[發明專利]綜合檢測中心

無效

• 申請號: 201210081031.5
• 申請日: 2012-03-22
• 公開（公告）號: CN103322951A
• 公開（公告）日: 2013-09-25
• 發明（設計）人: 張政潑;蔣桂平;黃增合;潘慶林;賓力軍;賴顯渺;唐勤;凌維生;甘政忠;肖志文
• 申請（專利權）人: 桂林廣陸數字測控股份有限公司
• 主分類號: G01B21/00
• 分類號: G01B21/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

所屬技術領域

本發明涉及一種檢測設備，具體為一種綜合檢測中心。

背景技術

當今測量技術的三坐標測量機主要在計量室和實驗室使用，操作技術要求高，從而不易普及和適用于生產現場。現有的三坐標測量機采用離散采點和計算，直接給出檢測項目的最終數值，檢測結果受采點數量、采點位置的影響大，且不反映零件形狀、位置數值的連續變化狀況，不便于較詳細地觀察、了解和檢測零件的形狀、位置誤差變化狀況，而這對于零件誤差分析、加工設備和工藝分析是比較重要的；現有三坐標測量機不設置回轉機構，對圓柱類刀具的檢測和調整不方便，而對圓柱類刀具的檢測和調整在機械加工特別是數控加工中是很需要的，目前主要是采用專用的對刀儀；在控制裝配幾何精度時主要是依靠加工保證和人工刮研，加工保證對設備要求較高，人工刮研費時費力。

發明內容

針對上述缺陷并根據生產現場檢測的特點，本發明公開的綜合檢測中心既可進行三坐標測量，也可進行傳統的指示表直觀檢測、連續檢測，還配置回轉機構和可調V型裝置，前者可進行圓柱類刀具刀柄組件的檢測和調整，后者可進行軸類零件的直觀指示表檢測，使用功能多。在結構上還采用了兩個回轉調整機構，使坐標軸相互垂直度的調整非常簡便，并可隨時調整。本發明所采用的技術方案是：綜合檢測中心主要由立柱、Z向電機及傳動組件、Y向電機及傳動組件、轉座、工作臺、回轉機構、橫臂、輔助支承機構、可調V型裝置、底座、操縱桿、光柵檢測裝置、電氣和測量控制箱、測頭、指示表組合構成。立柱用螺釘固定在立柱基座上，立柱和立柱基座之間設置有B基準柱體，立柱基座通過X向導軌與底座連接，并在立柱基座和底座之間通過螺釘固定有X向電機和傳動組件，升降滑座通過Z向導軌與立柱相連接，轉座用螺釘固定在升降滑座上，轉座和升降滑座之間設置有A基準柱體；在立柱和升降滑座之間通過螺釘固定有Z向電機和傳動組件，橫臂通過Y向導軌與轉座相連接，并在橫臂和轉座之間通過螺釘固定有Y向電機和傳動組件；測頭座用螺釘固定在橫臂的前端，測頭或指示表安裝在可調測頭座上，工作臺放置在底座的前方，電氣和測量控制箱放置在主機的側邊，操縱桿安裝在電氣和測量控制箱上方，Z向光柵檢測裝置、X向光柵檢測裝置、Y向光柵檢測裝置分別用螺釘固定在立柱、底座、橫臂上。

立柱、升降滑座、橫臂、立柱基座組成三坐標移動框架，帶動可調測頭座及測頭實現三坐標移動；待測零件放置在工作臺上，也可以通過可調支承裝置在工作臺上；通過操作桿、電氣控制和電機，驅動相應的傳動機構，帶動測頭實現三坐標運動；通過測頭觸發，鎖定光柵數值，經測量軟件分析，得出所測結果，可以檢測各種幾何精度值，如長度、形狀、位置精度值。如果將測頭更換成指示表，則由于三坐標移動框架機構本身具有所規定的較高的幾何精度，可以通過指示表的指針變化，顯示誤差值和誤差變化狀況。

采用可調支承裝置，可以將零件調整到需要的方向，便于直觀檢測。

采用可調V型裝置，可以直觀檢測軸類零件的跳動、同軸度等誤差值。

回轉機構置于工作臺的中部，整個機構低于工作臺面。由于回轉機構具有較高的精度，可以直觀檢測盤類零件的圓度誤差；由于回轉機構中央設置有錐孔，可以將圓柱類刀具連同刀柄置于錐孔中，通過機構手動回轉和測頭或指示表檢測，實現圓柱類刀具和刀柄組件的檢測和調整。

在立柱和立柱基座之間、滑座和滑座基座之間設置回轉機構，兩個回轉機構相互垂直，從而可隨時微量調整X軸(立柱縱向移動)和Y軸(橫臂橫向移動)、Y軸和Z軸(滑座升降移動)之間的垂直度。

采用上述方案后，使綜合檢測中心具有以可進行三坐標檢測、傳統直觀指示表檢測、刀具檢測和預調等優點。可廣泛適用于現場生產檢測，既取代了目前絕大部分生產現場采用普通量具進行尺寸測量、采用特定工裝進行某些形位公差測量的方式，克服了很多檢測項目難于實現、制作特定工裝成本高的限制，實現生產現場高效率的檢測，又同時兼顧了傳統直觀測量方式和當代先進坐標測量方式，具有操作簡便、普及性好的特點，大大提高企業的批量生產和檢測能力。

附圖說明

圖1為綜合檢測中心結構示意圖

圖2為綜合檢測中心右視圖

圖3為在工作臺上的輔助支承機構示意圖

圖4為在工作臺上的可調V型裝置示意圖