[發明專利]多倍光程反射腔體

無效

• 申請號: 201210083011.1
• 申請日: 2012-03-27
• 公開（公告）號: CN102621106A
• 公開（公告）日: 2012-08-01
• 發明（設計）人: 金貴新;王書潛;陳海永;李志剛;賈林濤;郭東歌;楊清永
• 申請（專利權）人: 北京智威宇訊科技有限公司
• 主分類號: G01N21/55
• 分類號: G01N21/55
• 代理公司: 鄭州紅元帥專利代理事務所(普通合伙) 41117
• 代理人: 黃軍委

技術領域

本發明涉及一種基于光譜吸收原理的傳感器，具體的說，涉及了一種用于傳感器的多倍光程反射腔體。

背景技術

基于光譜吸收原理的傳感器具有測量靈敏度高、氣體鑒別能力強、響應速度快等特點，其具有廣泛的應用前景；但是，目前所采用的腔體大多為單光路腔體，即，在腔體的一端發射光信號，在腔體的另一端接收光信號；由于標準機箱規格的限制，單光路腔體的光程通常不超過0.2m；根據比爾－朗伯特（Beer－Lambert）定律，采用單光程腔體所做的儀器，由于測量光程短，其測量靈敏度通常較低，僅限于高濃度氣體的測量；而常規的多次反射腔體往往因結構原因，使得組裝、調整困難，且易發生變形，致使測量靈敏度不可靠。

為了解決以上存在的問題，人們一直在尋求一種理想的技術解決方案。

發明內容

本發明的目的是針對現有技術的不足，從而提供了一種結構簡單、易于調整、抗干擾能力強、檢測靈敏度高、檢測量程范圍寬、集成度高的反射腔體。

為了實現上述目的，本發明所采用的技術方案是：一種奇數倍光程反射腔體，它包括架體、安裝在所述架體上的兩個球面凹面反射鏡、光線發射器和與所述光線發射器配套的光電探測器；其中，兩個所述球面凹面反射鏡的曲率半徑相同且同軸平行設置，兩個所述球面凹面反射鏡的光線反射面相對設置；第一所述球面凹面反射鏡上開設有光線入射穿孔，所述光線發射器對應所述光線入射穿孔設置并安裝在第一所述球面凹面反射鏡的背光面；第二所述球面凹面反射鏡上開設有光線出射穿孔，所述光電探測器對應所述光線出射穿孔設置并安裝在第二所述球面凹面反射鏡的背光面；所述光線出射穿孔對應自所述光線入射穿孔入射的光線經N次反射在第二所述球面凹面反射鏡的光線反射面形成的光斑設置；N是不小于1的自然數。

基于上述，它包括M組配套的光線發射器和光電探測器；第一所述球面凹面反射鏡上分別開設有M個光線入射穿孔，M組所述光線發射器分別對應M個所述光線入射穿孔設置；第二所述球面凹面反射鏡上分別開設有M個光線出射穿孔，M組所述光電探測器分別對應M個所述光線出射穿孔設置；M個光線入射穿孔與M個光線出射穿孔呈一一對應關系，且第i所述光線出射穿孔對應自第i所述光線入射穿孔入射的光線經Ni次反射在第二所述球面凹面反射鏡的光線反射面形成的光斑設置；M是不小于2的自然數，i是不小于1且不大于M的自然數，Ni是不小于1且不大于N的自然數。

基于上述，M組光線發射器和光電探測器完全相同，第i所述光線入射穿孔與第i所述光線出射穿孔之間構成Ni次反射光程，且M個光線入射穿孔與M個光線出射穿孔之間構成的M個光程的反射次數不同。

基于上述，M組光線發射器和光電探測器不完全相同。

一種偶數倍光程反射腔體，它包括架體、安裝在所述架體上的兩個球面凹面反射鏡、光線發射器和與所述光線發射器配套的光電探測器；其中，兩個所述球面凹面反射鏡的曲率半徑相同且同軸平行設置，兩個所述球面凹面反射鏡的光線反射面相對設置；第一所述球面凹面反射鏡上分別開設有光線入射穿孔和光線出射穿孔，所述光線發射器對應所述光線入射穿孔設置并安裝在第一所述球面凹面反射鏡的背光面，所述光電探測器對應所述光線出射穿孔設置并安裝在第一所述球面凹面反射鏡的背光面；所述光線出射穿孔對應自所述光線入射穿孔入射的光線經N次反射在第一所述球面凹面反射鏡的光線反射面形成的光斑設置；N是不小于2的自然數。

基于上述，它包括M組配套的光線發射器和光電探測器；第一所述球面凹面反射鏡上分別開設有M個光線入射穿孔和M個光線出射穿孔，M個所述光線發射器分別對應M個所述光線入射穿孔設置，M個所述光電探測器分別對應M個所述光線出射穿孔設置；M個光線入射穿孔與M個光線出射穿孔呈一一對應關系，且第i所述光線出射穿孔對應自第i所述光線入射穿孔入射的光線經Ni次反射在第一所述球面凹面反射鏡的光線反射面形成的光斑設置；M是不小于2的自然數，i是不小于1且不大于M的自然數，Ni是不小于2且不大于N的自然數。

基于上述，M組光線發射器和光電探測器完全相同，第i所述光線入射穿孔與第i所述光線出射穿孔之間構成Ni次反射光程，且M個光線入射穿孔與M個光線出射穿孔之間構成的M個光程的反射次數不同。

基于上述，M組光線發射器和光電探測器不完全相同。