[發明專利]校正X射線探測器的探測器數據的方法和X射線拍攝系統

有效

• 申請號: 201210082177.1
• 申請日: 2012-03-26
• 公開（公告）號: CN102688052A
• 公開（公告）日: 2012-09-26
• 發明（設計）人: S.卡普勒;J.基普斯;E.克拉夫特;D.尼德爾洛赫納;T.雷切爾;C.施羅特;T.馮德哈爾
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: A61B6/02
• 分類號: A61B6/02;A61B6/03
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 謝強

1.一種用于校正X射線探測器(C3，C5)的探測器數據的方法，其特征在于，在當前測量中關于整個X射線探測器或者關于X射線探測器的局部區域，就由此引起的測量靈敏度衰減以及測量靈敏度衰減的恢復來說，考慮X射線探測器(C3，C5)的射線負荷的歷史，并且通過取決于射線負荷歷史的校正因數來校正確定的測量信號。

2.根據上述權利要求1所述的方法，其特征在于，所述校正因數至少也取決于整個X射線探測器(C3，C5)或者X射線探測器的局部區域的輻照的持續時間。

3.根據上述權利要求1至2中任一項所述的方法，其特征在于，所述校正因數至少也取決于整個X射線探測器(C3，C5)或者X射線探測器的局部區域的輻照的強度。

4.根據上述權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，所述校正因數至少也取決于整個X射線探測器(C3，C5)或者X射線探測器的局部區域的輻照的頻譜組成。

5.根據上述權利要求1至4中任一項所述的方法，其特征在于，所述校正因數至少也取決于整個X射線探測器(C3，C5)或者X射線探測器的局部區域的輻照間歇的持續時間。

6.根據上述權利要求1至5中任一項所述的方法，其特征在于，還確定在當前掃描期間出現的射線負荷并且計入各個當前校正因數的計算。

7.根據上述權利要求1至6中任一項所述的方法，其特征在于，在計算校正因數時假定探測器材料的就對X射線信號的信號響應中的衰減來說的倒數指數特性。

8.根據上述權利要求1至7中任一項所述的方法，其特征在于，假定探測器材料的就對X射線信號的信號響應隨著時間的恢復來說的指數特性。

9.根據上述權利要求8所述的方法，其特征在于，所述探測器材料的就對X射線信號的信號響應隨著時間的恢復來說的指數特性通過至少兩個具有不同時間常數的指數函數的和來表達。

10.根據上述權利要求1至9中任一項所述的方法，其特征在于，對歷史的采集和校正逐信道地進行。

11.根據上述權利要求1至9中任一項所述的方法，其特征在于，對歷史的采集和校正逐像素地進行。

12.一種X射線拍攝系統，特別是在CT系統或C形臂系統(C1)中的X射線拍攝系統，所述X射線拍攝系統具有探測器(C3，C5)和讀取裝置，該探測器具有按照組逐信道地讀取的多個探測器元件，該讀取裝置具有計算機輔助裝置(C10)以用于在將探測器數據進一步處理為投影的或斷層造影的圖像之前校正讀取的探測器數據，其特征在于，所述計算機輔助裝置(C10)具有在其中存儲了程序代碼(Prg₁-Prg_n)的存儲器，該程序代碼在運行時執行根據上述權利要求中任一項所述的方法。