[發(fā)明專利]一種識(shí)別地層屬性的地層數(shù)據(jù)處理方法

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210084082.3
• 申請(qǐng)日: 2012-03-28
• 公開（公告）號(hào): CN102621586A
• 公開（公告）日: 2012-08-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 康志勇;閆家寧;劉興周;李若懿;周明旺;李曉濤;張博勇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 康志勇
• 主分類號(hào): G01V3/38
• 分類號(hào): G01V3/38
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種識(shí)別地層屬性的地層數(shù)據(jù)處理方法，其包括以下步驟：

1)利用地質(zhì)勘探開發(fā)設(shè)備，可以采集到基巖儲(chǔ)層地層數(shù)據(jù)；

2)基于采集到的基巖地層數(shù)據(jù)，通過地層數(shù)據(jù)分析設(shè)備獲得基巖純水層真電阻率(R_o)、基巖含可動(dòng)水油層真電阻率(R′_T)、基巖純油層真電阻率(R_T)；

3)基于采集到的基巖地層數(shù)據(jù)，通過基巖油藏地層數(shù)據(jù)分析設(shè)備獲得包括受鉆井液污染的基巖地層視電阻率【即淺側(cè)向視電阻率(R_s)和深側(cè)向視電阻率(R_t)】、地層溫度下泥漿濾液電阻率(R_mf)、淺側(cè)向地層流體替換率(u_fs)、深側(cè)向地層流體替換率(u_fd)、淺側(cè)向泥漿濾液分配系數(shù)(v_fs)、深側(cè)向泥漿濾液分配系數(shù)(v_fd)、基巖基質(zhì)孔隙度(φ_b)、基質(zhì)原始含油飽和度(S′_boi)、基質(zhì)束縛水飽和度(S′_bwi)、基質(zhì)含水飽和度(S′_bw)、裂縫含水飽和度(S′_fw)、基質(zhì)可動(dòng)水飽和度(S′_bwf)、裂縫束縛水飽和度(S′_fwi)、裂縫原始含油飽和度(S′_foi)、裂縫可動(dòng)水飽和度(S′_fwf)、地層束縛水電阻率(R_wi)、地層可動(dòng)水電阻率(R_wf)；

4)依據(jù)雙重孔隙介質(zhì)的特點(diǎn)和實(shí)際巖心分析數(shù)據(jù)建立的單位基巖儲(chǔ)層體積模型，得到雙重孔隙介質(zhì)孔隙度與基巖含水飽和度(S_w)、基巖束縛水飽和度(S_wi)、基巖可動(dòng)水飽和度(S_wf)之間的關(guān)系方程φ_t＝φ_b+φ_f；S_wi＝S_bwi+S_fwi，S_bwi＝φ_bS′_bwi/φ_t，S_fwi＝φ_fS′_fwi/φ_t，S_wi＝(φ_bS′_bwi+φ_fS′_fwi)/φ_t；S_wf＝S_bwf+S_fwf，S_bwf＝φ_bS′_bwf/φ_t，S_fwf＝φ_fS′_fwf/φ_t，S_wf＝(φ_bS′_bwf+φ_fS′_fwf)/φ_t；S_w＝S_bw+S_fw，S_bw＝φ_bS′_bw/φ_t，S_fw＝φ_fS′_fw/φ_t，S_w＝(φ_bS′_bw+φ_fS′_fw)/φ_t；

其中S′_fwi-裂縫束縛水飽和度，f；S′_fwf-裂縫可動(dòng)水飽和度，f；S_bwi-基巖基質(zhì)束縛水飽和度，f；S_fwi-基巖裂縫束縛水飽和度，f；S_wi-基巖束縛水飽和度，f；S′_bwi-基質(zhì)束縛水飽和度，f；S′_fwi-裂縫束縛水飽和度，f；S_bwf-基巖基質(zhì)可動(dòng)水飽和度，f；S_fwf-基巖裂縫可動(dòng)水飽和度，f；S_wf-基巖可動(dòng)水飽和度，f；S′_bwf-基質(zhì)可動(dòng)水飽和度，f；S′_fwf-裂縫可動(dòng)水飽和度，f；S_bw-基巖基質(zhì)含水飽和度，f；S_fw-基巖裂縫含水飽和度，f；S_w-基巖含水飽和度，f；S′_bw-基質(zhì)含水飽和度，f；S′_fw-裂縫含水飽和度，f；φ_b-基巖基質(zhì)孔隙度，f；φ_f-基巖裂縫孔隙度，f；φ_t-基巖總孔隙度，f。

5)根據(jù)在步驟2)中獲得的基巖地層受污染前的純水層真電阻率(R_o)、基巖含可動(dòng)水油層真電阻率(R′_T)、基巖純油層真電阻率(R_T)，以及根據(jù)在步驟3)中獲得的受鉆井液污染后的地層視電阻率【即淺側(cè)向視電阻率(R_s)和深側(cè)向視電阻率(R_t)】、地層溫度下的泥漿濾液電阻率(R_mf)、淺側(cè)向地層流體替換率(u_fs)、深側(cè)向地層流體替換率(u_fd)、淺側(cè)向泥漿濾液分配系數(shù)(v_fs)、深側(cè)向泥漿濾液分配系數(shù)(v_fd)、基巖基質(zhì)孔隙度(φ_b)、基質(zhì)原始含油飽和度(S′_boi)、基質(zhì)束縛水飽和度(S′_bwi)、基質(zhì)含水飽和度(S′_bw)、裂縫含水飽和度(S′_fw)、基質(zhì)可動(dòng)水飽和度(S′_bwf)、裂縫束縛水飽和度(S′_fwi)、裂縫原始含油飽和度(S′_foi)、裂縫可動(dòng)水飽和度(S′_fwf)來獲得該地層的實(shí)際基巖地層視電阻率、地層束縛水電阻率(R_wi)、地層可動(dòng)水電阻率(R_wf)，從而推導(dǎo)出基巖裂縫孔隙度；

6)根據(jù)基巖裂縫孔隙度，可以判定出基巖儲(chǔ)層的地層屬性。