[發明專利]柔性CuCNT復合納米透明導電薄膜的檢測方法無效
| 申請號： | 201210084720.1 | 申請日： | 2012-03-28 |
| 公開（公告）號： | CN102998471A | 公開（公告）日： | 2013-03-27 |
| 發明（設計）人： | 楊陽;于復生;魯成巖;楊俊法;王海涵;趙建軍 | 申請（專利權）人： | 楊陽 |
| 主分類號： | G01N35/00 | 分類號： | G01N35/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 250101 山東省濟南市*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 柔性 cucnt 復合 納米 透明 導電 薄膜 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種柔性CuCNT復合納米透明導電薄膜的檢測方法，包括按以下次序的步驟進行：
步驟(1)：完整性檢測；
步驟(2)：平整性檢測；
步驟(3)：透光性檢測；
步驟(4)：反光性檢測；
步驟(5)：耐磨性檢測；
步驟(6)：耐敲擊檢測；
步驟(7)：導電性檢測；
步驟(8)：缺陷位置及類型標志；
其特征在于：檢測是在柔性CuCNT復合納米透明導電薄膜的生產中同步進行的，是在正常的氣壓、室溫及濕度中進行的，所有檢測結果可由計算機進行識別并自動標志缺陷類型及位置。
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