[發(fā)明專(zhuān)利]光學(xué)式觸控裝置

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210082406.X
• 申請(qǐng)日: 2012-03-26
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103365479A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-10-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 余文雄
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 友碁科技股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F3/042
• 分類(lèi)號(hào): G06F3/042
• 代理公司: 上海一平知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31266
• 代理人: 任永武;須一平

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種觸控裝置，特別是涉及一種光學(xué)式觸控裝置。

背景技術(shù)

請(qǐng)參閱圖1，一種現(xiàn)有的光學(xué)式觸控面板相關(guān)技術(shù)，如中國(guó)臺(tái)灣公開(kāi)TW201035836號(hào)專(zhuān)利所公開(kāi)的光學(xué)檢測(cè)裝置，其包括掃描裝置110、檢測(cè)器120，及比較模塊130。其中，掃描裝置110包括光源112、反射鏡114，及耦接于反射鏡114的旋轉(zhuǎn)致動(dòng)器116；光源112用以產(chǎn)生掃描光線；反射鏡114配置來(lái)將掃描光線反射進(jìn)檢測(cè)區(qū)140；旋轉(zhuǎn)致動(dòng)器116用以旋轉(zhuǎn)反射鏡114，借此使掃描光線的入射角隨著時(shí)間變化。檢測(cè)器120配置來(lái)檢測(cè)反射光線，其中，反射光線由掃描光線在檢測(cè)區(qū)140內(nèi)被真實(shí)觸點(diǎn)T1、T2反射所產(chǎn)生。比較模塊130可根據(jù)反射光線被檢測(cè)器120檢測(cè)時(shí)所產(chǎn)生的時(shí)間信號(hào)，來(lái)區(qū)分真實(shí)觸點(diǎn)T1、T2及虛觸點(diǎn)G1、G2(或稱(chēng)鬼點(diǎn)(ghost?point))。

然而，上述現(xiàn)有的光學(xué)檢測(cè)裝置是利用三角定位法(triangulation)來(lái)求得真實(shí)觸點(diǎn)T1、T2的位置，其涉及的正切(tangent)函數(shù)及余切(cotangent)函數(shù)的計(jì)算復(fù)雜度較高。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種光學(xué)式觸控裝置。本發(fā)明光學(xué)式觸控裝置，包含：一個(gè)面板本體、一個(gè)第一掃描光線產(chǎn)生模塊、一個(gè)第二掃描光線產(chǎn)生模塊、一個(gè)第一光感測(cè)模塊、一個(gè)第二光感測(cè)模塊、一個(gè)存儲(chǔ)器，及一個(gè)處理單元。

該面板本體包括一個(gè)表面，該表面具有一個(gè)觸碰區(qū)域。該第一掃描光線產(chǎn)生模塊用以持續(xù)地產(chǎn)生一第一掃描光線，該第一掃描光線與一參考線的一個(gè)第一夾角隨時(shí)間而變化；該第一掃描光線產(chǎn)生模塊還用以提供與該第一掃描光線相對(duì)應(yīng)的一個(gè)時(shí)間。該第二掃描光線產(chǎn)生模塊用以持續(xù)地產(chǎn)生一第二掃描光線，該第二掃描光線與該參考線的一個(gè)第二夾角隨時(shí)間而變化；該第二掃描光線產(chǎn)生模塊還用以提供與該第二掃描光線相對(duì)應(yīng)的一個(gè)時(shí)間。該第一光感測(cè)模塊用以感測(cè)光線，該第一光感測(cè)模塊在感測(cè)到超過(guò)一特定強(qiáng)度的光線時(shí)會(huì)產(chǎn)生一個(gè)第一感測(cè)信號(hào)。該第二光感測(cè)模塊用以感測(cè)光線，該第二光感測(cè)模塊在感測(cè)到超過(guò)該特定強(qiáng)度的光線時(shí)會(huì)產(chǎn)生一個(gè)第二感測(cè)信號(hào)。該存儲(chǔ)器用于儲(chǔ)存預(yù)先建立的一個(gè)查找表，該查找表包括多個(gè)時(shí)間，及分別對(duì)應(yīng)于所述時(shí)間的多個(gè)角度信息。該處理單元電連接于該第一掃描光線產(chǎn)生模塊、該第二掃描光線產(chǎn)生模塊、該第一光感測(cè)模塊、該第二光感測(cè)模塊，及該存儲(chǔ)器。

當(dāng)有至少一個(gè)物件觸碰到該觸碰區(qū)域時(shí)，該至少一個(gè)物件會(huì)反射該第一掃描光線產(chǎn)生模塊于至少一個(gè)第一時(shí)間序列所產(chǎn)生的第一掃描光線，并由該第一光感測(cè)模塊感測(cè)而對(duì)應(yīng)產(chǎn)生至少一連串第一感測(cè)信號(hào)；該至少一個(gè)物件還會(huì)反射該第二掃描光線產(chǎn)生模塊于至少一第二時(shí)間序列所產(chǎn)生的第二掃描光線，并由該第二光感測(cè)模塊感測(cè)而對(duì)應(yīng)產(chǎn)生至少一連串第二感測(cè)信號(hào)；其中，該至少一個(gè)第一時(shí)間序列的一個(gè)數(shù)量以表示，該至少一第二時(shí)間序列的一個(gè)數(shù)量以表示。

該處理單元在接收該個(gè)第一時(shí)間序列及該個(gè)第二時(shí)間序列之后，根據(jù)該個(gè)第一時(shí)間序列得到第一查找索引并根據(jù)該個(gè)第二時(shí)間序列得到個(gè)第二查找索引，再根據(jù)該個(gè)第一查找索引及該個(gè)第二查找索引，配合該查找表以得到至少一個(gè)角度信息組，然后根據(jù)每一個(gè)角度信息組求得一個(gè)觸碰點(diǎn)位置。

本發(fā)明的有益效果在于：通過(guò)預(yù)先建立并儲(chǔ)存于該存儲(chǔ)器的該查找表，該處理單元完全不需要進(jìn)行任何的三角函數(shù)運(yùn)算，即可根據(jù)由該查找表得到的該至少一個(gè)角度信息組，求得該至少一個(gè)觸碰點(diǎn)座標(biāo)，大幅降低定位所需的計(jì)算復(fù)雜度。

附圖說(shuō)明

圖1是現(xiàn)有的一種光學(xué)檢測(cè)裝置的示意圖；

圖2是本發(fā)明一個(gè)較佳實(shí)施例的光學(xué)式觸控裝置的示意圖；

圖3是本發(fā)明該較佳實(shí)施例的光學(xué)式觸控裝置的電路方塊圖；

圖4是本發(fā)明該較佳實(shí)施例的光學(xué)式觸控裝置的示意圖，顯示僅有單一觸碰點(diǎn)的一個(gè)范例；

圖5是用于本發(fā)明該較佳實(shí)施例的光學(xué)式觸控裝置的一個(gè)觸碰點(diǎn)定位方法的流程圖；

圖6是本發(fā)明該較佳實(shí)施例的光學(xué)式觸控裝置的示意圖，顯示多個(gè)觸碰點(diǎn)與其中一個(gè)掃描鏡的中心共一條直線的一個(gè)范例；

圖7是本發(fā)明該較佳實(shí)施例的光學(xué)式觸控裝置的示意圖，顯示所述觸碰點(diǎn)不與任一個(gè)掃描鏡的中心共一條直線的一個(gè)范例；

圖8是本發(fā)明該較佳實(shí)施例的光學(xué)式觸控裝置的示意圖，顯示所述觸碰點(diǎn)不與任一個(gè)掃描鏡的中心共一條直線的一個(gè)范例。

具體實(shí)施方式