[發(fā)明專利]耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置及其連接測(cè)試方法

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210089291.7
• 申請(qǐng)日: 2012-03-29
• 公開（公告）號(hào): CN102590779A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蔡李政勛
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 東莞帝佑儀器有限公司
• 主分類號(hào): G01R35/00
• 分類號(hào): G01R35/00;G01R31/02;G01R27/02
• 代理公司: 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44288
• 代理人: 廖平

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及耐壓測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置及其連接檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

為了確保產(chǎn)品的實(shí)用安全，尤其是電器類產(chǎn)品，其在制造下線前都會(huì)進(jìn)行安全測(cè)試，如漏電流測(cè)試，耐壓測(cè)試。近些年，因相關(guān)法規(guī)規(guī)定的測(cè)試量逐年增加，測(cè)試程序要求更加嚴(yán)謹(jǐn)，以期待能確實(shí)檢驗(yàn)出不良品或是臨界不良品的待測(cè)產(chǎn)品。目前，多數(shù)電器生產(chǎn)廠家采用傳統(tǒng)測(cè)試方式或傳統(tǒng)測(cè)試電路結(jié)構(gòu)，但是，這種傳統(tǒng)的測(cè)試方式或測(cè)試電路結(jié)構(gòu)很難在測(cè)試前對(duì)測(cè)試設(shè)備與待測(cè)產(chǎn)品之間是否接觸可靠進(jìn)行檢測(cè),?或是在待測(cè)產(chǎn)品測(cè)試前雖能檢測(cè)接觸是否可靠，但是并無法監(jiān)測(cè)其整個(gè)測(cè)試過程接觸是否可靠，這些都會(huì)造成產(chǎn)品測(cè)試質(zhì)量的可靠性大受質(zhì)疑，從而無法確保產(chǎn)品質(zhì)量。

如圖1所示，為漏電流下限檢驗(yàn)法的電路原理圖。利用此方式作為待測(cè)產(chǎn)品與高壓測(cè)試端接觸是否可靠的檢驗(yàn)，存在一種問題，因?yàn)榇朔N方式是根據(jù)產(chǎn)品本身的漏電流值做為判斷依據(jù)，但是不同待測(cè)產(chǎn)品所具有的漏電流值不同，并非每個(gè)產(chǎn)品都是一樣，因此在判斷上容易造成誤判現(xiàn)象，這種檢驗(yàn)方式可靠性不高。

如圖2所示，為開路電容檢驗(yàn)法的電路原理圖。利用此方法作為待測(cè)產(chǎn)品與高壓輸出端接觸是否可靠的檢驗(yàn)，同樣存在一種問題，此方式是將待測(cè)產(chǎn)品本身等效為一個(gè)電容來進(jìn)行測(cè)量的，當(dāng)測(cè)試導(dǎo)線與待測(cè)產(chǎn)品接觸與斷開的兩種情況下，在整個(gè)待測(cè)產(chǎn)品的兩端所形成的電容量是有變化的，從而可以根據(jù)前后電容變化量來判斷測(cè)試電路與待測(cè)產(chǎn)品之間接觸是否可靠的依據(jù)。但這方式在實(shí)際生產(chǎn)檢驗(yàn)環(huán)境下存在許多變數(shù)，其待測(cè)產(chǎn)品本身電容量與當(dāng)測(cè)試導(dǎo)線開路時(shí)電容量并非每次相同，且當(dāng)有加裝測(cè)試治具或是導(dǎo)線有變化時(shí)，其電容量也會(huì)變化，因此也容易造成誤判現(xiàn)象。因此這種檢驗(yàn)方式可靠性也不高。另外因每次測(cè)試前須先做判斷，因此測(cè)試時(shí)間被延長，造成測(cè)試效率降低，不符合經(jīng)濟(jì)效益。

如圖3所示，為阻值接觸檢驗(yàn)法的電路原理圖。利用此方法作為待測(cè)產(chǎn)品與高壓輸出端接觸是否可靠的檢驗(yàn)，原則上比上述方式或方法要可靠，但是仍存在一種問題，因此種方式是在設(shè)備使用前或每次產(chǎn)品測(cè)試前，加裝一阻抗值檢驗(yàn)電路做為是否接觸良好的判斷依據(jù)。此方法確實(shí)是可以確實(shí)檢驗(yàn)出是否接觸良好，但這方式在實(shí)際生產(chǎn)檢驗(yàn)環(huán)境下會(huì)出現(xiàn)判斷的不可靠現(xiàn)象，因只在設(shè)備使用前做檢驗(yàn)，但無法確保往后的使用時(shí)間內(nèi)沒有接觸不良或斷線現(xiàn)象，或是每次產(chǎn)品測(cè)試前做檢驗(yàn)，但無法在產(chǎn)品整的檢驗(yàn)過程中監(jiān)測(cè)產(chǎn)品是否接觸可靠，因此也易造成誤判現(xiàn)象，因此這種檢驗(yàn)方式可靠性也不高。另外因每次測(cè)試前須先做判斷，因此同樣存在測(cè)試時(shí)間被延長，測(cè)試效率低的缺點(diǎn)，不符合經(jīng)濟(jì)效益。

由此可見，為了保證測(cè)試產(chǎn)品的質(zhì)量可靠性，急需一種測(cè)試可靠性良好、測(cè)試效率高的耐壓測(cè)試技術(shù)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置，能夠解決耐壓測(cè)器可靠性不高及測(cè)試效率低的問題。

本發(fā)明提供一種耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置，包括：

阻抗檢測(cè)模塊，用于檢測(cè)測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置與待測(cè)產(chǎn)品之間電連接并產(chǎn)生推動(dòng)信號(hào)；

可編程邏輯閘，用于將阻抗檢測(cè)模塊的推動(dòng)信號(hào)與設(shè)定信號(hào)進(jìn)行比較后產(chǎn)生連接判定信號(hào)并輸出給微處理器；

微處理器，用于接收可編程邏輯閘的連接判定信號(hào)并根據(jù)連接判定信號(hào)控制高壓輸出模塊的啟動(dòng)或關(guān)閉；

高壓輸出模塊，用于根據(jù)微處理器的命令產(chǎn)生高壓測(cè)試信號(hào)。

優(yōu)選地，所述阻抗檢測(cè)模塊包括至少一個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置和至少一個(gè)高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置，隔離感應(yīng)裝置及隔離電源裝置，其中，隔離電源裝置為低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置、高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置及隔離感應(yīng)裝置提供工作電源，低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置和高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置連接到隔離感應(yīng)裝置，隔離感應(yīng)裝置輸出至所述可編程邏輯閘。

優(yōu)選地，所述隔離感應(yīng)裝置包括多個(gè)隔離感應(yīng)電路，每個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置或高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置均連接有一個(gè)隔離感應(yīng)電路；所述隔離電源裝置包括多個(gè)隔離電源，每個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置或高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置均連接一個(gè)隔離電源。

優(yōu)選地，高壓輸出模塊包括主控制器和高壓產(chǎn)生裝置，主控制器通過I/O控制器連接至所述的微處理器，高壓產(chǎn)生裝置連接于主控制器。

優(yōu)選地，所述微處理器上連接有報(bào)警指示裝置。

優(yōu)選地，所述微處理器還連接有用于接收遠(yuǎn)端測(cè)試控制信號(hào)的遙控控制模塊。

優(yōu)選地，所述高壓輸出模塊還包括多個(gè)高壓測(cè)試通道，所述高壓測(cè)試通道分別連接高壓產(chǎn)生裝置的高壓端和低壓端，高壓測(cè)試通道內(nèi)具有用于選擇高壓端輸出或低壓端輸出的選通開關(guān)。