[發明專利]氣體分析器

無效

• 申請號: 201210082786.7
• 申請日: 2008-11-06
• 公開（公告）號: CN102645409A
• 公開（公告）日: 2012-08-22
• 發明（設計）人: M·D·費托;R·D·艾科爾斯;G·G·伯巴;D·K·麥克德米特;J·M·威爾斯
• 申請（專利權）人: 利康股份有限公司
• 主分類號: G01N21/25
• 分類號: G01N21/25;G01N21/00;G01K7/02;G01L7/00;G01D21/02
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 錢孟清

1.一種用于確定氣體通量的方法，包括：

使氣體流過氣流槽，包括所述氣流槽沿長度小于2米的進氣路徑接收來自空氣的氣體；

測量位于所述氣流槽附近的氣體的溫度；

測量所述氣流槽中的水蒸氣水平；

測量位于所述氣流槽附近的氣體的壓力，其中所述溫度和所述壓力的測量以約1.0Hz或更快的速率進行；

至少基于所述溫度、所述水蒸氣水平和所述壓力確定干摩爾分數；以及

在不對因水蒸氣、溫度和壓力產生的累積效應作校正的情況下，基于所述干摩爾分數確定氣體通量。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述進氣路徑的長度小于1米。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述進氣路徑包括連接至所述氣流槽的進氣端口的進氣管，所述進氣管的長度小于2米。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述氣體的溫度在所述氣流槽中測量。

5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，進一步包括測量所述氣流槽中的第二溫度，其中所述干摩爾分數進一步基于所述第二溫度。

6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述測量水蒸氣水平的步驟包括測量所述氣流槽內對光的吸收率，所述水蒸氣水平至少基于所述吸收率。

7.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述壓力在所述氣流槽內的一位置處測量。

8.一種氣體分析系統，所述系統包括：

氣流槽，其中氣體從進氣端口流向出氣端口，所述進氣端口與長度小于2米的進氣路徑流體連通；

光源，配置成透過所述氣流槽發射光；

檢測器子系統，配置成輸出表示所述氣流槽中的氣體成分對光的吸收率的吸收率信號；

位于所述氣流槽附近的第一溫度傳感器，配置成以約1.0Hz或更快的速率測量氣體的溫度；

位于所述氣流槽附近的壓力傳感器，配置成以約1.0Hz或更快的速率測量氣體的壓力；以及

與所述第一溫度傳感器、壓力傳感器和檢測器子系統耦合的智能模塊，

所述智能模塊適于基于吸收率信號以及氣體壓力和溫度的測量值，來確定氣體成分的干摩爾分數，

所述智能模塊進一步適于在不對因水蒸氣、溫度和壓力產生的累積效應作校正的情況下，基于所述干摩爾分數確定氣體通量。

9.如權利要求8所述的系統，其特征在于，所述進氣路徑包括進氣管。

10.如權利要求8所述的系統，其特征在于，所述進氣路徑的長度小于1米。

11.如權利要求8所述的系統，其特征在于，所述第一溫度傳感器配置成測量在所述氣流槽中流動的氣體的溫度。

12.如權利要求8所述的系統，其特征在于，進一步包括用于測量在所述氣流槽中流動的氣體的第二溫度的第二溫度傳感器，其中所述干摩爾分數進一步基于所述氣體的第二溫度。

13.如權利要求8所述的系統，其特征在于，所述壓力傳感器設置在所述氣流槽內的一位置處。

14.一種測量氣體分析器的氣流槽中的氣體成分的干摩爾分數的方法，所述方法包括：

使氣體流過所述氣流槽；

測量所述氣流槽中的氣體成分對光的吸收率；

測量位于所述氣流槽附近的氣體的溫度T1；

測量位于所述氣流槽附近的一位置處的壓力P，其中所述溫度T1和所述壓力P的測量以約1.0Hz或更快的速率進行；以及

至少基于所測量的吸收率、P和T1確定氣體成分的干摩爾分數。

15.如權利要求14所述的方法，其特征在于，測量吸收率包括：

使具有已知波長帶的光透射過所述氣流槽；

在檢測器處接收所透射的光；以及

確定氣體成分對所透射的光的吸收率。

16.如權利要求15所述的方法，其特征在于，所述透射包括使具有寬或窄波長帶的光透射過窄通帶濾波器，其中所述窄通帶濾波器允許已知波長帶中的大部分光通過。

17.如權利要求14所述的方法，其特征在于，進一步包括測量流過所述氣流槽的氣體的溫度T2，其中T1是在所述氣流槽的進氣端口附近流動的氣體的溫度，而T2是在所述氣流槽的出氣端口附近流動的氣體的溫度。