[發明專利]使用晶體振蕩器的初始捕獲

有效

• 申請號: 201210085047.3
• 申請日: 2012-03-26
• 公開（公告）號: CN102694503A
• 公開（公告）日: 2012-09-26
• 發明（設計）人: D·本-伊萊;A·扎斯萊維斯凱
• 申請（專利權）人: 馬維爾國際貿易有限公司
• 主分類號: H03B5/04
• 分類號: H03B5/04
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 酆迅;羅世娜

1.一種方法，其包括：

在接收器的存儲器中針對溫度范圍中的每個溫度保存指示所述接收器中的晶體振蕩器在所述溫度處的頻率誤差的相應第一參數，以及指示所述第一參數的不確定性的相應第二參數；

測量所述晶體振蕩器的操作溫度；

基于對應于所測量的操作溫度的所述第一參數和第二參數，選擇用于來自發射器的信號的初始捕獲的一個或多個頻率；

調諧所述接收器以在所選擇的頻率中的至少一個頻率上接收來自所述發射器的所述信號。

2.根據權利要求1所述的方法，其中針對每個溫度保存所述相應第二參數包括保存自從更新所述對應第一參數以來經過的時間的相應指示。

3.根據權利要求1所述的方法，其中選擇所述頻率包括基于所述第二參數來計算供選擇的若干頻率，以及選擇所計算的若干頻率。

4.根據權利要求1所述的方法，其中選擇所述頻率包括基于所述第一參數選擇基線頻率，以及選擇在所述基線頻率的固定頻移處的一個或多個附加頻率。

5.根據權利要求1所述的方法，其中調諧所述接收器包括在所選擇的頻率中的給定頻率上嘗試接收所述信號，以及當在所述給定頻率上接收所述信號失敗之后前進以在所選擇的頻率中的另一頻率上接收所述信號。

6.根據權利要求1所述的方法，包括：基于所述第二參數定義用于在所選擇的頻率中的每個頻率上接收所述信號的相應超時，其中調諧所述接收器包括在不多于所述相應超時的時間中在所選擇的頻率中的任何頻率上嘗試接收所述信號。

7.根據權利要求1所述的方法，其中選擇所述頻率包括基于另一操作溫度的所述第二參數來減少所述操作溫度的所述第二參數，以及基于減少的第二參數來選擇針對所述操作溫度的頻率。

8.根據權利要求1所述的方法，其中保存所述第一參數和第二參數包括基于對于所述晶體振蕩器的類型而測量的表征數據來對于每個溫度初始化所述第一參數和第二參數。

9.根據權利要求1所述的方法，其中保存所述第一參數和第二參數包括：通過在兩個或更多個相應的操作溫度處測量所述晶體振蕩器的兩個或更多個頻率誤差，以及將所述頻率誤差與所述操作溫度的相關性擬合到所測量的頻率誤差，而對于每個溫度初始化所述第一參數和第二參數。

10.根據權利要求1所述的方法，包括：在成功地在所選擇的頻率中的一個頻率上通信之后更新對應于所測量的操作溫度的所述第一參數和第二參數。

11.根據權利要求10所述的方法，其中成功地在所選擇的頻率中的所述一個頻率上通信包括以下中的至少一個：

成功地在所選擇的頻率中的所述一個頻率上執行所述初始捕獲；以及

在所選擇的頻率中的所述一個頻率上從所述發射器接收預定質量水平以上的信號。

12.根據權利要求10所述的方法，其中更新所述第一參數和第二參數包括過濾所述第一參數和第二參數的當前設置和一個或多個過去的設置。

13.一種裝置，其包括：

接收器，其被配置為接收信號；

存儲器，其被配置為針對溫度范圍中的每個溫度保存指示所述接收器中的晶體振蕩器在所述溫度處的頻率誤差的相應第一參數，以及指示所述第一參數的不確定性的相應第二參數；以及

控制電路，其被配置為獲得所述晶體振蕩器的所測量的操作溫度以基于對應于所測量的操作溫度的所述第一參數和第二參數選擇用于來自發射器的信號的初始捕獲的一個或多個頻率，以及調諧所述接收器以在所選擇的頻率中的至少一個頻率上接收來自所述發射器的所述信號。

14.根據權利要求13所述的裝置，其中所述存儲器被配置為針對每個溫度保存自從更新所述對應第一參數以來經過的時間的相應指示。

15.根據權利要求13所述的裝置，其中所述控制電路被配置為基于所述第二參數來計算供選擇的若干頻率，以及選擇所計算的若干頻率。

16.根據權利要求13所述的裝置，其中所述控制電路被配置為基于所述第一參數選擇基線頻率，以及選擇從所述基線頻率的固定頻移處的一個或多個附加頻率。