[發(fā)明專利]一種檢測(cè)光網(wǎng)絡(luò)故障的測(cè)量方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210081948.5 | 申請(qǐng)日: | 2012-03-23 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103326776A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-09-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 朱梅冬;陸建鑫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中興通訊股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H04B10/071 | 分類號(hào): | H04B10/071 |
| 代理公司: | 北京安信方達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11262 | 代理人: | 李健;龍洪 |
| 地址: | 518057 廣東省深圳市南山*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 檢測(cè) 網(wǎng)絡(luò)故障 測(cè)量方法 裝置 | ||
1.一種檢測(cè)光網(wǎng)絡(luò)故障的測(cè)量方法,包括:
設(shè)置產(chǎn)生偽隨機(jī)序列的參數(shù),根據(jù)所述參數(shù)產(chǎn)生偽隨機(jī)序列,并連續(xù)發(fā)射所述偽隨機(jī)序列;
根據(jù)所述偽隨機(jī)序列產(chǎn)生光信號(hào),發(fā)送至待測(cè)光纖進(jìn)行光時(shí)域反射測(cè)量。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于:
所述根據(jù)所述偽隨機(jī)序列產(chǎn)生光信號(hào)包括:
將所述偽隨機(jī)序列直接轉(zhuǎn)換為光信號(hào);
將所述偽隨機(jī)序列處理成極性相反的偽隨機(jī)序列后,再轉(zhuǎn)換為光信號(hào),
所述進(jìn)行光時(shí)域反射測(cè)量的過(guò)程中包括:
將接收到的兩種不同極性的偽隨機(jī)序列的測(cè)量數(shù)據(jù)求差后得到的序列,與所述偽隨機(jī)序列進(jìn)行相關(guān)。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于:所述進(jìn)行光時(shí)域反射測(cè)量的過(guò)程中包括:
將接收到的所述偽隨機(jī)序列的測(cè)量數(shù)據(jù),與所述偽隨機(jī)序列與其極性相反的偽隨機(jī)序列之差的序列進(jìn)行相關(guān)。
4.如權(quán)利要求2或3所述的方法,其特征在于:所述產(chǎn)生偽隨機(jī)序列的參數(shù)包括:
測(cè)量脈沖的寬度和產(chǎn)生偽隨機(jī)序列寄存器的個(gè)數(shù)m。
5.如權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于:m滿足以下條件:
其中,Lmax為估算出的從測(cè)量點(diǎn)到光網(wǎng)絡(luò)的最遠(yuǎn)點(diǎn)的距離;
T為脈沖寬度,其中,
x為空間分辨率,v為光在光纖中的傳播速度。
6.如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于:根據(jù)所述參數(shù)產(chǎn)生的偽隨機(jī)序列之后,還包括:
在所述偽隨機(jī)序列中的每個(gè)碼元前或后插入n個(gè)連續(xù)的0。
7.如權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于:所述產(chǎn)生偽隨機(jī)序列的參數(shù)包括:
測(cè)量脈沖的寬度和產(chǎn)生偽隨機(jī)序列寄存器的個(gè)數(shù)m,其中,m滿足以下條件:
其中,Lmax為估算出的從測(cè)量點(diǎn)到光網(wǎng)絡(luò)的最遠(yuǎn)點(diǎn)的距離;
T為脈沖寬度,其中,
x為空間分辨率,v為光在光纖中的傳播速度。
8.一種檢測(cè)光網(wǎng)絡(luò)故障的測(cè)量裝置,包括:
第一模塊,用于設(shè)置產(chǎn)生偽隨機(jī)序列的參數(shù),根據(jù)所述參數(shù)產(chǎn)生偽隨機(jī)序列,并連續(xù)發(fā)射所述偽隨機(jī)序列;
第二模塊,用于根據(jù)所述偽隨機(jī)序列產(chǎn)生光信號(hào),發(fā)送至待測(cè)光纖進(jìn)行光時(shí)域反射測(cè)量。
9.如權(quán)利要求8所述的裝置,其特征在于:還包括第三模塊,
所述第二模塊,具體用于將所述偽隨機(jī)序列直接轉(zhuǎn)換為光信號(hào),發(fā)送至待測(cè)光纖進(jìn)行光時(shí)域反射測(cè)量;將所述偽隨機(jī)序列處理成極性相反的偽隨機(jī)序列后,再轉(zhuǎn)換為光信號(hào),發(fā)送至待測(cè)光纖進(jìn)行光時(shí)域反射測(cè)量;
所述第三模塊,用于進(jìn)行光時(shí)域反射測(cè)量的過(guò)程中,將接收到的兩種不同極性的偽隨機(jī)序列的測(cè)量數(shù)據(jù)求差后得到的序列,與所述偽隨機(jī)序列進(jìn)行相關(guān)。
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說(shuō)明:
1、專利原文基于中國(guó)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局專利說(shuō)明書(shū);
2、支持發(fā)明專利 、實(shí)用新型專利、外觀設(shè)計(jì)專利(升級(jí)中);
3、專利數(shù)據(jù)每周兩次同步更新,支持Adobe PDF格式;
4、內(nèi)容包括專利技術(shù)的結(jié)構(gòu)示意圖、流程工藝圖或技術(shù)構(gòu)造圖;
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