覆在待測物體的表面;
2)采用紫外光照射使所述紫外感光材料固化,然后將固化后的紫外感光材料剝離,得到拓印膜;
3)使用原子力顯微鏡掃描所述拓印膜,得到拓印膜的表面形貌;
4)將所述拓印膜的表面形貌進行數據翻轉,得到待測物體的表面形貌。
根據本發明的方法,其中,步驟1)中的所述紫外感光材料可以包含低聚物、光引發劑和稀釋劑;所述低聚物可以為有機硅、脂環族環氧化合物、丙烯酸酯和乙烯基醚中的一種或多種,可以優選為MMA(甲基丙烯酸甲酯)。作為優選,所述低聚物在所述紫外感光材料中可以占94~97wt%。發明人發現,如果低聚物的含量過高,會使紫外感光材料的粘度增加,造成拓印膜不易剝離,而過低則又會使拓印膜的力學性質變差,容易斷裂。
根據本發明的方法,其中,步驟1)中的所述紫外感光材料可以通過以下步驟制得:將94~97重量份的低聚物、1~2重量份的光引發劑和1~5重量份的稀釋劑混合,以400~600r/min的速度攪拌10~15分鐘,然后將混合液置于干燥器中并抽真空,放置2~3h,得到所述紫外感光材料。
根據本發明的方法,其中,所述光引發劑可以為芳香酮,可以優選為安息香(即2-羥基-1,2-二苯基乙酮)。
根據本發明的方法,其中,所述稀釋劑可以為酮或煤油。作為優選,所述酮可以為C3~C12烷酮,可以更優選為丙酮、丁酮和環己酮中的一種或多種。
根據本發明的方法,其中,步驟1)中的所述紫外感光材料的涂覆厚度可以為0.3~0.7mm。發明人發現,如果厚度小于該范圍,則拓印膜難以剝離且易折斷,而如果厚度過大,則又造成不必要的浪費,經濟性不佳。
根據本發明的方法,其中,步驟2)中,所述紫外光的波長為365nm。作為優選,固化時間可以為480~500s。發明人發現,如果時間長于該范圍,即照射時間過長,會使拓印膜容易折斷且不易剝離,而如果固化時間過短則無法使該紫外感光材料固化完全。
根據本發明的方法,其中,步驟3)中,所述原子力顯微鏡的掃描范圍可以為50μm×50μm。發明人發現,采用該掃面范圍不僅能夠保持適合的掃描速度,還能兼顧較高分辨率,在檢測速度和準確性之間取得了較好的平衡。
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