[發(fā)明專利]觸控面板測試方法及其測試軟件有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210082956.1 | 申請日: | 2012-03-26 |
| 公開(公告)號: | CN103176075A | 公開(公告)日: | 2013-06-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳俊男;王培旭;徐宗賢;王嘉隆;陳柏樺;徐偉碩 | 申請(專利權(quán))人: | 和鑫光電股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 張大威 |
| 地址: | 中國臺灣臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 面板 測試 方法 及其 軟件 | ||
1.一種測試觸控面板的方法,包括下列步驟:
提供所述觸控面板;
提供觸控面板測試軟件,其包含數(shù)據(jù)可變參數(shù),所述數(shù)據(jù)可變參數(shù)包括接口設(shè)定可變參數(shù)、觸控芯片可變參數(shù)、自動測試可變參數(shù)及手動測試可變參數(shù)中的至少一種;以及
決定對應(yīng)于所述觸控面板的所述數(shù)據(jù)可變參數(shù),以對所述觸控面板進(jìn)行測試。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其中:
所述觸控面板測試軟件還包括數(shù)據(jù)單元,其包含所述數(shù)據(jù)可變參數(shù);
所述提供觸控面板測試軟件的步驟進(jìn)一步包括:
提供電腦;以及
安裝所述觸控面板測試軟件于所述電腦上;以及
所述決定對應(yīng)于所述觸控面板的所述數(shù)據(jù)可變參數(shù)的步驟進(jìn)一步包括:
由使用者于所述電腦上使用所述觸控面板測試軟件中的所述數(shù)據(jù)單元,以輸
入所述數(shù)據(jù)可變參數(shù)。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其中所述觸控面板測試軟件還包括數(shù)據(jù)單元及應(yīng)用程序,所述數(shù)據(jù)單元包含所述數(shù)據(jù)可變參數(shù),所述應(yīng)用程序包括觸控軌跡顯示單元、自動測試單元及手動測試單元,所述方法進(jìn)一步包括下列步驟:
使用所述觸控軌跡顯示單元,載入所述接口設(shè)定可變參數(shù)和/或所述觸控芯片可變參數(shù),以顯示觸控軌跡于所述觸控面板上;以及
使用所述自動測試單元,載入所述自動測試可變參數(shù)和/或所述接口設(shè)定可變參數(shù)和/或所述觸控芯片可變參數(shù),以對所述觸控面板進(jìn)行自動測試。
4.如權(quán)利要求3所述的方法,其中所述手動測試可變參數(shù)包括消框測試可變參數(shù)、線性測試可變參數(shù)、準(zhǔn)確性測試可變參數(shù)及所述觸控面板的尺寸,所述方法還包括步驟:
使用所述手動測試單元,載入所述手動測試可變參數(shù)和/或所述接口設(shè)定可變參數(shù)和/或所述觸控芯片可變參數(shù),以對所述觸控面板進(jìn)行手動測試。
5.如權(quán)利要求4所述的方法,其中所述手動測試單元包括消框測試程序、線性測試程序及準(zhǔn)確性測試程序,所述使用所述手動測試單元的步驟進(jìn)一步包括下列步驟:對所述觸控面板進(jìn)行消框測試,其包括下列步驟:
進(jìn)行所述消框測試程序,并輸入所述消框測試可變參數(shù);
使所述消框測試程序在所述觸控面板的4周邊界上定義包含多個(gè)區(qū)塊的框狀區(qū)域,其中所述消框測試可變參數(shù)包括所述多個(gè)區(qū)塊的大小及消框測試時(shí)間;
對所述多個(gè)區(qū)塊逐一進(jìn)行消框觸碰測試,使所述觸控軌跡顯示單元接收所述消框觸碰測試的觸碰軌跡,當(dāng)所述消框觸碰測試的觸碰軌跡未落在所述多個(gè)區(qū)塊中正進(jìn)行所述消框觸碰測試的區(qū)塊內(nèi)時(shí),則不消除所述正進(jìn)行消框觸碰測試的所述區(qū)塊,當(dāng)所述消框觸碰測試的觸碰軌跡落在所述多個(gè)區(qū)塊中正進(jìn)行所述消框觸碰測試的區(qū)塊內(nèi)時(shí),則消除所述正進(jìn)行消框觸碰測試的所述區(qū)塊,當(dāng)在所述消框測試時(shí)間內(nèi),所有所述多個(gè)區(qū)塊皆被消除時(shí),則所述觸控面板被判定為消框測試成功,當(dāng)在所述消框測試時(shí)間內(nèi),所述多個(gè)區(qū)塊有至少一個(gè)以上的區(qū)塊未被消除時(shí),則所述觸控面板被判定為消框測試失?。粚λ鲇|控面板進(jìn)行線性測試,其包括下列步驟:
進(jìn)行所述線性測試程序,并輸入所述線性測試可變參數(shù);
使所述線性測試過程定義所述觸控面板的所述四周邊界的4邊界線及2對角線,其中所述線性測試可變參數(shù)包括所述4邊界線及所述2對角線的寬度及線性測試時(shí)間;以及
對所述4邊界線及所述2對角線進(jìn)行線性觸碰測試,使所述觸控軌跡顯示單元接收所述線性觸碰測試的觸碰軌跡,當(dāng)所述線性觸碰測試的觸碰軌跡皆落在所述4邊界線及所述2對角線的寬度內(nèi)時(shí),則所述觸控面板被判定為線性測試成功,當(dāng)所述線性觸碰測試的觸碰軌跡有落在所述4邊界線或所述2對角線中的任何一個(gè)的寬度外時(shí),則所述觸控面板被判定為線性測試失敗;以及對所述觸控面板進(jìn)行準(zhǔn)確性測試,其包括下列步驟:
進(jìn)行所述準(zhǔn)確性測試程序,并輸入所述準(zhǔn)確性測試可變參數(shù);
使所述準(zhǔn)確性測試過程定義所述觸控面板的4角落點(diǎn)、所述四周邊界的每個(gè)邊界的中間點(diǎn)、所述2對角線的交叉點(diǎn)及所述交叉點(diǎn)與每個(gè)所述4角落點(diǎn)的距離的中間點(diǎn),共13個(gè)測試點(diǎn),每個(gè)所述測試點(diǎn)具有測試圓圈,所述測試圓圈的圓心位于所述測試點(diǎn)上,所述測試圓圈的大小定義所述準(zhǔn)確性測試的容忍范圍,其中所述準(zhǔn)確性測試可變參數(shù)包括所述測試圓圈的半徑大小及準(zhǔn)確性測試時(shí)間;以及
對所述13個(gè)測試點(diǎn)逐一進(jìn)行準(zhǔn)確性觸碰測試,使所述觸控軌跡顯示單元接收
所述準(zhǔn)確性觸碰測試的觸碰軌跡,當(dāng)所有所述準(zhǔn)確性觸碰測試的觸碰軌跡均落在正進(jìn)行所述準(zhǔn)確性觸碰測試的所述測試點(diǎn)的所述測試圓圈內(nèi)時(shí),則所述觸控面板被判定為準(zhǔn)確性測試成功,當(dāng)所述準(zhǔn)確性觸碰測試的觸碰軌跡中的至少一個(gè)未落在正進(jìn)行所述準(zhǔn)確性觸碰測試的所述測試點(diǎn)的所述測試圓圈內(nèi)時(shí),則所述觸控面板被判定為準(zhǔn)確性測試失敗。
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