[發明專利]低頻微振動聲光調制檢測裝置

無效

• 申請號: 201210083376.4
• 申請日: 2012-03-27
• 公開（公告）號: CN102620810A
• 公開（公告）日: 2012-08-01
• 發明（設計）人: 苗揚;王少萍
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G01H9/00
• 分類號: G01H9/00
• 代理公司: 西安永生專利代理有限責任公司 61201
• 代理人: 申忠才

1.一種低頻微振動聲光調制檢測裝置，其特征在于：在支架(11)上設置隔震墊(10)、隔震墊(10)上設置有水箱(8)，水箱(8)的上端設置安裝有注水管蓋(6)的注水管(7)，水箱(8)左側壁上設置安裝有半導體激光器(3)的托架(2)、水箱(8)左側壁半導體激光器(3)的激光出射方向設置有光闌(14)和位于光闌(14)上方的CCD攝像頭(4)，CCD攝像頭(4)通過導線與計算機(1)相連，水箱(8)前側壁上設置有液位視窗(9)，水箱(8)底部中心孔上設置有與水箱(8)內相聯通的探管(13)，探管(13)下端內設置有永久磁體(12)。

2.按照權利要求1所述的低頻微振動聲光調制檢測裝置，其特征在于：所述的探管(13)為橡膠軟管，永久磁體(12)設置在橡膠軟管內下端。

3.按照權利要求1所述的低頻微振動聲光調制檢測裝置，其特征在于：所述的探管(13)為在兩根直管之間聯通有可隔振的波紋管，上面一根直管的上端設置在水箱(8)底部的中心孔上，下面一根直管下端內設置有永久磁體(12)。

4.按照權利要求1或2或3所述的低頻微振動聲光調制檢測裝置，其特征在于：所述的永久磁體(12)上表面與水箱(8)內水面的垂直距離為150mm。

5.按照權利要求1所述的低頻微振動聲光調制檢測裝置，其特征在于：所述的水箱(8)底部中心孔的孔徑為10mm。

6.按照權利要求1所述的低頻微振動聲光調制檢測裝置，其特征在于：所述的半導體激光器(3)的波長為635nm。

7.按照權利要求1所述的低頻微振動聲光調制檢測裝置，其特征在于：所述的水箱(8)內橫截面為10×10cm²的正方形。

8.按照權利要求1或3或5所述的低頻微振動聲光調制檢測裝置，其特征在于：所述的水箱(8)為不透光水箱。

9.按照權利要求4所述的低頻微振動聲光調制檢測裝置，其特征在于：所述的水箱(8)為不透光水箱。

10.按照權利要求1所述的低頻微振動聲光調制檢測裝置，其特征在于：所述的光闌(14)的孔徑為2.3mm。