[發明專利]大馬士革結構的制作方法有效
| 申請號: | 201210088627.8 | 申請日: | 2012-03-29 |
| 公開(公告)號: | CN103367233A | 公開(公告)日: | 2013-10-23 |
| 發明(設計)人: | 胡敏達;張城龍;張海洋 | 申請(專利權)人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768;H01L21/02 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 駱蘇華 |
| 地址: | 201203 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 大馬士革 結構 制作方法 | ||
1.一種大馬士革結構的制作方法,其特征在于,所述制作方法包括:
在金屬導電層上依次形成介電層、掩模層;
以至少經過一次圖形化處理的所述掩模層為掩模、對所述介電層進行刻蝕,在所述介電層中形成暴露所述金屬導電層的溝槽、孔;
利用包含濃雙氧水與EKC575的溶液對所述溝槽、孔進行第一清洗處理;
第一清洗處理之后,在等離子體反應腔室中利用包含N2與H2的混合氣體對所述溝槽、孔進行處理;
利用稀氫氟酸對所述溝槽、孔進行第二清洗處理。
2.根據權利要求1所述的制作方法,其特征在于,所述掩模層包括金屬硬掩模。
3.根據權利要求2所述的制作方法,其特征在于,所述金屬硬掩模的材質包括TiN、BN。
4.根據權利要求1所述的制作方法,其特征在于,所述濃雙氧水的質量百分比濃度為35%。
5.根據權利要求4所述的制作方法,其特征在于,所述濃雙氧水與EKC575的體積比為1∶6~1∶3。
6.根據權利要求1所述的制作方法,其特征在于,所述第一清洗處理的時間為90s~150s。
7.根據權利要求1所述的制作方法,其特征在于,利用包含N2與H2的混合氣體對所述溝槽、孔進行處理的過程中,工藝條件為:N2的流量為10sccm~100sccm,H2的流量為10sccm~20sccm,壓力為5Torr~100Torr,功率為100W~500W,射頻功率為2MHz~60MHz,時間為8s~30s。
8.根據權利要求1所述的制作方法,其特征在于,所述稀氫氟酸是由質量百分比濃度為49%的濃氫氟酸與水按照500∶1~2000∶1的體積比混合而成。
9.根據權利要求1所述的制作方法,其特征在于,所述第二清洗處理的時間為10s~25s。
10.根據權利要求1所述的制作方法,其特征在于,所述介電層為低k介電材料。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





